【技术实现步骤摘要】
自动测试设备的连接装置、系统
[0001]本技术实施例涉及集成电路测试
,尤其涉及一种自动测试设备的连接装置
、
系统
。
技术介绍
[0002]随着集成电路设计和制造技术的发展,集成电路的自动测试设备
(Automatic Test Equipment
,
ATE)
应用也越来越广泛
。
[0003]现有技术中,在集成电路从研制到应用的各个环节,需要对集成电路进行测试
、
校准或诊断等操作
。
在对集成电路测试
、
校准或诊断时,需要将
ATE
内部的信号连接至外设仪表
。
[0004]然而,现有技术中,将
ATE
内部的信号连接至外设仪表的方式存在连接复杂或操作效率低下的问题
。
技术实现思路
[0005]本技术提供一种自动测试设备的连接装置
、
系统,以实现将
ATE
内部信号连接至外设仪表,简化连接关系,提高测试
、
校准或诊断等操作的效率
。
[0006]第一方面,本技术实施例提供了一种自动测试设备的连接装置,自动测试设备的通道信号端子被配置成多个模组,模组包括多个信号连接点,信号连接点与通道信号端子一一对应,且信号连接点与对应的通道信号端子上的信号相同;多个模组中信号连接点的个数相同,且具有相同排布规律;
[0007]自动测试设备的连接装置包括 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种自动测试设备的连接装置,其特征在于,所述自动测试设备的通道信号端子被配置成多个模组,所述模组包括多个信号连接点,所述信号连接点与所述通道信号端子一一对应,且所述信号连接点与对应的所述通道信号端子上的信号相同;多个所述模组中所述信号连接点的个数相同,且具有相同排布规律;所述自动测试设备的连接装置包括驱动模块
、
信号转接模块和切换模块;所述驱动模块用于接收驱动控制指令,并根据接收到的所述驱动控制指令驱动所述信号转接模块进行移动;所述信号转接模块包括多个接触部,多个所述接触部的排布形式与所述模组中通道信号端子的排布形式相同;所述信号转接模块被配置为连接任一所述模组时,与所述模组中的所述信号连接点一一对应电连接;所述切换模块分别与各所述接触部电连接,用于接收切换控制指令,并根据所述切换控制指令,将所述模组中的至少部分所述信号连接点通过对应的所述接触部连接至对应的外设仪表,形成完整通道信号
。2.
根据权利要求1所述的自动测试设备的连接装置,其特征在于,所述自动测试设备的通道信号端子呈多个所述模组的形式排布,每个所述通道信号端子作为一所述信号连接点
。3.
根据权利要求1或2所述的自动测试设备的连接装置,其特征在于,还包括电路板,所述模组设置于所述电路板上,所述信号连接点与所述通道信号端子一一对应电连接
。4.
根据权利要求3所述的自动测试设备的连接装置,其特征在于,多个所述模组在所述电路板上的设置方向相同
。5.
根据权利要求3所述的自动测试设备的连接装置,其特征在于,所述驱动模块包括电机,所述电路板上固定有所述电机的运行支架,所述电机用于根据所述驱动控制指令带动所述信号转接模块在所述运行支架上移动
。6.
根据权利要求1所述的自动测试设备的连接装置,其特征在于,所述切换模块包括多个第一开关单元,每个第一开关单元包括第一端
、
至少一个第二端和至少一个第一开关,其中所述第一开关的一端与所述第一开关单元的第一端电连接,所述第一开关的另一端与所述第一开关单元的第二端一一对应电连接,所述第一开关单元的第一端与所述接触部一一对应电连接,所述第一开关单元的第二端用于连接所述外设仪表
。7.
根据权利要求6所述的自动测试设备的连接装置,其特征在于,所述切换模块中,各个所述第一开关单元所包括的所述第一开关的数量相同,且各所述第一开关单元所连接的...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵运坤,靳庆龙,王东海,徐流鑫,王晶,
申请(专利权)人:北京华峰测控技术股份有限公司,
类型:新型
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。