一种目标探测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种目标探测方法及装置，该方法包括：获取探测单元对应的探测属性信息

【技术实现步骤摘要】
一种目标探测方法及装置


[0001]本专利技术涉及探测
，尤其涉及一种目标探测方法及装置
。

技术介绍

[0002]随着社会的发展与进步，信息化
、
数据化成为各行各业的主要趋势，模拟仿真也是重要的领域之一
。
在传统仿真过程中，探测系统已经能够根据模型需要完成各种程度上的探测需求，实现了传感器数字化
。
但是仅是完成探测功能是不能被大型仿真作战场景所接受的，由于传统的探测系统存在探测流程冗余
、
探测时间长的问题，一定程度上影响了大型仿真作战场景的运行效率，给计算机带来了不必要的负担，所以优化探测流程
、
提高探测效率是解决这一问题的一种方案
。
因此，提供一种目标探测方法及装置，以简化探测流程，缩短探测时长，进而提高探测效率
。

技术实现思路

[0003]本专利技术所要解决的技术问题在于，提供一种目标探测方法及装置有利于简化探测流程，缩短探测时长，进而提高探测效率
。
[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术实施例第一方面公开了一种目标探测方法，所述方法包括：
[0005]获取探测单元对应的探测属性信息
、
探测对象对应的对象属性信息和当前仿真时间；所述探测属性信息包括探测半径值
、
探测周期
、
探测单元设备信息和探测单元坐标；所述对象属性信息包括对象坐标和对象高度；
[0006]基于所述探测单元属性信息和所述当前仿真时间，分别对所述探测对象进行静态和动态探测分析，得到静态探测信息和动态探测信息；
[0007]对所述对象高度
、
所述静态探测信息和所述动态探测信息进行分析处理，得到目标探测结果信息；所述目标探测结果信息表征所述探测单元对所述探测对象的可探测识别情况
。
[0008]作为一种可选的实施方式，在本专利技术实施例第一方面中，所述基于所述探测单元属性信息和所述当前仿真时间，分别对探测对象进行静态和动态探测分析，得到静态探测信息和动态探测信息，包括：
[0009]基于所述探测单元属性信息，确定出探测范围属性信息；所述探测范围属性信息包括
N
个第一扇形区域和
M
个第二扇形区域；所述
M
为所述
N
的2倍；
[0010]基于所述对象属性信息和所述探测范围属性信息，确定出动态探测信息；
[0011]基于所述探测范围属性信息和所述当前仿真时间，确定出静态探测信息
。
[0012]作为一种可选的实施方式，在本专利技术实施例第一方面中，所述基于所述探测单元属性信息，确定出探测范围属性信息，包括：
[0013]基于所述探测半径值，确定出第一探测区域和第二探测区域；所述第一探测区域为以所述探测半径值的二分之一值为半径构建的圆形区域；所述第二探测区域为以所述探
测半径值为半径构建的圆形区域中去除所述第一探测区域的封闭环形区域；
[0014]以第一弧度等分所述第一探测区域，得到所述
N
个所述第一初始扇形区域；
[0015]以
Y
轴正向为起点，按第一编号格式顺时针依次对所述
N
个所述第一初始扇形区域进行编号，得到所述
N
个所述第一扇形区域；
[0016]以第二弧度等分所述第二探测区域，得到所述
M
个第二初始扇形区域；
[0017]以
Y
轴正向为起点，按第二编号格式顺时针依次对所述
M
个所述第二初始扇形区域进行编号，得到所述
M
个所述第二扇形区域
。
[0018]作为一种可选的实施方式，在本专利技术实施例第一方面中，所述基于所述对象属性信息和所述探测范围属性信息，确定出动态探测信息，包括：
[0019]利用第一探测模型对所述探测单元坐标和所述对象属性信息进行计算，得到第一探测值；
[0020]其中，所述第一探测模型为：
[0021][0022]式中，
TC1
为所述第一探测值；
(x,y,z)
为所述探测单元坐标；
(x1,y1,z1)
为所述对象属性信息中的对象坐标；
[0023]判断所述第一探测值是否小于等于所述探测半径值，得到第一动态判断结果；
[0024]当所述第一动态判断结果为否时，确定动态探测信息为动态探测不通过；
[0025]当所述第一动态判断结果为是时，基于所述探测单元设备信息，确定出第二探测值；
[0026]判断所述第二探测值是否大于所述第一探测值，得到第二动态判断结果；
[0027]当所述第二动态判断结果为否时，确定所述动态探测信息为所述动态探测不通过；
[0028]当所述第二动态判断结果为是时，获取视场区域信息；
[0029]判断所述探测单元坐标是否位于所述视场区域信息，得到第三动态判断结果；
[0030]当所述第三动态判断结果为否时，确定所述动态探测信息为所述动态探测不通过；
[0031]当所述第三动态判断结果为是时，确定所述动态探测信息为所述动态探测通过
。
[0032]作为一种可选的实施方式，在本专利技术实施例第一方面中，所述基于所述探测单元设备信息，确定出第二探测值，包括：
[0033]利用第二探测模型对所述探测单元设备信息进行计算处理，得到探测功率值；
[0034]其中，所述第二探测模型为：
[0035][0036]式中，所述探测功率值；
J
为所述探测单元设备信息中的干扰功率，
K
为所述探测单元设备信息中的压制系数；
[0037]利用第三探测模型对所述探测单元设备信息和所述探测功率值进行计算处理，得到第二探测值；
[0038]其中，所述第三探测模型为：
[0039][0040]式中，
R
′
为所述第二探测值；
P
t
为所述探测单元设备信息中的发射功率；
P
t
为所述探测单元设备信息中的增益；
σ
为所述探测单元设备信息中的回波面积；
λ
为所述探测单元设备信息中的电磁波长
。
[0041]作为一种可选的实施方式，在本专利技术实施例第一方面中，所述对所述对象高度
、
所述静态探测信息和所述动态探测信息进行分析处理，得到目标探测结果信息，包括：
[0042]判断所述动态探测信息是否为动态探测不通过，得到第四动态判断结果；
[0043]当所述第四动态判断结果为是时，确定目标探测结果信息为目标不可探测；
[0044]当所述第四动态判断结果为否时，基于所述探测单元坐标
、
所述对象坐标和本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种目标探测方法，其特征在于，所述方法包括：获取探测单元对应的探测属性信息
、
探测对象对应的对象属性信息和当前仿真时间；所述探测属性信息包括探测半径值
、
探测周期
、
探测单元设备信息和探测单元坐标；所述对象属性信息包括对象坐标和对象高度；基于所述探测单元属性信息和所述当前仿真时间，分别对所述探测对象进行静态和动态探测分析，得到静态探测信息和动态探测信息；对所述对象高度
、
所述静态探测信息和所述动态探测信息进行分析处理，得到目标探测结果信息；所述目标探测结果信息表征所述探测单元对所述探测对象的可探测识别情况
。2.
根据权利要求1所述的目标探测方法，其特征在于，所述基于所述探测单元属性信息和所述当前仿真时间，分别对探测对象进行静态和动态探测分析，得到静态探测信息和动态探测信息，包括：基于所述探测单元属性信息，确定出探测范围属性信息；所述探测范围属性信息包括
N
个第一扇形区域和
M
个第二扇形区域；所述
M
为所述
N
的2倍；基于所述对象属性信息和所述探测范围属性信息，确定出动态探测信息；基于所述探测范围属性信息和所述当前仿真时间，确定出静态探测信息
。3.
根据权利要求2所述的目标探测方法，其特征在于，所述基于所述探测单元属性信息，确定出探测范围属性信息，包括：基于所述探测半径值，确定出第一探测区域和第二探测区域；所述第一探测区域为以所述探测半径值的二分之一值为半径构建的圆形区域；所述第二探测区域为以所述探测半径值为半径构建的圆形区域中去除所述第一探测区域的封闭环形区域；以第一弧度等分所述第一探测区域，得到所述
N
个所述第一初始扇形区域；以
Y
轴正向为起点，按第一编号格式顺时针依次对所述
N
个所述第一初始扇形区域进行编号，得到所述
N
个所述第一扇形区域；以第二弧度等分所述第二探测区域，得到所述
M
个第二初始扇形区域；以
Y
轴正向为起点，按第二编号格式顺时针依次对所述
M
个所述第二初始扇形区域进行编号，得到所述
M
个所述第二扇形区域
。4.
根据权利要求2所述的目标探测方法，其特征在于，所述基于所述对象属性信息和所述探测范围属性信息，确定出动态探测信息，包括：利用第一探测模型对所述探测单元坐标和所述对象属性信息进行计算，得到第一探测值；其中，所述第一探测模型为：式中，
TC1
为所述第一探测值；
(x,y,z)
为所述探测单元坐标；
(x1,y1,z1)
为所述对象属性信息中的对象坐标；判断所述第一探测值是否小于等于所述探测半径值，得到第一动态判断结果；当所述第一动态判断结果为否时，确定动态探测信息为动态探测不通过；
当所述第一动态判断结果为是时，基于所述探测单元设备信息，确定出第二探测值；判断所述第二探测值是否大于所述第一探测值，得到第二动态判断结果；当所述第二动态判断结果为否时，确定所述动态探测信息为所述动态探测不通过；当所述第二动态判断结果为是时，获取视场区域信息；判断所述探测单元坐标是否位于所述视场区域信息，得到第三动态判断结果；当所述第三动态判断结果为否时，确定所述动态探测信息为所述动态探测不通过；当所述第三动态判断结果为是时，确定所述动态探测信息为所述动态探测...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭雄，孙昊，陈招迪，毛敏慧，刘雄，
申请(专利权)人：北京华如科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：