测试装置、测试方法和程序制造方法及图纸

一种测试装置，包括：矢量存储器单元，存储其中描述要输入经历检查的电路的输入信号的原始测试矢量数据；矢量生成器，从所述原始测试矢量数据生成生成的测试矢量数据；输出部分，输出要输入检查的电路的测试矢量数据；故障出现率存储器单元，存储输入信号的故障出现率；随机数生成器，生成随机数数据；以及比较部分，比较输入信号的故障出现率与所述随机数数据。当所述随机数数据小于输入信号的故障出现率时，矢量输出部分输出生成的测试矢量数据，并且在所述随机数数据大于输入信号的故障出现率时，矢量输出部分输出原始测试矢量数据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及使用测试矢量数据测试经历检查的电路的测试装置、测试方法和程 序，在所述测试矢量数据中描述要输入经历检查的电路的输入信号。
技术介绍
近年来，使用电子电路的系统发展有更高的功能和更多复杂性。结果，在这样的系 统中安装的硬件具有更大的电路规模和增加的复杂性。在系统设计中，硬件和软件的验证 对于确保系统如所指定的一样运转是非常重要的。在硬件设计中，功能的验证占据了大部分设计时段。随着电路的规模和复杂性增 加，用于这种功能的验证的工时(person-hours)数也在增加。在这种背景的情况下，考虑 用于缩短功能的验证的措施。缩短验证时段的示例性方法包括通过硬件仿真的加速缩短验 证时段的方法和随机生成测试矢量数据的方法。在日本未审专利申请公开No. 2001-167141、2006-58172和2007-47109中公开了涉及测试矢量的创建和验证的技术。日本未审专利申请公开No. 2001-167141公开了故障仿真器。该故障仿真器执行 具有对应于操作模式激活的不同组件部分的集成电路的故障仿真，并且基于电路设计数据 分类测试矢量。仿真器然后使用分类的测试矢量执行每一操作模式的集成电路的故障仿直o日本未审专利申请公开No. 2006-58172公开了测试模式生成程序。该测试模式生 成程序基于网络列表(netlist)生成电路的端子信息，选择激活生成的端子信息的端子的 激活测试序列，并且使用该激活测试序列生成测试序列。在日本未审专利申请公开No. 2007-47109中，包括在测试数据中的信息(如信号 信息)分类为用于创建中间数据的每个类型，并且故障信息添加到中间数据以创建用于故 障分析的测试数据。以此方式，在日本未审专利申请公开No. 2001-167141、2006-58172和2007-47109中，使用电路信息、故障信息等创建测试矢量，或者使用电路信息、故障信息等选择适当的 测试矢量。
技术实现思路
在实际生产点，通常通过组合使用测试矢量数据的验证和使用随机矢量数据的验 证来执行硬件功能的验证。在使用测试矢量数据的验证中，设计者创建矢量。因此，可能为验证创建高质量、 检测硬件缺陷的可能性高和适于经历验证的电路的测试矢量数据。然而，在手动地创建测试矢量数据的情况下，花费时间和精力来创建测试矢量数 据。结果，极难在短的设计时段中创建足够的测试矢量数据。还难以用不同于创建的测试 矢量数据的矢量数据验证。5另一方面，在使用随机矢量数据的验证中，因为不是手动地生成随机矢量数据，所 以不花费时间和精力来创建矢量数据。然而，在随机矢量数据中，包括不可能手动创建为测试矢量数据的矢量数据项。在 使用随机矢量数据的验证中，要验证的矢量数据的数目因此增加，并且仿真时段结果比使 用测试矢量数据的验证的仿真时段长。结果，在实际生产点，即使通过组合使用测试矢量数据的验证和使用随机矢量数 据的验证来验证硬件功能，也难以在短时间段中完成硬件功能的充分验证。希望提供一种测试装置、测试方法和程序，其能够通过改进硬件功能的验证的效 率缩短验证时段。根据本专利技术实施例的测试装置包括矢量存储器单元，存储其中描述要输入经历 检查的电路的输入信号的原始测试矢量数据；矢量生成器，从所述矢量存储器单元中存储 的原始测试矢量数据生成不同于所述原始测试矢量数据的生成的测试矢量数据；输出部 分，输出要输入经历检查的电路的测试矢量数据；故障出现率存储器单元，存储在所述原始 测试矢量数据中描述的输入信号的故障出现率；随机数生成器，生成随机数数据；以及比 较部分，比较所述故障出现率存储器单元中存储的输入信号的故障出现率与所述随机数数 据。在所述随机数数据小于输入信号的故障出现率的情况下，矢量输出部分输出生成的测 试矢量数据，并且在所述随机数数据大于输入信号的故障出现率的情况下，矢量输出部分 输出原始测试矢量数据。优选地，所述测试装置还可以包括程序存储器单元，存储其中描述转换规则的转 换程序，以便从其中描述要输入经历检查的电路的标准输入信号的标准测试矢量数据生 成验证测试矢量数据，其中描述不同于能够输入经历检查的电路的标准输入信号的输入信 号。所述矢量生成器可以执行所述转换程序以从原始测试矢量数据生成生成的测试矢量数 据。根据本专利技术另一实施例的测试方法包括以下步骤从存储原始测试矢量数据的存 储器单元读取所述原始测试矢量数据，其中描述要输入经历检查的电路的输入信号；生成 随机数数据；从存储在所述原始测试矢量数据中描述的输入信号的故障出现率的存储器单 元读取对应于读取的原始测试矢量数据的输入信号的故障出现率；比较生成的随机数数据 与读取的输入信号的故障出现率；从读取的原始测试矢量数据生成不同于原始测试矢量数 据的生成的测试矢量数据；以及输出要输入经历检查的电路的测试矢量数据。在比较步骤 中所述随机数数据小于输入信号的故障出现率的情况下，通过生成步骤生成生成的测试矢 量数据，并且在输出步骤中输出通过生成步骤生成的生成的测试矢量数据，并且在比较步 骤中所述随机数数据大于输入信号的故障出现率的情况下，在输出步骤中输出所述原始测 试矢量数据。根据本专利技术另一实施例的程序使得具有存储器单元和处理电路并且用作测试装 置的计算机测试经历检查的电路，以便执行用于从存储器单元读取原始测试矢量数据的 过程，所述原始测试矢量数据存储在存储器单元中，并且其中描述要输入经历检查的电路 的输入信号；用于生成随机数数据的过程；从存储器单元读取输入信号的故障出现率的步 骤，所述故障出现率存储在存储器单元中并且在原始测试矢量数据中描述；用于比较生成 的随机数数据与输入信号的读取的故障出现率的过程；用于从读取的原始测试矢量数据生成不同于原始测试矢量数据的生成的测试矢量数据的过程；以及用于输出要输入经历检查 的电路的测试矢量数据的过程。在比较过程中所述随机数数据小于输入信号的故障出现率 的情况下，用生成过程生成生成的测试矢量数据，并且使得在输出过程中输出用生成过程 生成的生成的测试矢量数据，并且在比较过程中所述随机数数据大于输入信号的故障出现 率的情况下，使得在输出过程中输出所述原始测试矢量数据。在上面三个实施例中，从原始测试矢量数据生成测试矢量数据。因此，用户不必生 成用于验证的所有测试矢量数据。因此，可以缩短由用户生成测试矢量数据的时段。此外，在上面三个实施例中，每个原始测试矢量数据项以对应于每一项的输入信 号中故障出现的概率转换为生成的测试矢量数据。也就是说，在上面三个实施例中，对于 有信号的故障出现概率的故障出现的情况，可能测试在原始测试矢量数据中描述的输入信 号。此外，在上面三个实施例中，通过转换原始测试矢量数据生成生成的测试矢量数 据。也就是说，限制生成的矢量数据的随机性。因此，如在使用随机矢量数据的验证的情况 下，抑制自动生成的矢量数据的增加。在本专利技术的实施例中，可以通过改进硬件功能的验证的效率缩短验证时段。 附图说明图1是图示根据本专利技术实施例的测试装置的示意性配置图；图2是图1的测试装置的详细的示意性配置图；图3A和3B图示图2的序列定义文件组的一个示例，其中图3A是故障出现率表， 并且图3B是用于每个输入信号的转换程序；图4是图示通过图1的测试装置的测试矢量数据生成处理的流程本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试装置，包括：矢量存储器单元，存储其中描述要输入到经历检查的电路的输入信号的原始测试矢量数据；矢量生成器，从所述矢量存储器单元中存储的原始测试矢量数据生成不同于所述原始测试矢量数据的生成的测试矢量数据；输出部分，输出要输入经历检查的电路的测试矢量数据；故障出现率存储器单元，存储在所述原始测试矢量数据中描述的输入信号的故障出现率；随机数生成器，生成随机数数据；以及比较部分，比较所述故障出现率存储器单元中存储的输入信号的故障出现率与所述随机数数据；其中在所述随机数数据小于输入信号的故障出现率的情况下，矢量输出部分输出生成的测试矢量数据，并且在所述随机数数据大于输入信号的故障出现率的情况下，矢量输出部分输出原始测试矢量数据。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：近田慎一郎，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]