本实用新型专利技术涉及清洁机器人MCU控制器的测试安装架技术领域，具体涉及一种MCU控制器的老化测试设备，包括多层支架、固定设置于多层支架的标准MCU控制电路板、固定设置于多层支架的MCU标准输出配件、以及固定设置于多层支架顶部的安装治具，所述安装治具用于安装固定待测MCU控制器产品，所述MCU标准输出配件用于供标准MCU控制电路板和待测MCU控制器产品测试使用，利用安装治具安装固定待测MCU控制器产品于多层支架上，避免接线或检测时待测MCU控制器产品松动或异位而对测试结果造成偏差，盖老化测试设备能基本满足MCU控制器进行老化测试。测试。测试。
【技术实现步骤摘要】
一种MCU控制器的老化测试设备
[0001]本技术涉及清洁机器人MCU控制器的测试安装架
，具体涉及一种MCU控制器的老化测试设备。
技术介绍
[0002]清洁机器人，例如洗扫地一体式清洁机器人、洗地机、扫地机等，其运作时主要靠MCU控制器控制MCU输出配件(例如驱动电机、边刷电机、主刷电机、蠕动泵、吸力泵、线推器、灯带、刹车板、蜂鸣器等)运行从而实现清洁机器人移动、刹车、蜂鸣、吸尘、吸水、照明等功能。现有的MCU控制器产品通常不进行老化测试即组装出厂，初步使用后存在MCU控制器异常的情况导致MCU输出配件无法正常使用。
[0003]要想进行MCU控制器的老化测试，需要采用标准MCU控制电路板以及MCU标准输出配件，测试给出电流等参数的标准范围，再对待测MCU控制器产品进行老化测试，在一定周期内测试出的电流等参数与标准范围对比判断其是否异常，现有技术中正缺少满足MCU控制器进行老化测试的基础设备。
技术实现思路
[0004]为了克服现有技术中存在的缺点和不足，本技术的目的在于提供一种MCU控制器的老化测试设备。
[0005]本技术的目的通过下述技术方案实现：一种MCU控制器的老化测试设备，包括多层支架、固定设置于多层支架的标准MCU控制电路板、固定设置于多层支架的MCU标准输出配件、以及固定设置于多层支架顶部的安装治具，所述安装治具用于安装固定待测MCU控制器产品，所述MCU标准输出配件用于供标准MCU控制电路板和待测MCU控制器产品测试使用。
[0006]优选的，所述安装治具包括两个均设置于所述多层支架顶部的快速夹具，两个快速夹具配合用于快速固定待测MCU控制器产品。
[0007]优选的，所述多层支架的顶部开设有用于定位安装待测MCU控制器产品的定位安装槽，两个快速夹具对称设置于所述定位安装槽的两侧。
[0008]优选的，所述MCU标准输出配件包括设置于所述多层支架的顶部的标准测试灯带，所述标准测试灯带用于供标准MCU控制电路板和待测MCU控制器产品测试使用。
[0009]优选的，所述老化测试设备还包括固定连接所述多层支架的顶部并罩设于所述标准测试灯带的灯罩。
[0010]优选的，所述MCU标准输出配件还包括设置于所述多层支架的顶部的启停开关和报警指示灯组，所述启停开关用于启停标准MCU控制电路板或待测MCU控制器产品，所述报警指示灯组用于显示待测MCU控制器产品测试时是否异常。
[0011]优选的，所述MCU标准输出配件还包括均设置于所述多层支架的顶部的标准刹车板和标准蜂鸣器，所述标准刹车板和标准蜂鸣器均用于供标准MCU控制电路板和待测MCU控
制器产品测试使用。
[0012]优选的，所述MCU标准输出配件还包括均设置于所述多层支架的标准驱动电机、标准边刷电机、以及标准主刷电机，所述标准驱动电机、标准边刷电机和标准主刷电机均用于供标准MCU控制电路板和待测MCU控制器产品测试使用；所述老化测试设备还包括连接于所述标准驱动电机的输出端的第一电机负载模拟器、连接于所述标准边刷电机的输出端的第二电机负载模拟器、以及连接于所述标准主刷电机的输出端的第三电机负载模拟器。
[0013]优选的，所述MCU标准输出配件还包括均设置于所述多层支架的标准蠕动泵、标准吸力泵、以及标准线推器，所述标准蠕动泵、标准吸力泵和标准线推器均用于供标准MCU控制电路板和待测MCU控制器产品测试使用；所述老化测试设备还包括标准砝码，所述标准线推器的输出端贯穿多层支架并与标准砝码连接。
[0014]优选的，所述多层支架包括架体、以及由上至下依次可拆卸连接于架体的顶板、隔板和底板，所述标准MCU控制电路板和安装治具均固定设置于顶板，所述顶板、隔板和底板均用于供MCU标准输出配件放置；所述顶板开设有第一穿线通孔，所述隔板开设有第二穿线通孔，所述底板开设有第三穿线通孔。
[0015]本技术的有益效果在于：本技术的MCU控制器的老化测试设备，采用多层支架，多层支架上固定安装标准MCU控制电路板、MCU标准输出配件和安装治具，MCU标准输出配件供标准MCU控制电路板和待测MCU控制器产品测试使用，利用安装治具安装固定待测MCU控制器产品于多层支架上，避免接线或检测时待测MCU控制器产品松动或异位而对测试结果造成偏差，盖老化测试设备能基本满足MCU控制器进行老化测试。
附图说明
[0016]图1是本技术的结构示意图；
[0017]图2是本技术的分解示意图；
[0018]附图标记为：1、标准MCU控制电路板；2、安装治具；3、待测MCU控制器产品；4、多层支架；41、架体；42、顶板；43、隔板；44、底板；5、定位安装槽；6、标准测试灯带；7、灯罩；8、启停开关；9、报警指示灯组；10、标准刹车板；11、标准蜂鸣器；12、标准驱动电机；13、标准边刷电机；14、标准主刷电机；15、第一电机负载模拟器；16、第二电机负载模拟器；17、第三电机负载模拟器；18、标准蠕动泵；19、标准吸力泵；20、标准线推器；21、标准砝码；22、第一穿线通孔；23、第二穿线通孔；24、第三穿线通孔。
具体实施方式
[0019]为了便于本领域技术人员的理解，下面结合实施例及附图对本技术作进一步的说明，实施方式提及的内容并非对本技术的限定。
[0020]如图1
‑
2所示，一种MCU控制器的老化测试设备，包括多层支架4、固定设置于多层支架4的标准MCU控制电路板1、固定设置于多层支架4的MCU标准输出配件、以及固定设置于多层支架4顶部的安装治具2，所述安装治具2用于安装固定待测MCU控制器产品3，所述MCU标准输出配件用于供标准MCU控制电路板1和待测MCU控制器产品3测试使用。
[0021]该MCU控制器的老化测试设备，采用多层支架4，多层支架4上固定安装标准MCU控制电路板1、MCU标准输出配件和安装治具2，MCU标准输出配件供标准MCU控制电路板1和待
测MCU控制器产品3测试使用，利用安装治具2安装固定待测MCU控制器产品3于多层支架4上，避免接线或检测时待测MCU控制器产品3松动或异位而对测试结果造成偏差，盖老化测试设备能基本满足MCU控制器进行老化测试。
[0022]进一步的，所述安装治具2包括两个均设置于所述多层支架4顶部的快速夹具，两个快速夹具配合用于快速固定待测MCU控制器产品3，避免接线或检测时待测MCU控制器产品3松动或异位而对测试结果造成偏差。
[0023]进一步的，所述多层支架4的顶部开设有用于定位安装待测MCU控制器产品3的定位安装槽5，两个快速夹具对称设置于所述定位安装槽5的两侧，有利于与两个快速夹具配合在多层支架4的顶部实现快速定位安装待测MCU控制器产品3。
[0024]进一步的，所述MCU标准输出配件包括设置于所述多层支架4的顶部的标准测试灯带6，所述标准测试灯带6用于供标准MCU控制电路板1和待测MCU控制器产本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种MCU控制器的老化测试设备，其特征在于：包括多层支架、固定设置于多层支架的标准MCU控制电路板、固定设置于多层支架的MCU标准输出配件、以及固定设置于多层支架顶部的安装治具，所述安装治具用于安装固定待测MCU控制器产品，所述MCU标准输出配件用于供标准MCU控制电路板和待测MCU控制器产品测试使用。2.根据权利要求1所述的一种MCU控制器的老化测试设备，其特征在于：所述安装治具包括两个均设置于所述多层支架顶部的快速夹具，两个快速夹具配合用于快速固定待测MCU控制器产品。3.根据权利要求2所述的一种MCU控制器的老化测试设备，其特征在于：所述多层支架的顶部开设有用于定位安装待测MCU控制器产品的定位安装槽，两个快速夹具对称设置于所述定位安装槽的两侧。4.根据权利要求1所述的一种MCU控制器的老化测试设备，其特征在于：所述MCU标准输出配件包括设置于所述多层支架的顶部的标准测试灯带，所述标准测试灯带用于供标准MCU控制电路板和待测MCU控制器产品测试使用。5.根据权利要求4所述的一种MCU控制器的老化测试设备，其特征在于：所述老化测试设备还包括固定连接所述多层支架的顶部并罩设于所述标准测试灯带的灯罩。6.根据权利要求1所述的一种MCU控制器的老化测试设备，其特征在于：所述MCU标准输出配件还包括设置于所述多层支架的顶部的启停开关和报警指示灯组，所述启停开关用于启停标准MCU控制电路板或待测MCU控制器产品，所述报警指示灯组用于显示待测MCU控制器产品测试时是否异常。7.根据权利要求1所述的一种MCU控制器...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈乃邦，
申请(专利权)人：国邦协同科技广东有限公司，
类型：新型
国别省市：
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