用于设计测试电路的方法和电子设备技术

本公开涉及一种用于设计测试电路的方法

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：王泽中，黄宇，张威威，王乃行，李鹏举，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：