【技术实现步骤摘要】
一种新型焊盘结构及降低散热焊盘焊接空洞的实现方法
[0001]本专利技术涉及芯片封装
,尤其是涉及一种新型焊盘结构及降低散热焊盘焊接空洞的实现方法
。
技术介绍
[0002]如果芯片(如
mos
管)的散热焊盘焊接后有大面积空洞,会导致
SOA
失效
。SOA
失效是指芯片在同时承受电压和电流的情况下,所产生的功耗不能及时散出来,所累积的热导致芯片结温超标,造成芯片热损坏
。
[0003]芯片散热焊盘常规的设计是正方体,如图
13
所示,
PCB
焊盘与芯片散热焊盘面积比为
1:1
,由于
PCB
焊盘与芯片散热焊盘都是平面,这种设计常常会由于回流焊过程中产生的挥发性气体不能顺利逸出而导致空洞
。
工艺为了解决这类问题,通常会采取下面2种方法:1)一般是将散热焊盘对应的钢网开孔分隔成多个方形(圆形,或者其他形状),如图
14
所示,印刷出来的钎料也是多个小正方体(或者其他形状)矩阵分布,如图
12
所示,目的是为回流焊过程中产生的挥发性气体提供逸出通道,但是由于达到钎料熔点时通道会迅速消失,但挥发性气体还会持续产生,一般空洞率会超过
30%
,严重的空洞率会在
50%
以上,
IPC
‑
610
标准要求不得超过
30%
,
QJ
‑< ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种新型焊盘结构,其特征在于:包括芯片(1)
、PCB
板(2)和钎料(3),所述
PCB
板(2)上设有
PCB
板圆形焊盘(2‑1),所述
PCB
板圆形焊盘(2‑1)上设有圆形的钎料(3),所述芯片(1)设置在圆形的钎料(3)上,通过回流焊将芯片(1)通过圆形凸起散热焊盘(1‑2)固定在
PCB
板圆形焊盘(2‑1)上
。2.
根据权利要求1所述的一种新型焊盘结构,其特征在于:所述芯片(1)由芯片本体(1‑1)和圆形凸起散热焊盘(1‑2)构成,圆形凸起散热焊盘(1‑2)设置在芯片本体(1‑1)中心处,所述圆形凸起散热焊盘(1‑2)由一体结构的下底面(1‑
21
)和上底面(1‑
22
)组成,所述下底面(1‑
21
)和上底面(1‑
22
)之间为一圈斜面(1‑
23
)
。3.
根据权利要求2所述的一种新型焊盘结构,其特征在于:所述圆形凸起散热焊盘(1‑2)下底面(1‑
21
)半径
R1是上底面(1‑
22
)半径
r1的
1/3~1/4
,圆形凸起散热焊盘(1‑2)高度为
0.1
±
0.02mm。4.
根据权利要求3所述的一种新型焊盘结构,其特征在于:所述
PCB
板圆形焊盘(2‑1)半径
R2大于圆形凸起散热焊盘(1‑2)的上底面(1‑
22
)半径
r1。5.
根据权利要求1所述的一种新型焊盘结构,其特征在于:所述圆形的钎料(3)由四个扇面式凸起钎料(3‑1)和数个圆形凸起钎料(3‑2)构成,沿
PCB
板圆形焊盘(2‑1)面的边缘处,间隔设有四个扇面式凸起钎料(3‑1),所述四个扇面式凸起钎料(3‑1)中心处设有一个圆形凸起钎料(3‑2),沿中心处圆形凸起钎料(3‑2)边缘处间隔设有...
【专利技术属性】
技术研发人员:石玉超,张文忠,何翔,宫玉超,王江坤,
申请(专利权)人:天津光电集团有限公司,
类型:发明
国别省市:
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