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本发明提供了一种循环冗余校核的处理系统及处理方法，包括：总线模块，被配置为获取外部设备的待测数据，其中，待测数据包括待校验数据流与设置参数；循环冗余校核通道选择模块，其包括多个循环冗余校核接口通道，循环冗余校核接口通道被配置为通讯连接于总线...
该专利属于上海先楫半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海先楫半导体科技有限公司授权不得商用。

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