【技术实现步骤摘要】
一种检测图像传感器位置偏移的方法、装置、介质及设备
[0001]本申请涉及摄像模组图像传感器检测
,尤其涉及一种检测图像传感器位置偏移的方法
、
装置
、
介质及设备
。
技术介绍
[0002]摄像模组在生产过程中,需要经过多个处理流程
。
比如其中一个流程是需要通过芯片键合工艺
(DB
,
Die Bonding)
将图像传感器固定于基板,实现图像传感器与基板之间的电连接
。
[0003]在键合过程中需要将金属引线连接到图像传感器的焊盘上,利用金属引线实现键合
。
在键合过程中,图像传感器的位置可能会发生偏移,这样会导致摄像模组拍摄出的图片不合格
。
因此为确保后续摄像模组的拍摄质量,在对图像传感器键合之后,需要对图像传感器位置的进行检测
。
[0004]现有技术中,一般是利用人工手动测量图像传感器的偏移量,耗时好力,导致检测效率较低
。
技术实现思路
[0005]针对现有技术存在的问题,本专利技术实施例提供了一种检测图像传感器位置偏移的方法
、
装置
、
介质及设备,以解决或者部分解决现有技术中利用人工手动检测图像传感器位置时,耗时耗力导致检测效率降低的技术问题
。
[0006]本专利技术的的第一方面,提供一种检测图像传感器位置偏移的方法,所述方法包括:
[0007]获取待测图片 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种检测图像传感器位置偏移的方法,其特征在于,所述方法包括:获取待测图片,所述待测图片为对键合后的图像传感器进行拍摄的图片;基于所述图像传感器的基准数据确定所述待测图片中的目标标记点及确定所述图像传感器轮廓的实际中心点;根据所述待测图片中的目标标记点及所述图像传感器轮廓的实际中心点对所述图像传感器的位置偏移进行检测
。2.
如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述图像传感器的基准数据确定所述待测图片中的目标标记点,包括:从所述基准数据中获取目标标记点直径
、
目标比值及目标标记点之间的基准距离;所述目标比值为图像传感器实际尺寸与待测图片像素量之间的比值;根据所述目标标记点直径及所述目标比值确定目标标记点的半径范围;利用轮廓确定函数在所述待测图片中提取第一标记点轮廓;基于所述目标标记点的半径范围
、
第一轮廓宽高比阈值对所述第一标记点轮廓进行筛选,获得第二标记点轮廓;基于所述目标标记点之间的基准距离确定目标标记点所在的距离范围;基于所述距离范围及图像传感器轮廓的参考中心点对所述第二标记点轮廓进行筛选,获得第三标记点轮廓;确定任意两个第三标记点轮廓之间的第一距离,获取所述第一距离与所述基准距离之间的距离差值,将最小距离差值对应的两个第三标记点轮廓确定为所述目标标记点
。3.
如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述标记点直径及所述目标比值确定目标标记点的半径范围,包括:确定所述标记点直径与所述目标比值的商值,将所述商值的一半确定为所述目标标记点的半径;根据所述目标标记点的半径确定对应的半径范围;所述半径范围为
(0.7R
,
1.2R)
;所述
R
为所述目标标记点的半径
。4.
如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述距离范围及图像传感器轮廓的参考中心点对所述第二标记点轮廓进行筛选,获得第三标记点轮廓,包括:基于所述图像传感器轮廓的参考中心点确定中心点范围;针对当前第二标记点轮廓,确定当前第二标记点轮廓与参考第二标记点轮廓之间的中点;所述参考第二标记点轮廓为除当前第二标记点轮廓之外的任一第二标记点轮廓;将满足筛选条件的当前第二标记点轮廓确定为所述第三标记点轮廓;所述筛选条件为:所述当前第二标记点轮廓与参考第二标记点轮廓连线的中点在所述中心点范围内
、
且所述当前第二标记点轮廓与参考第二标记点轮廓之间的第二距离在距离范围内
。5.
如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述图像传感器的基准数据确定所述图像传感器轮廓的实际中心点,包括:从所述基准数据中获取图像传感器轮廓在
X
方向的长度
、
图像传感器轮廓在
Y
方向的长度及目标比值;所述目标比值为图像传感器实际尺寸与待测图片像素量之间的比值;根据所述图像传感器轮廓在
X
方向的长度及所述目标比值确定图像传感器轮廓的参考宽度;根据所述图像传感器轮廓在
Y
方向的长度及所述目标比值确定所述图像传感器轮廓
的参考高度;根据所述参考宽度及所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:孙荣笙,
申请(专利权)人:昆山丘钛光电科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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