一种双目测量系统偏差合格性检测方法技术方案

本申请公开了一种双目测量系统偏差合格性检测方法，包括如下步骤：根据双目测量系统中的两个测量装置的最大可测量范围，确定所述双目测量系统的最大可测量范围，记为系统测量范围，其中所述系统测量范围为两个所述测量装置均可测量到的空间范围；在所述系统测量范围的边界处取测量点，并根据所述测量点与两个所述测量装置的位置分布，获取所述测量点的测量偏差表达式；根据所述测量偏差表达式，对所述系统测量范围边界处所有测量点上的偏差进行仿真；判断仿真图像是否在设定偏差值之内，以确定所述双目测量系统测量偏差的合格性

【技术实现步骤摘要】
一种双目测量系统偏差合格性检测方法


[0001]本申请一般涉及机器识别
，尤其涉及一种双目测量系统偏差合格性检测方法
。

技术介绍

[0002]双目测量系统作为一种对人眼识别能力的仿生技术在各领域的应用越来越广泛，其核心在于利用交汇测量原理，通过捕捉目标过虚拟靶时在测量单元像面上成像像元的位置，实现对目标着靶坐标
、
飞行速度及攻角等的测量
。
由于系统不同方面的误差，往往会造成对目标的测量偏差过高的情况
。
因此需要在其设计阶段检测系统在测量过程中产生的偏差是否合格，以确定系统是否具备符合要求的设计水平
。
现有的偏差合格性检测方法一般为：在双目测量系统视轴正前方设置测量平面，并通过双目测量系统对该测量平面上各点进行坐标测量，并以此获取测量各点坐标过程中产生的偏差，判断上述偏差是否满足设定范围，从而完成对双目测量系统合格性的检测
。
但此种方法并未根据双目测量系统的视觉识别范围进行设计，因此获得的双目测量系统合格性的检测结果具有一定的局限性，不能用以确定该双目测量系统设计是否符合要求
。
因此如何提升双目测量系统合格性检测结果的正确性已成为本领域亟待解决的问题
。

技术实现思路

[0003]鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种可以提升双目测量系统合格性检测结果正确性的双目测量系统偏差合格性检测方法
。
[0004]具体技术方案如下：
[0005]本申请提供一种双目测量系统偏差合格性检测方法，包括如下步骤：
[0006]根据双目测量系统中的两个测量装置的最大可测量范围，确定所述双目测量系统的最大可测量范围，记为系统测量范围，其中所述系统测量范围为两个所述测量装置均可测量到的空间范围；
[0007]在所述系统测量范围的边界处取测量点，并根据所述测量点与两个所述测量装置的位置分布，获取所述测量点的测量偏差表达式；
[0008]根据所述测量偏差表达式，对所述系统测量范围边界处所有测量点上的偏差进行仿真；
[0009]判断仿真图像是否在设定偏差值之内，以确定所述双目测量系统测量偏差的合格性
。
[0010]作为本申请的进一步限定，所述根据所述测量点与两个所述测量装置的位置分布，获取所述测量点的测量偏差表达式，具体包括如下步骤：
[0011]在所述系统测量范围内建立空间坐标系；
[0012]获取所述测量点在所述空间坐标系内的坐标表达式，其中所述所述坐标表达式内包含有随所述测量点位置变化的变量和不随之变化的常量；
[0013]根据所述坐标表达式
、
所述变量和所述常量，获得所述测试点的坐标精度表达式；
[0014]根据所述坐标精度表达式，获取所述测试点的坐标偏差表达式；
[0015]根据所述测试点的坐标偏差表达式，获取测试点的测量偏差表达式
。
[0016]作为本申请的进一步限定，所述在所述系统测量范围内建立空间坐标系，具体包括如下步骤：
[0017]以两个所述测量装置中任意一个测量装置的位置为坐标系原点
o
；
[0018]以两个所述测试装置的连线所在的直线为
x
轴；
[0019]取任意垂直于所述
x
轴的直线为
y
轴；
[0020]取垂直于所述
xoy
平面的直线为
z
轴
。
[0021]作为本申请的进一步限定，所述获取所述测量点在所述空间坐标系内的坐标表达式，其中所述所述坐标表达式内包含有随所述测量点位置变化的变量和不随之变化的常量，具体包括如下步骤：
[0022]根据所述空间坐标系，获取所述系统测量范围的边界处取的任意测量点相对于任一所述测量装置在
xoz
面内的方位角，记为
α1，和俯仰角，记为
β1；并获取所述测量点相对于另一所述测量装置在
xoz
面内的方位角，记为
α2，和俯仰角，记为
β2；并获取所述测量点分别与两个所述测量装置连线形成的夹角在
xoz
面内的投影角，记为
γ
；并获取两个所述测量装置之间的距离，记为
L
；
[0023]根据如下公式，得到所述获取所述测量点在所述空间坐标系内的坐标表达式：
[0024][0025][0026][0027]其中
α1，
β1，
α2，
β2，
γ
均为所述变量，
L
为所述常量
。
[0028]作为本申请的进一步限定，所述根据所述坐标表达式
、
所述变量和所述常量，获得所述测试点的坐标精度表达式，具体为如下表达式：
[0029][0030][0031][0032]其中，
Δα1，
Δβ1，
Δα2，
Δβ2，
Δγ
，
Δ
L
分别为利用所述双目测量系统对
α1，
β1，
α2，
β2，
γ
，
L
进行测量时会产生的偏差值
。
[0033]作为本申请的进一步限定，所述根据所述坐标精度表达式，获取的所述测试点的坐标偏差表达式，具体为如下表达式：
[0034][0035][0036][0037]作为本申请的进一步限定，所述根据所述测试点的坐标偏差表达式，获取测试点的测量偏差表达式，具体为如下表达式：
[0038]本申请有益效果在于：
[0039]本方案通过构建所述系统测量范围，可更加全面的对两个所述测量装置同时可测量的空间进行测量仿真，获取所述测量偏差的表达式，通过将相应的偏差产生因素的具体赋值代入所述表达式，可以获取该系统测量偏差在所述系统测量范围内的分布图，将设定偏差与所述分布图中各点的测量偏差值进行比较，即可得出所述系统测量范围内是否有测量点上产生的测量误差造成所述双目测量系统的设计不合格
。
由于测量区域的全面性可使测得的结论正确性更强
。
[0040]其中由于所述系统测量范围上产生测量偏差最大的点一般都分布于所述系统测量范围的边界处，因此在获取各测试点的所述测量偏差时，一般仅需在所述系统测量范围的边界处获取
。
附图说明
[0041]通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它
特征
、
目的和优点将会变得更明显：
[0042]图1为本申请实施例提供的双目测量系统偏差合格性检测方法的步骤流程图；
[0043]图2为坐标测量偏差计算流程；
[0044]图3为各轴向的坐标测量偏差仿真图；
[0045]图4为距离测量偏差仿本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种双目测量系统偏差合格性检测方法，其特征在于，包括如下步骤：根据双目测量系统中的两个测量装置的最大可测量范围，确定所述双目测量系统的最大可测量范围，记为系统测量范围，其中所述系统测量范围为两个所述测量装置均可测量到的空间范围；在所述系统测量范围的边界处取测量点，并根据所述测量点与两个所述测量装置的位置分布，获取所述测量点的测量偏差表达式；根据所述测量偏差表达式，对所述系统测量范围边界处所有测量点上的偏差进行仿真；判断仿真图像是否在设定偏差值之内，以确定所述双目测量系统测量偏差的合格性
。2.
根据权利要求1所述的双目测量系统偏差合格性检测方法，其特征在于，所述根据所述测量点与两个所述测量装置的位置分布，获取所述测量点的测量偏差表达式，具体包括如下步骤：在所述系统测量范围内建立空间坐标系；获取所述测量点在所述空间坐标系内的坐标表达式，其中所述所述坐标表达式内包含有随所述测量点位置变化的变量和不随之变化的常量；根据所述坐标表达式
、
所述变量和所述常量，获得所述测试点的坐标精度表达式；根据所述坐标精度表达式，获取所述测试点的坐标偏差表达式；根据所述测试点的坐标偏差表达式，获取测试点的测量偏差表达式
。3.
根据权利要求2所述的双目测量系统偏差合格性检测方法，其特征在于，所述在所述系统测量范围内建立空间坐标系，具体包括如下步骤：以两个所述测量装置中任意一个测量装置的位置为坐标系原点
o
；以两个所述测试装置的连线所在的直线为
x
轴；取任意垂直于所述
x
轴的直线为
y
轴；取垂直于所述
xoy
平面的直线为
z
轴
。4.
根据权利要求3所述的双目测量系统偏差合格性检测方法，其特征在于，所述获取所述测量点在所述空间坐标系内的坐标表达式，其中所述所述坐标表达式内包含有随所述测量点位置变化的变量和不随之变化的常量，具体包括如下步骤：根据所述空间坐标系，获取所述系统测量范围的边界处取的任意测量点相对于任一所述测量装置在
xoz
面...

【专利技术属性】
技术研发人员：党雅娟，宋秋冬，
申请(专利权)人：天津津航技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：