测试治具制造技术

本发明专利技术公开了测试治具

【技术实现步骤摘要】
测试治具、测试系统以及测试方法


[0001]本专利技术应用于器件测试的
，特别是测试治具
、
测试系统以及测试方法
。

技术介绍

[0002]元器件在出厂前，往往会经过多次测试，以确定其生产质量
。
[0003]传统元器件的
FT(
Functional Test)
测试，基本上是一通道和双通道测试，随着市场应用，慢慢开发出多个元器件集成在一个封装内，为了达到产品稳定性，现阶段开发工艺也是比较多，导致多元器件的集成封装的功能测试也随着需求上升
。
[0004]对于多元器件的集成封装的功能测试，现业界测试仪还未有一个标准测试方法，导致研发测试是一个重大难题
。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供了测试治具
、
测试系统以及测试方法，以解决多元器件的集成封装的功能测试标准不统一的问题
。
[0006]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种测试治具，包括：测试座，测试座上形成有多个引脚，各引脚分别用于对应连接各待测试对象；多条选通电路，选通电路上设置有多个开关，各选通电路的一端分别与对应的引脚连接，以使各开关分别与各待测试对象一一对应连接；多个连接头，各连接头分别与对应的各选通电路的另一端连接，各连接头还用于连接测试仪
。
[0007]其中，各待测试对象集成在同一封装体内；或各待测试对象分别为独立的元器件
。
[0008]其中，多条选通电路中与同一待测试对象对应的开关位于测试治具的同一行位置或同一列位置
。
[0009]其中，选通电路包括至少一条输入测试电路
、
至少一条输出保护电路以及至少一条控制保护电路；连接头包括至少一个输入连接头
、
至少一个输出连接头以及至少一个控制连接头；多个引脚包括多个输入引脚
、
多个输出引脚以及多个控制引脚；输入测试电路的一端与测试座的对应的多个输入引脚连接，输入测试电路的另一端与对应的输入连接头连接；输出保护电路的一端分别与测试座的对应的多个输出引脚连接，输出保护电路的另一端与对应的输出连接头连接；控制保护电路的一端分别与测试座的对应的多个控制引脚连接，输出保护电路的另一端与对应的控制连接头连接
。
[0010]其中，输入连接头包括第一输入连接头以及第二输入连接头，输入测试电路包括第一输入测试电路以及第二输入测试电路；第一输入测试电路的一端分别与部分输入引脚连接，第一输入测试电路的另一端与第一输入连接头连接；第二输入测试电路的一端分别与剩余部分输入引脚连接，第二输入测试电路的另一端与第二输入连接头连接；输出连接头包括第一输出连接头以及第二输出连接头，输出保护电路包括第一输出保护电路以及第二输出保护电路；第一输出保护电路的一端分别与部分输出引脚连接，第一输出保护电路的另一端与第一输出连接头连接；第二输出保护电路的一端分别与剩余部分输出引脚连
接，第二输出保护电路的另一端与第二输出连接头连接
。
控制连接头包括第一控制连接头以及第二控制连接头，控制保护电路包括第一控制保护电路以及第二控制保护电路；第一控制保护电路的一端分别与部分控制引脚连接，第一控制保护电路的另一端与第一控制连接头连接；第二控制保护电路的一端分别与剩余部分控制引脚连接，第二控制保护电路的另一端与第二控制连接头连接
。
[0011]其中，第一输入测试电路与第一输出保护电路连接，第一输出保护电路还与第一控制保护电路连接；第二输入测试电路与第二输出保护电路连接，第二输出保护电路还与第二控制保护电路连接；第一控制保护电路还与第二控制保护电路连接
。
[0012]其中，待测试对象包括6个待测试对象；连接头的数量为6个；第一输入测试电路包括6个开关；其中，6个开关分别与6个待测试对象一一对应连接；第二输入测试电路包括6个开关；其中，6个开关分别与6个待测试对象一一对应连接；第一输出保护电路包括6个开关；其中，6个开关分别与6个待测试对象一一对应连接；第二输出保护电路包括6个开关；其中，6个开关分别与6个待测试对象一一对应连接；第一控制保护电路包括6个开关；其中，6个开关分别与6个待测试对象一一对应连接；第二控制保护电路包括6个开关；其中，6个开关分别与6个待测试对象一一对应连接
。
[0013]其中，各选通电路之间设置有隔离槽，以进行隔离漏电流
。
[0014]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种测试系统，包括：测试治具，测试治具包括上述任一项测试治具，测试治具的测试座用于安装待测试对象；测试仪，测试仪上设置有多个测试点，各测试点分别与测试治具的多个连接头一一连接
。
[0015]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种测试方法，测试方法包括：将多个待测试对象安装在测试治具的测试座上，并将测试治具的多个连接头一一对应与测试仪上的测试点连接；依次导通各选通电路，并关断其他选通电路，以依次单独连通待测试对象以及测试仪，并对待测试对象进行测试；其中，测试治具包括上述任一项测试治具
。
[0016]为解决上述技术问题，本专利技术的测试治具能够通过控制各选通电路中与各待测试对象对应的开关的开启以及关断来控制待测试对象的依次测试，并能够在待测试对象为集成多器件的封装体时，通过对各待测试对象的依次测试，实现对待测试对象的整体测试，且上述测试方法能够忽略封装体的封装方法
、
制备工艺以及器件连接等区别，实现对多种待测试对象的统一测试，提供一种测试标准，并降低测试成本，提高测试效率
。
附图说明
[0017]图1是本专利技术提供的测试治具一实施例的结构示意图；
[0018]图2是本专利技术提供的测试治具另一实施例的结构示意图；
[0019]图3是图2实施例的
A
局部的结构示意图；
[0020]图4是本专利技术提供的测试治具又一实施例的结构示意图；
[0021]图5是本专利技术提供的测试系统一实施例的结构示意图；
[0022]图6是本专利技术提供的测试方法一实施例的流程示意图
。
具体实施方式
[0023]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完
整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例
。
基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，均属于本专利技术保护的范围
。
[0024]需要说明，若本专利技术实施例中有涉及方向性指示
(
诸如上
、
下
、
左
、
右
、
前
、
后
……
)
，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态
(
如附图所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种测试治具，其特征在于，所述测试治具包括：测试座，所述测试座上形成有多个引脚，各所述引脚分别用于对应连接各待测试对象；多条选通电路，所述选通电路上设置有多个开关，各所述选通电路的一端分别与对应的所述引脚连接，以使各所述开关分别与各所述待测试对象一一对应连接；多个连接头，各所述连接头分别与对应的各所述选通电路的另一端连接，各所述连接头还用于连接测试仪
。2.
根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，各待测试对象集成在同一封装体内；或各所述待测试对象分别为独立的元器件
。3.
根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述多条选通电路中与同一待测试对象对应的开关位于所述测试治具的同一行位置或同一列位置
。4.
根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述选通电路包括至少一条输入测试电路
、
至少一条输出保护电路以及至少一条控制保护电路；所述连接头包括至少一个输入连接头
、
至少一个输出连接头以及至少一个控制连接头；多个所述引脚包括多个输入引脚
、
多个输出引脚以及多个控制引脚；所述输入测试电路的一端与所述测试座的对应的多个所述输入引脚连接，所述输入测试电路的另一端与对应的输入连接头连接；所述输出保护电路的一端分别与所述测试座的对应的多个所述输出引脚连接，所述输出保护电路的另一端与对应的所述输出连接头连接；所述控制保护电路的一端分别与所述测试座的对应的多个所述控制引脚连接，所述输出保护电路的另一端与对应的所述控制连接头连接
。5.
根据权利要求4所述的测试治具，其特征在于，所述输入连接头包括第一输入连接头以及第二输入连接头，所述输入测试电路包括第一输入测试电路以及第二输入测试电路；所述第一输入测试电路的一端分别与部分所述输入引脚连接，所述第一输入测试电路的另一端与所述第一输入连接头连接；所述第二输入测试电路的一端分别与剩余部分所述输入引脚连接，所述第二输入测试电路的另一端与所述第二输入连接头连接；所述输出连接头包括第一输出连接头以及第二输出连接头，所述输出保护电路包括第一输出保护电路以及第二输出保护电路；所述第一输出保护电路的一端分别与部分所述输出引脚连接，所述第一输出保护电路的另一端与所述第一输出连接头连接；所述第二输出保护电路的一端分别与剩余部分所述输出引脚连接，所述第二输出保护电路的另一端与所...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈兴渝，周旭刚，何明建，杨天，
申请(专利权)人：天芯互联科技有限公司，
类型：发明
国别省市：