一种伸展区走滑活动期次的量化方法技术

本申请公开一种伸展区走滑活动期次的量化方法

【技术实现步骤摘要】
一种伸展区走滑活动期次的量化方法、装置和设备


[0001]本申请属于地质勘探
，尤其涉及一种伸展区走滑活动期次的量化方法
、
装置和设备
。

技术介绍

[0002]走滑断层是一种常见的扭动构造，与盆地形成演化
、
工程地质和油气富集密切相关
。
在
CO2地质封存
、
油气地址勘探和工程地质中，常因走滑活动期次不明，影响科学家们对工区的基础地质认识，从而影响工程建设
。
现有技术中判断走滑活动的期次的方法断层与地层切割关系法和古应力环境分析法等等，但是，由于伸展区的伸展活动会导致先存的走滑断层复活并发育旁侧分支断层，使得这些方法并不能精准判断伸展区的走滑活动的期次
。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本申请提供一种伸展区走滑活动期次的量化方法
、
装置和设备，以用于解决现有的走滑活动的期次判断方法中不能精准判断判断伸展区的走滑活动的期次的问题
。
[0004]为解决上述问题，本申请提供如下方案：
[0005]一种伸展区走滑活动期次的量化方法，包括：
[0006]获取目标伸展区的分析资料；
[0007]依据所述分析资料，确定所述目标伸展区中雁列式正断层的第一地层厚度和区域性正断层的第二地层厚度；
[0008]依据所述第一地层厚度和所述第二地层厚度，计算得到所述雁列式正断层对应的第一生长指数和所述区域性正断层对应的第二生长指数；<br/>[0009]分析所述第一生长指数和所述第二生长指数，所述生长指数用于表征走滑活动的强弱，结合所述目标伸展区的区域地质背景参数，确定所述目标伸展区的走滑活动期次
。
[0010]可选的，所述获取目标伸展区的分析资料，包括：
[0011]获取所述目标伸展区的走滑断层平面分布图和典型剖面图；所述走滑断层平面分布图用于表征所述目标伸展区的分布范围和构造特征；所述典型剖面图用于表征所述目标伸展区的走滑断层纵向切割层位
。
[0012]可选的，所述依据所述分析资料，确定所述目标伸展区中雁列式正断层的第一地层厚度和区域性正断层的第二地层厚度，包括：
[0013]分析所述走滑断层平面分布图和所述典型剖面图；
[0014]绘制所述目标伸展区中雁列式正断层的第一地层厚度图，所述第一地层厚度图中包括所述雁列式正断层的第一上升盘厚度和第一下降盘厚度；
[0015]绘制所述目标伸展区中区域性正断层的第二地层厚度图，所述第二地层厚度图中包括所述区域性正断层的第二上升盘厚度和第二下降盘厚度
。
[0016]可选的，所述依据所述第一地层厚度和所述第二地层厚度，计算得到所述雁列式正断层对应的第一生长指数和所述区域性正断层对应的第二生长指数，包括：
[0017]用所述第一下降盘厚度比所述第一上升盘厚度，得到所述第一生长指数，依据所述第一生长指数绘制所述雁列式正断层的第一生长指数散点图；
[0018]用所述第二下降盘厚度比所述第二上升盘厚度，得到所述第二生长指数，依据所述第二生长指数绘制所述区域性正断层的第二生长指数散点图
。
[0019]可选的，所述分析所述第一生长指数和所述第二生长指数，所述生长指数用于表征走滑活动的强弱，结合所述目标伸展区的区域地质背景参数，确定所述目标伸展区的走滑活动期次，包括：
[0020]对比分析所述第一生长指数散点图和所述第二生长指数散点图，结合所述目标伸展区的区域地质背景参数，从地质年代表中确定所述伸展区的走滑活动期次
。
[0021]可选的，所述对比分析所述第一生长指数散点图和所述第二生长指数散点图，结合所述目标伸展区的区域地质背景参数，从地质年代表中确定所述伸展区的走滑活动期次，包括：
[0022]依据生长指数的预设阈值范围判断所述雁列式正断层和所述区域性正断层同一时间发生的走滑活动强弱，结合区域地质背景参数以及所述地质年代表，得到所述伸展区的走滑活动期次，所述预设阈值范围将走滑活动分为强走滑活动区
、
弱走滑活动区和无走滑活动区
。
[0023]一种伸展区走滑活动期次的量化装置，包括：
[0024]获取单元
、
第一分析确定单元
、
计算单元和第二分析确定单元；
[0025]所述获取单元，用于获取目标伸展区的分析资料；
[0026]所述第一分析确定单元，用于依据所述分析资料，确定所述目标伸展区中雁列式正断层的第一地层厚度和区域性正断层的第二地层厚度；
[0027]所述计算单元，用于依据所述第一地层厚度和所述第二地层厚度，计算得到所述雁列式正断层对应的第一生长指数和所述区域性正断层对应的第二生长指数；
[0028]所述第二分析确定单元，用于分析所述第一生长指数和所述第二生长指数，所述生长指数用于表征走滑活动的强弱，结合所述目标伸展区的区域地质背景参数，确定所述目标伸展区的走滑活动期次
。
[0029]可选的，所述计算单元，用于：
[0030]用所述第一下降盘厚度比所述第一上升盘厚度，得到所述第一生长指数，依据所述第一生长指数绘制所述雁列式正断层的第一生长指数散点图；
[0031]用所述第二下降盘厚度比所述第二上升盘厚度，得到所述第二生长指数，依据所述第二生长指数绘制所述区域性正断层的第二生长指数散点图
。
[0032]可选的，所述第二分析确定单元，用于：
[0033]依据生长指数的预设阈值范围判断所述雁列式正断层和所述区域性正断层同一时间发生的走滑活动强弱，结合区域地质背景参数以及所述地质年代表，得到所述伸展区的走滑活动期次，所述预设阈值范围将走滑活动分为强走滑活动区
、
弱走滑活动区和无走滑活动区
。
[0034]一种伸展区走滑活动期次的量化设备，包括存储器和处理器；
[0035]所述存储器用于存储指令；
[0036]所述处理器用于执行所述存储器中存储的指令，以实现上文任一项所述的伸展区走滑活动期次的量化方法
。
[0037]由以上方案可知，本申请公开的伸展区走滑活动期次的量化方法
、
装置和设备，获取并分析目标伸展区的分析资料，得到目标伸展区中雁列式正断层的第一地层厚度和区域性正断层的第二地层厚度，依据第一地层厚度得到雁列式正断层对应的第一生长指数，依据第二地层厚度得到区域性正断层对应的第二生长指数，分析第一生长指数和第二生长指数，结合目标伸展区的区域地质背景参数，确定目标伸展区的走滑活动期次，本申请通过采用对比分析雁列式正断层的第一生长指数和区域性正断层的第二生长指数，利用生长指数能够表征走滑活动强弱的特性，结合目标伸展区的区域地质背景参数，精准判断目标伸展区的走滑活动期次，解决了现有的走滑活动的期次判断方法中不能精准判断伸展区的走滑活动的期次的问本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种伸展区走滑活动期次的量化方法，其特征在于，包括：获取目标伸展区的分析资料；依据所述分析资料，确定所述目标伸展区中雁列式正断层的第一地层厚度和区域性正断层的第二地层厚度；依据所述第一地层厚度和所述第二地层厚度，计算得到所述雁列式正断层对应的第一生长指数和所述区域性正断层对应的第二生长指数；分析所述第一生长指数和所述第二生长指数，所述生长指数用于表征走滑活动的强弱，结合所述目标伸展区的区域地质背景参数，确定所述目标伸展区的走滑活动期次
。2.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取目标伸展区的分析资料，包括：获取所述目标伸展区的走滑断层平面分布图和典型剖面图；所述走滑断层平面分布图用于表征所述目标伸展区的分布范围和构造特征；所述典型剖面图用于表征所述目标伸展区的走滑断层纵向切割层位
。3.
根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述依据所述分析资料，确定所述目标伸展区中雁列式正断层的第一地层厚度和区域性正断层的第二地层厚度，包括：分析所述走滑断层平面分布图和所述典型剖面图；绘制所述目标伸展区中雁列式正断层的第一地层厚度图，所述第一地层厚度图中包括所述雁列式正断层的第一上升盘厚度和第一下降盘厚度；绘制所述目标伸展区中区域性正断层的第二地层厚度图，所述第二地层厚度图中包括所述区域性正断层的第二上升盘厚度和第二下降盘厚度
。4.
根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述依据所述第一地层厚度和所述第二地层厚度，计算得到所述雁列式正断层对应的第一生长指数和所述区域性正断层对应的第二生长指数，包括：用所述第一下降盘厚度比所述第一上升盘厚度，得到所述第一生长指数，依据所述第一生长指数绘制所述雁列式正断层的第一生长指数散点图；用所述第二下降盘厚度比所述第二上升盘厚度，得到所述第二生长指数，依据所述第二生长指数绘制所述区域性正断层的第二生长指数散点图
。5.
根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述分析所述第一生长指数和所述第二生长指数，所述生长指数用于表征走滑活动的强弱，结合所述目标伸展区的区域地质背景参数，确定所述目标伸展区的走滑活动期次，包括：对比分析所述第一生长指数散点图和所述第二生长指数散点图，结合所述目标伸展区的区域地质背景参数，从地质年代表中确定所述伸展区的走滑活动期次
。6.
根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁浩伟，张健，朱明宇，荆铁亚，刘练波，高文，李文辉，
申请(专利权)人：华能庆阳煤电有限责任公司，
类型：发明
国别省市：