一种芯片检测置物盒及芯片检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种芯片检测置物盒及芯片检测装置，属于芯片检测技术领域，芯片检测置物盒，包括总框体，总框体内设有若干个芯片置物盒，每个芯片置物盒内均开设有用于放置芯片的放置腔，每个放置腔内均固定连接有四个支撑块；芯片检测装置，包括支撑座，支撑座上固定连接有支撑杆，支撑杆上滑动连接有检测部

【技术实现步骤摘要】
一种芯片检测置物盒及芯片检测装置


[0001]本技术涉及芯片检测
，具体为一种芯片检测置物盒及芯片检测装置
。

技术介绍

[0002]在芯片生产制造过程中，各工艺流程环环相扣，技术复杂，材料
、
环境
、
工艺参数等因素的微变常导致芯片产生缺陷，影响产品良率
。
芯片质量检测作为芯片生产线中的关键环节，可以积极地反馈产品质量信息，以便人们及时掌控各生产环节的健康状况，促使质量检测技术在生产线中的作用越来越凸显，所以芯片检测置物盒和芯片检测装置尤为重要
。
[0003]中国专利
(
公开号为
CN214844849U)
公开了一种芯片检测置物盒及芯片检测装置，并具体公开了芯片检测置物盒，包括：装载部，装载部用于装载芯片；装载部设置有多个连接框；多个连接框贯穿于装载部；底座，底座设置有多个突起，在装载部设置在底座上的情况下，多个突起用于穿过多个连接框，将芯片的一端顶起，从而便于使用检测工具对芯片进行目检，如此设置，在对芯片进行目检的时候，减少了人工移动芯片的次数，提高了对芯片目检的效率，同时避免了芯片被破坏，减少了芯片被二次污染的风险
。
[0004]上述技术方案通过设置多个突起将芯片顶起，达到了可以批量的对芯片进行目检，减少人工移动芯片的次数，提高对芯片目检的效率的效果
。
但是，上述芯片检测置物盒在使用中，突起将芯片的一端顶起使得芯片呈倾斜状，使得芯片可能由于摩擦发生损坏，所以我们需要一种芯片检测置物盒及芯片检测装置来解决上述问题
。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供一种芯片检测置物盒及芯片检测装置，具备芯片不易损坏的优点，解决了
技术介绍
中提出的问题
。
[0006]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0007]一种芯片检测置物盒，包括总框体，所述总框体内设有若干个芯片置物盒，每个所述芯片置物盒内均开设有用于放置芯片的放置腔，每个所述放置腔内均固定连接有四个支撑块，每个所述放置腔内均开设有滑槽并通过滑槽滑动连接有控制块，每个所述控制块的顶面均与对应的芯片相接触，每个所述芯片置物盒内均开设有空心槽，所述空心槽内滑动连接有配合块，所述空心槽内设有用于方便将芯片拿取和检测的配合机构
。
[0008]优选的，所述配合机构包括有固定连接在空心槽内的第一限位块和第二限位块，所述第一限位块上滑动连接有竖直铰杆，所述第二限位块上滑动连接有水平铰杆，所述竖直铰杆与配合块固定连接，所述水平铰杆上固定连接有楔块，所述楔块与控制块的底部相抵
。
[0009]优选的，所述配合机构还包括有斜铰杆，所述斜铰杆与竖直铰杆远离配合块的一端通过销轴铰接，所述斜铰杆远离竖直铰杆的一端与水平铰杆远离楔块的一端通过销轴铰接
。
[0010]优选的，所述配合机构还包括有第一弹簧和第二弹簧，所述第一弹簧套接在竖直铰杆上，所述第一弹簧的两端分别与配合块和第一限位块固定连接，所述第二弹簧套接在水平铰杆上，所述第二弹簧的两端分别与楔块和第二限位块固定连接
。
[0011]优选的，所述放置腔上设有用于对芯片进行限位的限位机构，所述限位机构包括有开设在放置腔上的四个限位槽，每个所述限位槽上均滑动连接有卡块，所述配合块上固定连接有矩形框，所述矩形框上开设有斜面，所述矩形框通过斜面与卡块相抵
。
[0012]优选的，所述限位机构还包括有固定连接在卡块上的连接块，所述连接块上固定连接有第三弹簧，所述第三弹簧远离连接块的一端与限位槽固定连接
。
[0013]一种芯片检测装置，包括芯片检测置物盒
。
[0014]优选的，包括支撑座，所述支撑座上固定连接有支撑杆，所述支撑杆上滑动连接有检测部，所述检测部上设有目镜，所述检测部上固定连接有配合杆，所述配合杆与配合块相配合
。
[0015]优选的，所述支撑杆上固定连接有固定块，所述固定块上固定连接有电动推杆，所述电动推杆的输出端与检测部固定连接
。
[0016]与现有技术相比，本技术的有益效果如下：
[0017]1、
本技术通过芯片检测置物盒整体结构的配合，达到了在需要将芯片拿取或检测时，控制块带动芯片向上滑动，使得便于人工拿取或检测，避免了在拿取或检测时，芯片发生损坏；且卡块对芯片进行限位，避免了在移动芯片检测置物盒时，芯片移动发生损坏的效果
。
[0018]2、
本技术通过芯片检测装置整体结构的配合，达到了方便目镜观察检测芯片，同时在对芯片检测时，卡块滑动至限位槽内，从而不会对芯片进行阻挡，使得可对芯片进行完整检测的效果
。
附图说明
[0019]图1为本技术芯片检测置物盒整体结构的示意图；
[0020]图2为本技术芯片置物盒的结构示意图；
[0021]图3为本技术芯片置物盒的剖面结构示意图；
[0022]图4为本技术配合机构的结构示意图；
[0023]图5为本技术限位机构的结构示意图；
[0024]图6为本技术限位机构的爆炸结构示意图；
[0025]图7为本技术芯片检测置物盒和芯片检测装置的结构示意图
。
[0026]图中：
1、
芯片置物盒；
11、
放置腔；
12、
支撑块；
13、
空心槽；
14、
配合块；
15、
第一限位块；
16、
第二限位块；
17、
总框体；
2、
竖直铰杆；
21、
第一弹簧；
22、
斜铰杆；
23、
水平铰杆；
24、
第二弹簧；
25、
楔块；
26、
控制块；
3、
卡块；
31、
矩形框；
32、
第三弹簧；
33、
连接块；
34、
限位槽；
4、
支撑座；
41、
支撑杆；
42、
固定块；
43、
电动推杆；
44、
检测部；
45、
目镜；
46、
配合杆
。
具体实施方式
[0027]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的
实施例
。
基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得所有其他实施例，都属于本技术保护的范围
。
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种芯片检测置物盒，包括总框体（
17
），所述总框体（
17
）内设有若干个芯片置物盒（1），每个所述芯片置物盒（1）内均开设有用于放置芯片的放置腔（
11
），每个所述放置腔（
11
）内均固定连接有四个支撑块（
12
），其特征在于：每个所述放置腔（
11
）内均开设有滑槽并通过滑槽滑动连接有控制块（
26
），每个所述控制块（
26
）的顶面均与对应的芯片相接触，每个所述芯片置物盒（1）内均开设有空心槽（
13
），所述空心槽（
13
）内滑动连接有配合块（
14
），所述空心槽（
13
）内设有用于方便将芯片拿取和检测的配合机构；所述放置腔（
11
）上设有用于对芯片进行限位的限位机构，所述限位机构包括有开设在放置腔（
11
）上的四个限位槽（
34
），每个所述限位槽（
34
）上均滑动连接有卡块（3），所述配合块（
14
）上固定连接有矩形框（
31
），所述矩形框（
31
）上开设有斜面，所述矩形框（
31
）通过斜面与卡块（3）相抵；所述限位机构还包括有固定连接在卡块（3）上的连接块（
33
），所述连接块（
33
）上固定连接有第三弹簧（
32
），所述第三弹簧（
32
）远离连接块（
33
）的一端与限位槽（
34
）固定连接
。2.
根据权利要求1所述的一种芯片检测置物盒，其特征在于：所述配合机构包括有固定连接在空心槽（
13
）内的第一限位块（
15
）和第二限位块（
16
），所述第一限位块（
15
）上滑动连接有竖直铰杆（2），所述第二限位块（
16
）上滑动连接有水平铰杆（
23
），所述竖直铰杆（2）与配合块（
14
）固定连接，所述水平铰杆（
23
）上固定连接有楔块（
25
），所述楔块（<...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪释怀，
申请(专利权)人：贵州安芯电子有限公司，
类型：新型
国别省市：