激光测距传感器及同轴光学系统技术方案

本发明专利技术公开一种激光测距传感器及同轴光学系统

【技术实现步骤摘要】
激光测距传感器及同轴光学系统


[0001]本专利技术涉及激光测距
，特别涉及一种激光测距传感器及同轴光学系统
。

技术介绍

[0002]目前常用的
1550nm
激光测距传感器，具备抗干扰能力强
、
信噪比高
、
抗恶劣环境
、
测距距离远等优点，越来越受到欢迎
。1550nm
激光测距传感器中的测量光使用的是
1550nm
，属于红外光，人眼看不到，这就会给激光测距传感器带来难安装
、
难校准的问题
。

技术实现思路

[0003]本专利技术的主要目的是提出一种激光测距传感器，旨在提供一种便于安装以及校准的激光测距传感器
。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提出的一种激光测距传感器，包括：
[0005]可调发光器，所述可调发光器发出测量光，所述测量光为红外光；
[0006]可视发光器，所述可视发光器发出指示光，所述指示光为可见光；
[0007]第一耦合本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种激光测距传感器，其特征在于，包括：可调发光器，所述可调发光器发出测量光，所述测量光为红外光；可视发光器，所述可视发光器发出指示光，所述指示光为可见光；第一耦合器，所述可调发光器发出的测量光和所述可视发光器发出的指示光进入所述第一耦合器中合束，以形成同轴光束；环形器，所述环形器设于所述第一耦合器的出光侧，从所述第一耦合器射出的同轴光束射向所述环形器；透镜模组，所述透镜模组设于所述环形器远离所述第一耦合器的一侧，所述透镜模组包括至少两个透镜，从所述环形器射出的同轴光束依次穿过至少两个所述透镜，并用于射向待测物
。2.
如权利要求1所述的激光测距传感器，其特征在于，至少两个透镜至少包括第一透镜和第二透镜，所述第二透镜为胶合透镜，从所述环形器射出的同轴光束依次穿过所述第一透镜和所述第二透镜形成平行出射光束
。3.
如权利要求2所述的激光测距传感器，其特征在于，所述第一透镜具有背对设置的第一曲面和第二曲面；其中，定义所述第一曲面的曲率半径为
R1，则满足条件：
‑
50mm≤R1≤
‑
20mm
；和
/
或，定义所述第二曲面的曲率半径为
R2，则满足条件：
‑
30mm≤R2≤
‑
2mm。4.
如权利要求2所述的激光测距传感器，其特征在于，定义所述第一透镜的中心厚度为
W1，则满足条件：
1mm≤W1≤4mm。5.
如权利要求2所述的激光测距传感器，其特征在于，所述第二透镜具有沿同轴光束的出射方向依次设置的第三曲面
、
第四曲面以及第五曲面；其中，定义所述第三曲面的曲率半径为
R3，则满足条件：
30mm≤R3≤60mm
；和
/
或，定义所述第四曲面的曲率半径为
R4，则满足条件：
‑
30mm≤R4≤
‑
10mm
；和
...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯献飞，丁康康，
申请(专利权)人：苏州汇川控制技术有限公司，
类型：发明
国别省市：