一种提高检测效率的芯片引脚整形装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及芯片检测装置技术领域，且公开了一种提高检测效率的芯片引脚整形装置，包括主体机构

【技术实现步骤摘要】
一种提高检测效率的芯片引脚整形装置


[0001]本专利技术涉及芯片检测装置
，具体为一种提高检测效率的芯片引脚整形装置
。

技术介绍

[0002]随着电子技术的高速发展，集成电路的引脚间距更加微小密集，芯片在组装测试过程中，由于芯片的两个引脚处于相对活动的状态，有时候会出现弯折或者偏移的情况，造成整个线路板无法正常使用，返工费时费力，因此在对芯片进行检测之前，往往需要对芯片的引脚进行整形，以统一芯片的两个引脚位置
。
[0003]根据中国专利公开号
CN 206672904 U
提出的
《
贴片芯片引脚整形装置
》
，包括：一底板，一立柱，该立柱垂直设置于底板上；一把手，该把手的一端与立柱的远离所述底板的另一端铰接；一上模，该上模通过一连杆与所述把手连接；其中，连杆的两端分别与上模的中间位置以及把手上距离把手与立柱连接处一指定距离的位置铰接；一下模，该下模设置于上模垂直下方的底板上；导柱，其数量为2，其分别设置于下模的两端，且分别一端垂直固定于底板上，另一端穿过上模上设置的导向孔与上模滑动连接；每个导柱上套设有使上模复位的弹簧；其中，下模上每间隔一指定距离设置一下模凸起；上模上对应设置有一上模开口槽
。
本申请可以实现对芯片引脚的精确
、
方便
、
快捷的整形
。
[0004]但是，上述装置对芯片引脚整形效率较低，需要人工进行芯片引脚整形，然后再进行芯片检测，影响芯片生产效率，实用性较差的问题
。

技术实现思路

[0005]针对上述技术不足，本专利技术的目的在于提供提高检测效率的芯片引脚整形装置，通过转盘带动放置夹具上方的芯片到达整形夹具进行整形，在到检测夹具进行检测，提高提高芯片引脚整形效率和提高芯片检测效率的效果
。
[0006]为了解决上述技术问题，本专利技术提供如下技术方案：一种提高检测效率的芯片引脚整形装置，包括主体机构
、
检测机构
、
整形机构
、
上料机构和清灰机构，所述主体机构上方固定连接有检测机构，所述检测机构两侧设置有整形机构和上料机构，所述主体机构上方安装有清灰机构；所述主体机构包括框体
、
第一电机
、
转盘和放置夹具，所述框体下方固定连接有第一电机，所述第一电机输出轴固定连接有转盘，所述转盘上方固定连接有放置夹具；所述检测机构包括检测架
、
第二电机
、
丝杆
、
检测板
、
检测夹具
、
探针和芯片检测器，所述检测架上方固定连接有第二电机，所述第二电机输出轴固定连接有丝杆，所述丝杆表面螺纹连接有检测板，所述检测板下方固定连接有检测夹具，所述检测夹具内壁固定连接有探针，所述探针上方电线连接有芯片检测器；所述整形机构包括整形架
、
液压缸
、
压板
、
整形夹具和限位杆，所述整形架上方固定连接有液压缸，所述液压缸下方固定连接有压板，所述压板下方固定连接有整形夹具，所
述压板上方固定连接有限位杆；所述上料机构包括上料架
、
第三电机
、
翻转杆
、
气缸
、
吸板
、
真空吸盘和通气管，所述上料架上方内壁固定连接有第三电机，所述第三电机输出轴固定连接有翻转杆，所述翻转杆上方固定连接有气缸，所述气缸下方固定连接有吸板，所述吸板下方固定连接有真空吸盘，所述真空吸盘上方固定连接有通气管；所述清灰机构包括清灰块
、
连接管
、
灰尘箱
、
引风机和过滤箱，所述清灰块前端固定连接有连接管，所述连接管一端固定连接有灰尘箱，所述灰尘箱下方固定连接有引风机，所述灰尘箱前端滑动连接有过滤箱
。
[0007]通过上述技术方案，通过上料机构将芯片放置在放置夹具表面，弹簧带动夹板，使夹板接触芯片无引脚的两侧，对芯片进行固定，第一电机带动转盘，转盘在带动放置夹具上方的芯片到达整形夹具下方，液压缸带动压板向下移动，压板带动整形夹具向下移动，使整形夹具与放置夹具重合，对放置夹具上方的芯片引脚进行整形，转盘在带动放置夹具上方的芯片到达检测夹具下方，第二电机带动丝杆转动，丝杆转动带动检测板向下，检测板带动检测夹具向下，使检测夹具与放置夹具重合，检测夹具内部的探针接触芯片引脚，通过芯片检测器带动探针对芯片进行检测，在通过上料机构进行下料，达到无需人工，提高芯片引脚整形效率，同时提高芯片检测效率的效果
。
[0008]优选的，所述放置夹具环形阵列在转盘上方，所述转盘上方开设有限位凹槽，所述转盘上方开设的限位凹槽内壁固定连接有弹簧，所述弹簧一端固定连接有夹板
。
[0009]优选的，所述检测架固定连接在框体上方，所述丝杆转动连接在检测架内壁，所述检测板后方滑动卡合在检测架内壁
。
[0010]优选的，所述芯片检测器固定连接在检测板上方，所述探针阵列在检测夹具下方，所述检测夹具与放置夹具相互适配
。
[0011]优选的，所述整形架固定连接在框体上方，所述限位杆滑动连接在整形架上方，所述整形夹具与放置夹具相互适配
。
[0012]优选的，所述上料架固定连接在框体上方，所述框体上方开设有成品放置区和上料区用于放置芯片
。
[0013]优选的，所述通气管一端连接有真空源，所述通气管为空心，所述通气管滑动连接在翻转杆内壁
。
[0014]优选的，所述清灰块固定连接在框体上方，所述清灰块下方后端开设有清灰孔
。
[0015]优选的，所述灰尘箱固定连接在框体下方，所述过滤箱下方表面开设有过滤孔
。
[0016]与现有技术相比，本专利技术所达到的有益效果是：第一
、
本专利技术通过上料机构将芯片放置在放置夹具表面，弹簧带动夹板，使夹板接触芯片无引脚的两侧，对芯片进行固定，第一电机带动转盘，转盘在带动放置夹具上方的芯片到达整形夹具下方，液压缸带动压板向下移动，压板带动整形夹具向下移动，使整形夹具与放置夹具重合，对放置夹具上方的芯片引脚进行整形，转盘在带动放置夹具上方的芯片到达检测夹具下方，第二电机带动丝杆转动，丝杆转动带动检测板向下，检测板带动检测夹具向下，使检测夹具与放置夹具重合，检测夹具内部的探针接触芯片引脚，通过芯片检测器带动探针对芯片进行检测，在通过上料机构进行下料，达到无需人工，提高芯片引脚整形效率，同时提高芯片检测效率的效果
。
[0017]第二
、
本专利技术通过第三电机带动翻转杆进行翻转，使其到达成品放置区和上料区进行芯片拿放，然后翻转杆移动到放置夹具上方，使气缸带动吸板向下，使吸板带动真空吸盘向下，使真空吸盘接触放置夹具上方的芯片，向真空吸盘提供真空，吸附芯片，在回收本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种提高检测效率的芯片引脚整形装置，包括主体机构（1）
、
检测机构（2）
、
整形机构（3）
、
上料机构（4）和清灰机构（5），其特征在于：所述主体机构（1）上方固定连接有检测机构（2），所述检测机构（2）两侧设置有整形机构（3）和上料机构（4），所述主体机构（1）上方安装有清灰机构（5）；所述主体机构（1）包括框体（
11
）
、
第一电机（
12
）
、
转盘（
13
）和放置夹具（
14
），所述框体（
11
）下方固定连接有第一电机（
12
），所述第一电机（
12
）输出轴固定连接有转盘（
13
），所述转盘（
13
）上方固定连接有放置夹具（
14
）；所述检测机构（2）包括检测架（
21
）
、
第二电机（
22
）
、
丝杆（
23
）
、
检测板（
24
）
、
检测夹具（
25
）
、
探针（
26
）和芯片检测器（
27
），所述检测架（
21
）上方固定连接有第二电机（
22
），所述第二电机（
22
）输出轴固定连接有丝杆（
23
），所述丝杆（
23
）表面螺纹连接有检测板（
24
），所述检测板（
24
）下方固定连接有检测夹具（
25
），所述检测夹具（
25
）内壁固定连接有探针（
26
），所述探针（
26
）上方电线连接有芯片检测器（
27
）；所述整形机构（3）包括整形架（
31
）
、
液压缸（
32
）
、
压板（
33
）
、
整形夹具（
34
）和限位杆（
35
），所述整形架（
31
）上方固定连接有液压缸（
32
），所述液压缸（
32
）下方固定连接有压板（
33
），所述压板（
33
）下方固定连接有整形夹具（
34
），所述压板（
33
）上方固定连接有限位杆（
35
）；所述上料机构（4）包括上料架（
41
）
、
第三电机（
42
）
、
翻转杆（
43
）
、
气缸（
44
）
、
吸板（
45
）
、
真空吸盘（
46
）和通气管（
47
），所述上料架（
41
）上方内壁固定连接有第三电机（
42
），所述第三电机（
42
）输出轴固定连接有翻转杆（
43
），所述翻转杆（
43
）上方固定连接有气缸（
44
），所述气缸（
44
）下方固定连接有吸板（
45
），所述吸板（
45
）下方固定连接有真空吸盘（
46

【专利技术属性】
技术研发人员：杨子跃，刘涛，
申请(专利权)人：南京恒微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：