【技术实现步骤摘要】
一种引线牢固性试验装置
[0001]本专利技术涉及电子器件试验
,具体涉及一种引线牢固性试验装置
。
技术介绍
[0002]在一些技术标准中需要对微电子器件引线施加规定扭矩和旋转角度,以测定引线的牢固性和密封性能,例如:
GJB548B
‑
2005《
微电子器件试验方法和程序
》
中方法
2004.2
引线牢固性,试验条件
C1
和
C2
规定对器件引线或者螺栓分别施加扭力或转矩;
GJB360B
‑
2009《
电子及电气元件试验方法
》
中方法
211
引出端强度试验中试验条件
E
:转矩试验;
GJB128
‑
86《
半导体分立器件试验方法
》
中方法
2036
引线强度条件
D1。
[0003]目前,以上三个技术标准中需要选用适当的夹钳
、
夹具和扭力扳头或其他能施加力而又不妨碍引线运动的适当工具对引线进行试验,但是由于人工直接手持工具的稳定性较差,无法精确实施,导致试验过程与技术标准的文件要求有差异,达不到预期效果而影响试验结果
。
技术实现思路
[0004]为了解决上述问题的不足,本专利技术提供了一种引线牢固性试验装置
。
[0005]它采用了如下技术方案:一种引线牢固性试验装置, ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种引线牢固性试验装置,包括支撑体(1),其特征在于:所述支撑体(1)上设有固定板(2),固定板上设有上下贯通且具有一定长度的限位孔(
21
),微电子器件(
100
)的引线可穿出限位孔(
21
),并可沿限位孔长度方向移动以调节电子器件的相对位置;在固定板(2)上还设有压紧装置(3),压紧装置(3)用于将微电子器件的管壳夹紧于固定板(2)上表面形成临时固定;在固定板(2)下方设有带动态扭矩测量的旋转驱动装置(5),旋转驱动装置(5)上设有引线夹紧装置(4),引线夹紧装置(4)位于限位孔(
21
)正下方,引线夹紧装置(4)可夹紧微电子器件的引线,通过旋转驱动装置(5)使引线转动
。2.
根据权利要求1所述的一种引线牢固性试验装置,其特征在于:所述压紧装置(3)包括压紧板(
31
),压紧板(
31
)通过调节机构(
32
)将微电子器件的管壳压紧在固定板上
。3.
根据权利要求2所述的一种引线牢固性试验装置,其特征在于:所述调节机构(
32
)包括一组锁紧螺钉(
321
),所述压紧板(
31
)上设有与锁紧螺钉(
321
)对应的通孔(
311
),锁紧螺钉(
321
)穿入通孔(
311
)与固定板(2)螺纹连接,通过改变锁紧螺钉(
321
)的旋入深度,调节压紧板(
31
)的压紧力
。4.
根据权利要求1或3所述的一种引线牢固性试验装置,其特征在于:所述旋转驱动装置(5)包括竖向设置的转轴(
51
),转轴(
51
)上连接驱动部件(
52
),所述转轴(
51
)底端连接有动态扭矩传感器(6)用于检测转轴的动态扭矩参数,所述引线夹紧装置(4)与转轴(
51
)顶端连接
。5.
根据权利要求4所述的一种引线牢固性试验装置,其特征在于:所述驱动部件(
52
)包括与转轴固定连接的...
【专利技术属性】
技术研发人员:年探探,王国宁,于耀,崔翔,刘小丽,秦绍文,郭瑾玲,王勇,
申请(专利权)人:华东光电集成器件研究所,
类型:发明
国别省市:
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