光学器件的信息处理方法技术

本申请提供一种光学器件的信息处理方法

【技术实现步骤摘要】
光学器件的信息处理方法、装置及存储介质


[0001]本申请涉及半导体激光器的信息处理
，具体涉及一种光学器件的信息处理方法
、
装置及存储介质
。

技术介绍

[0002]MES
系统
(Manufacturing Execution System
，生产执行系统
)
是一套面向制造企业车间执行层的生产信息化管理系统，
MES
可以为企业提供生产信息等管理模块，实现信息化和数字化
。
[0003]在半导体激光器的生产管理中，光学器件的售后服务也是重要一环，而在售后服务中，关于光学器件的参数信息处理，对于企业和客户来说，尤为重要
。
目前针对光学器件的信息处理中，一般是在光学器件出现售后时，光学器件的参数信息由售后工作人员进行手动记录，然而，光学器件的参数信息的管理都是通过线下邮件传递和线下整理的，此种处理方式需要浪费大量人力进行光学器件的物料分析整理，效率低下，不利于光学器件的参数信息的管理
。

技术实现思路

[0004]本申请提供一种光学器件的信息处理方法
、
装置及存储介质，旨在提高对光学器件的返修信息的精准性，便于加强对光学器件的售后服务的管理
。
[0005]一方面，本申请提供一种光学器件的信息处理方法，应用于
MES
系统，所述
MES
系统配置有光学器件数据库，所述光学器件数据库包括多个光学器件数据表，所述光学器件的信息处理方法包括：
[0006]接收针对进行返修的光学器件中自制件的物料信息的处理指令，所述处理指令携带有所述自制件的至少一个物料标识
、
及对应的物料信息数据表的表标识，所述表标识对应的物料信息数据表包括所述物料标识对应的物料数量
、
物料参数信息
、
多条售后核验信息
、
及核验规则，每条售后核验信息对应一个核验规则，所述物料信息数据表是基于所述光学器件数据库中的至少两个光学器件数据表进行关联处理得到；
[0007]按照所述售后核验信息对应的所述核验规则，对所述物料信息数据表中的所述多条售后核验信息进行核验，生成各个物料标识对应的核验结果；
[0008]在所述核验结果为通过的情况下，根据对应的所述物料标识的物料数量和所述物料参数信息确定所述光学器件的返修信息，以供所述
MES
系统将所述返修信息记录至返修报表中，并将所述返修报表反馈至与所述
MES
系统通信连接的
SAP
系统
。
[0009]在本申请一种可能的实现方式中，在所述接收针对进行返修的光学器件中自制件的物料信息的处理指令之前，还包括：
[0010]采集对所述自制件进行拆解后的自制件物料图片；
[0011]采用基于深度学习的物料识别模型对所述自制件物料图片进行识别，得到识别结果数据，所述识别结果数据包括物料标识
、
对应的物料数量；
[0012]将所述物料标识对应的物料作为目标物料，获取所述目标物料的物料参数信息
、
多条售后核验信息
、
及核验规则；
[0013]基于所述目标物料的物料参数信息
、
多条售后核验信息
、
及核验规则构建物料信息数据表，所述物料信息数据表包括表级物料信息数据表和字段级物料信息数据表；所述表级物料信息数据表包括物料标识和第一表标识，且所述物料标识与所述第一表标识组合为所述表级物料信息数据表对应的唯一索引；
[0014]所述字段级物料信息数据表包括物料标识
、
第二表标识
、
物料数量
、
多条售后核验信息
、
及核验规则，且所述物料标识与所述第二表标识组合为所述字段级物料信息数据表对应的唯一索引
。
[0015]在本申请一种可能的实现方式中，所述物料识别模型包括物料分割器
、
物料分类器
、
电学物料识别模型和光学物料识别模型；所述采用基于深度学习的物料识别模型对所述自制件物料图片进行识别，得到识别结果数据，包括
:
[0016]将所述自制件物料图片输入所述物料分割器，得到多个物料区域图片；
[0017]将多个物料区域图片输入所述物料分类器，将识别到所述物料区域图片中的自制件物料为电学物料对应的物料区域图片，输入所述电学物料识别模型，将识别到所述物料区域图片中的自制件物料为光学物料对应的物料区域图片，输入所述光学物料识别模型，获取各自输出的结果数据；
[0018]根据多个所述结果数据确定所述识别结果数据
。
[0019]在本申请一种可能的实现方式中，所述光学器件数据库还包括：预设自制件物料中序列号与物料标识的映射关系表，所述映射关系表用于记录所述物料标识与所述序列号的对应关系；
[0020]在所述接收针对进行返修的光学器件中自制件的物料信息的处理指令之前，还包括：
[0021]获取对所述自制件进行拆解后的自制件物料对应的序列号；
[0022]根据所述映射关系表和所述自制件物料对应的序列号，确定各个序列号对应的物料标识；
[0023]对所述物料标识进行统计，得到识别结果，所述识别结果包括物料标识
、
对应的物料数量
。
[0024]在本申请一种可能的实现方式中，所述物料信息数据表是基于所述光学器件数据库中的至少两个光学器件数据表进行关联处理得到，包括
:
根据所述物料标识，分别从所述表级物料信息数据表和所述字段级物料信息数据表中获取对应的第一子数据表和第二子数据表；
[0025]将所述第一子数据表和所述第二子数据表进行关联，得到所述物料信息数据表
。
[0026]在本申请一种可能的实现方式中，所述售后核验信息包括报价状态和发货信息，所述报价状态分为首次报价和非首次报价，所述发货信息包括发货时间；所述核验规则包括质保期检测规则和重复报价检测规则；
[0027]按照所述售后核验信息对应的所述核验规则，对所述物料信息数据表中的所述多条售后核验信息进行核验，生成各个物料标识对应的核验结果，包括：
[0028]利用所述质保期检测规则对所述发货时间进行核验，得到第一核验结果；
[0029]利用所述重复报价检测规则对所述报价状态进行核验，得到第二核验结果；
[0030]根据所述第一核验结果和所述第二核验结果确定所述核验结果
。
[0031]在本申请一种可能的实现方式中，所述将所述返修报表反馈至与所述
MES
系统通信连接的
SAP
系统，包括：
[0032]通过所述
MES
系统调用实时接口，将所述返修报表反馈至...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种光学器件的信息处理方法，其特征在于，应用于
MES
系统，所述
MES
系统配置有光学器件数据库，所述光学器件数据库包括多个光学器件数据表，所述光学器件的信息处理方法包括：接收针对进行返修的光学器件中自制件的物料信息的处理指令，所述处理指令携带有所述自制件的至少一个物料标识
、
及对应的物料信息数据表的表标识，所述表标识对应的物料信息数据表包括所述物料标识对应的物料数量
、
物料参数信息
、
多条售后核验信息
、
及核验规则，每条售后核验信息对应一个核验规则，所述物料信息数据表是基于所述光学器件数据库中的至少两个光学器件数据表进行关联处理得到；按照所述售后核验信息对应的所述核验规则，对所述物料信息数据表中的所述多条售后核验信息进行核验，生成各个物料标识对应的核验结果；在所述核验结果为通过的情况下，根据对应的所述物料标识的物料数量和所述物料参数信息确定所述光学器件的返修信息，以供所述
MES
系统将所述返修信息记录至返修报表中，并将所述返修报表反馈至与所述
MES
系统通信连接的
SAP
系统
。2.
如权利要求1所述的光学器件的信息处理方法，其特征在于，在所述接收针对进行返修的光学器件中自制件的物料信息的处理指令之前，还包括：采集对所述自制件进行拆解后的自制件物料图片；采用基于深度学习的物料识别模型对所述自制件物料图片进行识别，得到识别结果数据，所述识别结果数据包括物料标识
、
对应的物料数量；将所述物料标识对应的物料作为目标物料，获取所述目标物料的物料参数信息
、
多条售后核验信息
、
及核验规则；基于所述目标物料的物料参数信息
、
多条售后核验信息
、
及核验规则构建物料信息数据表，所述物料信息数据表包括表级物料信息数据表和字段级物料信息数据表；所述表级物料信息数据表包括物料标识和第一表标识，且所述物料标识与所述第一表标识组合为所述表级物料信息数据表对应的唯一索引；所述字段级物料信息数据表包括物料标识
、
第二表标识
、
物料数量
、
多条售后核验信息
、
及核验规则，且所述物料标识与所述第二表标识组合为所述字段级物料信息数据表对应的唯一索引
。3.
如权利要求2所述的光学器件的信息处理方法，其特征在于，所述物料识别模型包括物料分割器
、
物料分类器
、
电学物料识别模型和光学物料识别模型；所述采用基于深度学习的物料识别模型对所述自制件物料图片进行识别，得到识别结果数据，包括
:
将所述自制件物料图片输入所述物料分割器，得到多个物料区域图片；将多个物料区域图片输入所述物料分类器，将识别到所述物料区域图片中的自制件物料为电学物料对应的物料区域图片，输入所述电学物料识别模型，将识别到所述物料区域图片中的自制件物料为光学物料对应的物料区域图片，输入所述光学物料识别模型，获取各自输出的结果数据；根据多个所述结果数据确定所述识别结果数据
。4.
如权利要求1所述的光学器件的信息处理方法，其特征在于，所述光学器件数据库还包括：预设自制件物料中序列号与物料标识的映射关系表，所述映射关系表用于记录所述物料标识与所述序列号的对应关系；
在所述接收针对进行返修的光学器件中自制件的物料信息的处理指令...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹磊，胡灿，李华英，林雨晴，李岩，汪锴，范灿，
申请(专利权)人：武汉锐科光纤激光技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：