一种用于砖石质文物风化程度检测评估的方法技术

本说明公开了一种用于砖石质文物风化程度检测评估的方法，包括以下步骤：硬度测定

【技术实现步骤摘要】
一种用于砖石质文物风化程度检测评估的方法


[0001]本说明涉及文物保护
，尤其涉及一种用于砖石质文物风化程度检测评估的方法
。

技术介绍

[0002]风化是石质文物普遍存在的一种病害类型，一般由三部分原因共同作用而产生，及物理性因素
、
化学性因素和生物性因素
。
砖石质文物的风化往往是一个长期漫长的过程，对石质文物风化程度的研究既能更好的了解砖石质文物的保存现状，又能够制定更完善的保护方案
。
[0003]目前应用于砖石质文物的检测方法较少，而且比较单一，不能够整体的反映出砖石质文物的保存现状
。
有的检测工具操作繁琐，对检测环境和检测条件的要求较高，不利于现场检测评估，或者会对石质文物本体产生破坏，所以有必要设计一种用于砖石质文物风化程度检测评估的方法，满足砖石质文物风化程检测评估的需求
。
[0004]说明内容
[0005]本说明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种用于砖石质文物风化程度检测评估的方法
。
[0006]为了实现上述目的，本说明采用了如下技术方案：
[0007]一种用于砖石质文物风化程度检测评估的方法，包括以下步骤：
[0008]S1、
硬度测定，使用划痕仪对新鲜岩石和岩石的风化面分别进行划痕测量，并记录新鲜岩石
H
值和风化面
H
值；
[0009]S2、
强度测定，使用回弹仪对新鲜岩石和岩石的风化面分别进行检测，根据预定的点位，风化面
T
值和新鲜岩石
T
值；
[0010]S3、
孔隙率测定，使用超声波检测仪对新鲜岩石和岩石的风化面分别进行检测，根据超声波检测仪预定的点位藕和触发探头以及发射探头，根据超声波检测仪预定的点位藕和触发探头以及发射探头，探头稳定后，选择并校正合适的发射能量以及各项触发参数，进行检测，取得数据风化面
S
值和新鲜岩石
S
值
。
[0011]S4、
评估判断
[0012]根据上述三组测量数值进行如下的公式计算每组数据的差值：
[0013](1)
硬度测定方面，对比风化样与新鲜岩石的
H
值，计算
Δ
H
：
[0014]Δ
H
＝
(|
风化面
H
值
‑
新鲜岩石
H
值
|)/
新鲜岩石
H
值；
[0015](2)
强度测定时，对比风化样与新鲜岩石的
H
值，计算
Δ
T
：
[0016]Δ
H
＝
(|
风化面
T
值
‑
新鲜岩石
T
值
|)/
新鲜岩石
T
值；
[0017](3)
孔隙率测定时，对比风化样与新鲜岩石后的
S
值，计算
Δ
S
：
[0018]Δ
S
＝
(|
风化面
S
值
‑
新鲜岩石
S
值
|)/
新鲜岩石
S
值；
[0019](4)
将三组
Δ
H、
Δ
T
和
Δ
S
带入以下公式中，求取风化系数
M
数值：
[0020]风化系数
M
可按公式确定：
M
＝
Δ
H*0.5+
Δ
T*0.15+
Δ
S*0.35
；
[0021]风化程度分级按下表规定执行：
[0022]风化程度风化系数
M
弱风化
M
＜
0.1
中风化
0.1≤M
＜
0.3
强风化
M≥0.3
[0023]优选地，在步骤
S1
中，将划痕仪自带的显微镜上旋钮的刻度调至零点，此时从取景器可以看到游标线与刻度线重合，将游标线与划痕的一个边对齐，旋动旋钮，当游标线与划痕的另一条边重合时停止旋钮，此时察看旋钮上刻度值，此值即为划痕宽度，同一点位测定至少2次以上，通过多组数据取其平均值，得到新鲜岩石
H
值和风化面
H
值
。
[0024]优选地，在步骤
S2
中，手持回弹仪，将回弹体中轴线垂直于试体表面，保证每次测量时，回弹体运动路线与被测物体表面保持垂直交底，双手用力下压，使弹击锤伸出，此时察看回弹仪上的刻度值，此值即为回弹强度，风化面和新鲜岩石上分别选择一点位并测定6‑
16
次数据，取其平均值，得到风化面
T
值和新鲜岩石
T
值
。
[0025]优选地，在步骤
S3
中，根据超声波检测仪预定的点位藕和触发探头以及发射探头，探头稳定后，选择并校正合适的发射能量以及各项触发参数，进行检测，此时记录超声波检测仪上的波速，风化面和新鲜岩石上分别选择一点位并测定2‑8次数据，取其平均值，得到风化面
S
值和新鲜岩石
S
值
。
[0026]与现有技术相比，本说明的有益效果是：本说明结构评估方法所用设备简单便携，操作步骤简洁，对文物本体无损或微损，既能满足效果评估的需求，又不会对文物本体产生不良影响提高了对背侧物体的保护，提高了装置的实用性，本专利技术分析速度快，对岩石风化程度的判断准确，具有较好的实用价值和推广应用价值，工作人员可以直接根据规定数据，实现快速判断，提高了工作人员的工作效率
。
附图说明
[0027]为了更具体直观地说明本专利技术实施例或者现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简要介绍
。
[0028]图1为本说明提出的检测评估方法流程示意图
。
具体实施方式
[0029]下面将结合本说明实施例中的附图，对本说明实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本说明一部分实施例，而不是全部的实施例
。
[0030]参照图1，一种用于砖石质文物风化程度检测评估的方法，包括一种用于砖石质文物风化程度检测评估的方法，包括以下步骤：
[0031]S1、
硬度测定，使用划痕仪对新鲜岩石和岩石的风化面分别进行划痕测量，并记录新鲜岩石
H
值和风化面
H
值；
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种用于砖石质文物风化程度检测评估的方法，其特征在于，包括以下操作步骤：
S1、
硬度测定，使用划痕仪对新鲜岩石和岩石的风化面分别进行划痕测量，并记录新鲜岩石
H
值和风化面
H
值；
S2、
强度测定，使用回弹仪对新鲜岩石和岩石的风化面分别进行检测，根据预定的点位，风化面
T
值和新鲜岩石
T
值；
S3、
孔隙率测定，使用超声波检测仪对新鲜岩石和岩石的风化面分别进行检测，根据超声波检测仪预定的点位藕和触发探头以及发射探头，根据超声波检测仪预定的点位藕和触发探头以及发射探头，探头稳定后，选择并校正合适的发射能量以及各项触发参数，进行检测，取得数据风化面
S
值和新鲜岩石
S
值
。S4、
评估判断根据上述三组测量数值进行如下的公式计算每组数据的差值：
(1)
硬度测定方面，对比风化样与新鲜岩石的
H
值，计算
Δ
H
：
Δ
H
＝
(|
风化面
H
值
‑
新鲜岩石
H
值
|)/
新鲜岩石
H
值；
(2)
强度测定时，对比风化样与新鲜岩石的
T
值，计算
Δ
T
：
Δ
H
＝
(|
风化面
T
值
‑
新鲜岩石
T
值
|)/
新鲜岩石
T
值；
(3)
孔隙率测定时，对比风化样与新鲜岩石后的
S
值，计算
Δ
S
：
Δ
S
＝
(|
风化面
S
值
‑
新鲜岩石
S
值
|)/
新鲜岩石
S

【专利技术属性】
技术研发人员：张旭，朱一青，孟德成，
申请(专利权)人：国文科保北京新材料科技开发有限公司，
类型：发明
国别省市：