一种循环冗余校核的处理系统及处理方法技术方案

本发明专利技术提供了一种循环冗余校核的处理系统及处理方法，包括：总线模块，被配置为获取外部设备的待测数据，其中，待测数据包括待校验数据流与设置参数；循环冗余校核通道选择模块，其包括多个循环冗余校核接口通道，循环冗余校核接口通道被配置为通讯连接于总线模块，并根据设置参数选择对应的循环冗余校核接口通道接收待测数据；以及计算模块，被配置为通讯连接于循环冗余校核通道选择模块与总线模块之间，计算模块对待测数据进行处理，生成对应的循环冗余校验码，并将循环冗余校验码通过总线模块传输至外部设备

【技术实现步骤摘要】
一种循环冗余校核的处理系统及处理方法


[0001]本专利技术涉及集成电路领域，特别涉及一种循环冗余校核的处理系统及处理方法
。

技术介绍

[0002]循环冗余校核
(Cyclic Redundancy Check
，
CRC)
是一种根据网络数据包或电脑文件等数据产生简短固定位数校核码的快速算法
。CRC
主要用来检测或校核数据传输或者保存后可能出现的错误
。
目前的集成电路在计算
CRC
校验码的过程中，存在硬件资源消耗大等问题
。
因此，存在待改进之处
。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种循环冗余校核的处理系统及处理方法，以改善计算
CRC
校验码的过程中，存在硬件资源消耗大的问题
。
[0004]为解决上述技术问题，本专利技术是通过以下技术方案实现的：
[0005]本专利技术提供了一种循环冗余校核的处理系统，包括：
[0006]总线模块，被配置为获取外部设备的待测数据，其中，所述待测数据包括待校验数据流与设置参数；
[0007]循环冗余校核通道选择模块，其包括多个循环冗余校核接口通道，所述循环冗余校核接口通道被配置为通讯连接于所述总线模块，并根据所述设置参数选择对应的所述循环冗余校核接口通道接收所述待测数据；以及
[0008]计算模块，被配置为通讯连接于所述循环冗余校核通道选择模块与所述总线模块之间，所述计算模块对所述待测数据进行处理，生成对应的循环冗余校验码，并将所述循环冗余校验码通过所述总线模块传输至所述外部设备
。
[0009]在本专利技术一实施例中，所述循环冗余校核接口通道被配置为独立配置其配置参数，且不同所述循环冗余校核接口通道的配置参数相互独立
。
[0010]在本专利技术一实施例中，所述计算模块被配置为根据所述循环冗余校核接口通道内的配置参数对所述待校验数据流进行处理，以生成对应的循环冗余校验码
。
[0011]在本专利技术一实施例中，所述计算模块被配置为根据所述配置参数对所述待校验数据流进行重排序，以生成待校验字节序列
。
[0012]在本专利技术一实施例中，所述计算模块还被配置为根据历史结果或循环冗余初始值对所述待校验字节序列进行按位异或处理，生成异或字节序列，并对所述异或字节序列进行余数计算处理，以生成余数计算结果
。
[0013]在本专利技术一实施例中，所述计算模块还被配置为根据待校验数据流的字节个数，选取相应级数，以生成级数结果
。
[0014]在本专利技术一实施例中，所述计算模块还被配置为根据历史处理结果或循环冗余初始值，对所述级数结果进行处理，以生成循环冗余序列
。
[0015]在本专利技术一实施例中，所述计算模块还被配置为根据所述配置参数对所述循环冗
余序列进行重排序，以生成中间循环冗余序列
。
[0016]在本专利技术一实施例中，所述计算模块还被配置为根据所述配置参数对所述中间循环冗余序列进行处理，以生成循环冗余校验码
。
[0017]本专利技术还提供了一种循环冗余校核的处理方法，包括：
[0018]总线模块获取外部设备的待测数据，其中，所述待测数据包括待校验数据流与设置参数；
[0019]循环冗余校核通道选择模块根据所述设置参数选择对应的循环冗余校核接口通道，以将所述待测数据传输到计算模块中；
[0020]所述计算模块对所述待测数据进行处理，以生成对应的循环冗余校验码；
[0021]所述计算模块将所述循环冗余校验码通过所述总线模块传输至所述外部设备
。
[0022]如上所述，本专利技术提供一种循环冗余校核的处理系统及处理方法，通过采用多通道复用计算模块的方式，既可以实现多通道独立计算循环冗余校验码，有效节约硬件电路资源的开销，又可以支持任意组合的循环冗余的配置参数，泛用性强
。
同时，在总线模块内预先配置不同的配置参数，能够有效提升计算效率
。
[0023]当然，实施本专利技术的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点
。
附图说明
[0024]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图
。
[0025]图1为本专利技术一实施例中一种循环冗余校核的处理系统的示意图；
[0026]图2为本专利技术一实施例中一种循环冗余校核的处理方法的流程图；
[0027]图3为图2中步骤
S30
的流程图
。
[0028]图中：
100、
总线模块；
200、
循环冗余校核通道选择模块；
300、
计算模块；
400、
外部设备；
210、
循环冗余校核接口通道；
310、
集成电路板；
320、
计算芯片
。
具体实施方式
[0029]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例
。
基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围
。
[0030]请参阅图1，本专利技术提供了一种循环冗余校核的处理系统，其可应用于数据传输或者保存后产生的校验码是否存在问题的场景中，即循环冗余校核
(Cyclic Redundancy Check
，
CRC)
场景中
。
循环冗余校核的处理系统可包括总线模块
100、
循环冗余校核通道选择模块
200
以及计算模块
300。
其中，总线模块
100
可被配置为与外部设备
400
通讯连接，以获取需要校验的待校验数据流
。
外部设备
400
可以包括但不限于主机或主处理器
(CPU)
等
。
循环冗余校核通道选择模块
200
可被配置为与总线模块
100
通讯连接，可根据待校验数据流，选择对应的循环冗余校核接口通道
210。
计算模块
300
可以被配置为分别与总线模块
100、
循环
冗余校核通道选择模块
200
通讯连接，计算模块
300
可用以接收来自循环冗余校核接口通道
210...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种循环冗余校核的处理系统，其特征在于，包括：总线模块，被配置为获取外部设备的待测数据，其中，所述待测数据包括待校验数据流与设置参数；循环冗余校核通道选择模块，其包括多个循环冗余校核接口通道，所述循环冗余校核接口通道被配置为通讯连接于所述总线模块，并根据所述设置参数选择对应的所述循环冗余校核接口通道接收所述待测数据；以及计算模块，被配置为通讯连接于所述循环冗余校核通道选择模块与所述总线模块之间，所述计算模块对所述待测数据进行处理，生成对应的循环冗余校验码，并将所述循环冗余校验码通过所述总线模块传输至所述外部设备
。2.
根据权利要求1所述的循环冗余校核的处理系统，其特征在于，所述循环冗余校核接口通道被配置为独立配置其配置参数，且不同所述循环冗余校核接口通道的配置参数相互独立
。3.
根据权利要求1所述的循环冗余校核的处理系统，其特征在于，所述计算模块被配置为根据所述循环冗余校核接口通道内的配置参数对所述待校验数据流进行处理，以生成对应的循环冗余校验码
。4.
根据权利要求3所述的循环冗余校核的处理系统，其特征在于，所述计算模块被配置为根据所述配置参数对所述待校验数据流进行重排序，以生成待校验字节序列
。5.
根据权利要求4所述的循环冗余校核的处理系统，其特征在于，所述计算模块还被配置为根据历史结果或循环冗余初始值对所...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏阳平，
申请(专利权)人：上海先楫半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：