一种图像处理模块的调试方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及图像处理技术领域，提供了一种图像处理模块的调试方法和装置。其中所述方法包括从外部存储介质中读取像素数据，根据所述像素数据生成数据信号；根据所述数据信号生成同步的控制信号；将所述数据信号与所述控制信号传输至图像处理模块，以便于所述图像处理模块根据所述数据信号与所述控制信号进行调试。本发明专利技术由于使用了外部存储，从而能够灵活调整像素数据的来源，能够根据图像处理模块的调试需求，调整像素数据来源，以满足自定义场景或者在使用外部设备的采集数据进行测试的需求。者在使用外部设备的采集数据进行测试的需求。者在使用外部设备的采集数据进行测试的需求。

【技术实现步骤摘要】
一种图像处理模块的调试方法和装置


[0001]本专利技术涉及图像处理
，特别是涉及一种图像处理模块的调试方法和装置。

技术介绍

[0002]现有技术中进行图像处理模块调试的基本思路是图像传感器输出移动行业处理器接口（Mobile Industry Processor Interface，简写为：mipi）协议的输出信号，由相应IP核对输出信号进行处理得到高性能扩展总线接口协议数据流（Advanced eXtensible Interface Stream，简称为AXI Stream或AXI流协议数据流），再使用AXI Stream作为输入进行图像处理模块的调试。
[0003]现有的这种调试方式通常具有几方面问题：（1）基于测试的基本思想，想要确保产品的可靠性，模块测试是必不可少的，模块测试是对系统赋有明显功能的最小粒度的测试，是对一个模块进行测试，根据模块的功能说明检验模块是否有错误，一个可靠的模块测试应当针对单个模块进行多种输入，包括正确输入和错误输入等，从而测试模块是否能够对各种输入进行相应的处理。而现有技术中，由于图像处理模块的测试依赖于图像传感器的输出，则将图像处理模块的输入限定在图像传感器的可输出范围内，使其更偏向于系统测试，而没有实现对图像处理模块的模块测试，使得当在后续实际使用中，若图像传感器发生了更换，该图像处理模块的可靠性仍然是无法估量的。
[0004]（2）图像传感器仅支持拍摄实景或使用色条（color bar）生成相应的输出信号，导致其可使用的测试模式单一，在测试某些图像处理模块时需要自定义场景或者在使用外部设备的采集数据时，图像传感器就不能满足该需求。
[0005]鉴于此，克服该现有技术所存在的缺陷是本
亟待解决的问题。

技术实现思路

[0006]本专利技术要解决的技术问题是在现有的测试方式下测试模式单一，无法满足自定义场景或者在使用外部设备的采集数据进行测试的需求，且当前测试图受限于实际搭建的场景，不能根据需要指定具有某种特性的测试图像。
[0007]本专利技术采用如下技术方案：第一方面，本专利技术提供了一种图像处理模块的调试方法，包括：从外部存储介质中读取像素数据，根据所述像素数据生成数据信号；根据所述数据信号生成同步的控制信号；将所述数据信号与所述控制信号传输至图像处理模块，以便于所述图像处理模块根据所述数据信号与所述控制信号进行调试。
[0008]优选的，所述从外部存储介质中读取像素数据，具体包括：第一状态机将外部存储介质中的像素数据写入到相应像素缓存中，第二状态机从
所述像素缓存中读取像素数据；所述第一状态机和所述第二状态机之间进行状态切换的同步，以实现像素数据的同步读写。
[0009]优选的，所述第一状态机和所述第二状态机之间进行状态切换的同步，具体包括：当读指针在所述像素缓存中的位置大于第一预设位置时，则所述第一状态机从等待状态切换至数据写入状态，以将外部存储介质中的像素数据写入到像素缓存的剩余空间内；其中，所述读指针是第二状态机用于读取像素数据的指针。
[0010]优选的，所述第一状态机和所述第二状态机之间进行状态切换的同步，还包括：当第二状态机进入预加载状态时，向第一状态机发送预加载命令；所述第一状态机根据所述预加载命令，进入预加载状态，以将外部存储介质中的像素数据写到像素缓存中；当写指针在像素缓存中的位置大于第二预设位置时，向所述第二状态机发送预加载完成命令；其中，所述写指针是所述第一状态机用于将像素数据写入到像素缓存中的指针；所述第二状态机根据所述预加载完成命令，进入数据读取状态，以从像素缓存中读取像素数据。
[0011]优选的，所述像素数据包括长曝光数据和短曝光数据，所述像素缓存划分为用于存储长曝光数据的长缓存和用于存储短曝光数据的短缓存；所述第一状态机和所述第二状态机之间进行状态切换的同步，具体包括：当长数据读指针在所述长缓存中的位置大于第三预设位置时，则所述第一状态机切换至长数据写入状态，使第一状态机将外部存储介质中的长曝光数据写入到长缓存中的剩余空间内；其中，所述长数据读指针是第二状态机用于读取长曝光数据的指针；当短数据读指针在所述短缓存中的位置大于第四预设位置时，则所述第一状态机切换至短数据写入状态，使第一状态机将外部存储介质中的短曝光数据写入到短缓存中的剩余空间内；其中，所述短数据读指针是第二状态机用于读取短曝光数据的指针。
[0012]优选的，所述第一状态机和所述第二状态机之间进行状态切换的同步，还包括：当第二状态机进入预加载状态时，向第一状态机发送预加载命令；所述第一状态机根据所述预加载命令，进入长缓存预加载状态，以将外部存储介质中的长曝光数据写到长缓存中；当长数据写指针在长缓存中的位置大于第五预设位置时，向所述第二状态机发送预加载完成命令；其中，所述长数据写指针是所述第一状态机用于将长曝光数据写入到长缓存中的指针；所述第二状态机根据所述预加载完成命令，进入长数据读取状态，以进行像素数据的读取。
[0013]优选的，所述进行像素数据的读取，具体包括：当所述第二状态机为长数据读取状态时，从长缓存中读取长曝光数据，直至读取像素数据的行数大于第一预设行数时，切换至交替数据读取状态；当所述第二状态机为交替数据读取状态时，交替执行从长缓存中读取一行长曝光数据的过程和从短缓存中读取短曝光数据的过程，直至读取像素数据的行数大于第二预设行数时，切换至短数据读取状态；当所述第二状态机为短数据读取状态时，从短缓存中读取短曝光数据。
[0014]优选的，所述第一状态机将外部存储介质中的像素数据写入到相应像素缓存中，具体包括：当所述第一状态机为长缓存预加载状态时，将外部存储介质中的长曝光数据写到长缓存中，在长数据写指针到达长缓存的末尾时，切换至短缓存预加载状态；当所述第一状态机为短缓存预加载状态时，将外部存储介质中的短曝光数据写到短缓存中。
[0015]优选的，所述控制信号包括tuser信号、tlast信号和tdest信号中的至少一种，所述根据所述数据信号生成同步的控制信号，具体包括：在读取到每帧中第一行的第一个像素数据时，将tuser信号拉高，直至预设周期后拉低；在读取到每帧中每行的最后一个像素数据时，tlast信号拉高，直至预设周期后拉低；根据所读取的像素数据的类型，生成预设编码的tdest信号。
[0016]第二方面，本专利技术还提供了一种图像处理模块的调试装置，用于实现第一方面所述的图像处理模块的调试方法，所述装置包括：至少一个处理器；以及，与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述处理器执行，用于执行第一方面所述的图像处理模块的调试方法。
[0017]第三方面，本专利技术还提供了一种非易失性计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令被一个或多个处理器执行，用于完成第一方面所述的图像处理模块的调试方法。
[0018]本专利技术通过从外部存储中读取像素数据，从而生成对应的数据信号和本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图像处理模块的调试方法，其特征在于，包括：从外部存储介质中读取像素数据，根据所述像素数据生成数据信号；根据所述数据信号生成同步的控制信号；将所述数据信号与所述控制信号传输至图像处理模块，以便于所述图像处理模块根据所述数据信号与所述控制信号进行调试；所述从外部存储介质中读取像素数据包括：第一状态机将外部存储介质中的像素数据写入到相应像素缓存中，第二状态机从所述像素缓存中读取像素数据；所述第一状态机和所述第二状态机之间进行状态切换的同步，以实现像素数据的同步读写。2.根据权利要求1所述的图像处理模块的调试方法，其特征在于，所述第一状态机和所述第二状态机之间进行状态切换的同步包括：当读指针在所述像素缓存中的位置大于第一预设位置时，则所述第一状态机从等待状态切换至数据写入状态，以将外部存储介质中的像素数据写入到像素缓存的剩余空间内；其中，所述读指针是第二状态机用于读取像素数据的指针。3.根据权利要求2所述的图像处理模块的调试方法，其特征在于，所述第一状态机和所述第二状态机之间进行状态切换的同步还包括：当第二状态机进入预加载状态时，向第一状态机发送预加载命令；所述第一状态机根据所述预加载命令，进入预加载状态，以将外部存储介质中的像素数据写到像素缓存中；当写指针在像素缓存中的位置大于第二预设位置时，向所述第二状态机发送预加载完成命令；其中，所述写指针是所述第一状态机用于将像素数据写入到像素缓存中的指针；所述第二状态机根据所述预加载完成命令，进入数据读取状态，以从像素缓存中读取像素数据。4.根据权利要求1所述的图像处理模块的调试方法，其特征在于，所述像素数据包括长曝光数据和短曝光数据，所述像素缓存划分为用于存储长曝光数据的长缓存和用于存储短曝光数据的短缓存；所述第一状态机和所述第二状态机之间进行状态切换的同步包括：当长数据读指针在所述长缓存中的位置大于第三预设位置时，则所述第一状态机切换至长数据写入状态，使第一状态机将外部存储介质中的长曝光数据写入到长缓存中的剩余空间内；其中，所述长数据读指针是第二状态机用于读取长曝光数据的指针；当短数据读指针在所述短缓存中的位置大于第四预设位置时，则所述第一状态机切换至短数据写入状态，使第一状态机将外部存储介质中的短曝光数据写入到短缓存中的剩余空间内；其中，所述短数据读指针是第二状态机用于读取短曝光数据的指针。5.根据权利要求4...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘震，宋捷，朱益中，谌竟成，
申请(专利权)人：芯动微电子科技武汉有限公司，
类型：发明
国别省市：