一种减少超声波探伤仪漏检的方法和一种探伤仪技术

本发明专利技术涉及探伤仪的技术领域。尤其涉及一种减少超声波探伤仪漏检的方法和一种探伤仪。方法包括：设定回波阈值，探伤通道收到的回波峰值大于回波阈值时，此时探伤通道探测的位置存在缺陷；探伤通道收到回波时计算有效系数，有效系数为探伤通道收到的回波峰值与回波阈值的比值；设定判定阈值，相邻两个探头的探伤通道在同一位置收到的回波峰值对应的有效系数均超过判定阈值时，将相邻的两个有效系数超过判定阈值的探伤通道收到的回波峰值叠加得到判断值；判断值大于等于回波阈值时，此时探伤通道探测的位置存在缺陷；判断值小于回波阈值时，此时探伤通道探测的位置不存在缺陷。本发明专利技术可有效减少超声波探伤仪漏检的情况，并提高探伤的准确性。高探伤的准确性。高探伤的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种减少超声波探伤仪漏检的方法和一种探伤仪


[0001]本专利技术涉及探伤仪的
，特别是涉及一种减少超声波探伤仪漏检的方法和一种探伤仪。

技术介绍

[0002]超声波探伤仪是一种便携式工业无损探伤仪器，它能够快速、便捷、无损伤、精确地进行工件内部多种缺陷(裂纹、疏松、气孔、夹杂等)的检测、定位、评估和诊断。既可以用于实验室，也可以用于工程现场。广泛应用在锅炉、压力容器、航天、航空、电力、石油、化工、海洋石油、管道、军工、船舶制造、汽车、机械制造、冶金、金属加工业、钢结构、铁路交通、核能电力、高校等行业。
[0003]现有的超声波探伤仪在探测的过程中，因为探头覆盖率的问题，在一些情况下，探头发现了缺陷，但是闸门处的回波峰值没达到阈值而发生漏检，导致探伤结果不准确，存在待改进之处。

技术实现思路

[0004]为了减少超声波探伤仪的漏检，本申请提供一种减少超声波探伤仪漏检的方法。
[0005]本专利技术所提供的减少超声波探伤仪漏检的方法，采用如下的技术方案：
[0006]一种减少超声波探伤仪漏检的方法，所述探伤仪包括多个并列设置的探头，每一所述探头内均设置有探伤通道，所述探伤仪通过所述探伤通道收发超声波，所述方法包括：设定回波阈值，所述探伤通道收到的回波峰值大于所述回波阈值时，此时所述探伤通道探测的位置存在缺陷；所述探伤通道收到回波时计算有效系数，所述有效系数为所述探伤通道收到的回波峰值与所述回波阈值的比值；设定判定阈值，相邻两个所述探头的所述探伤通道在同一位置收到的回波峰值对应的所述有效系数均超过所述判定阈值时，将相邻的两个所述有效系数超过所述判定阈值的探伤通道收到的回波峰值叠加得到判断值；所述判断值大于等于所述判定阈值时，此时所述探伤通道探测的位置存在缺陷；所述判断值小于所述判定阈值时，此时所述探伤通道探测的位置不存在缺陷。
[0007]基于上述构想，本专利技术还提供一种探伤仪，运用上述减少超声波探伤仪漏检的方法进行探伤，所述探伤仪包括多个并列设置的探头，每一所述探头均具有探伤通道，所述探伤仪通过所述探伤通道收发超声波信号，其特征在于，还包括电源模块、I/O模块、处理模块以及多个超声模块，其中，所述电源模块用于为所述I/O模块、所述处理模块以及所述超声模块提供电源；所述I/O模块与所述多个超声模块信号连接，所述I/O模块上还信号连接有辅助设备；所述超声模块与所述多个探头信号连接，用于采集所述探伤通道收发的超声波信号；所述处理模块与所述I/O模块、所述多个超声模块均信号连接，所述处理模块用于根据采集到的超声波信号，判断所述回波阈值、计算所述有效系数以及判断所述判定值，并且判断所述探伤通道所探测的位置是否存在缺陷。
[0008]可选的，所述探头为单晶头探头或者双晶头探头。
[0009]可选的，所述探伤仪具有记录模块，所述记录模块与所述I/O模块信号连接，用于记录缺陷的数量和位置。
[0010]可选的，所述探伤仪具有存储模块，所述存储模块与所述I/O模块信号连接，用于探伤仪测得的数据，并且生成报告结果。
[0011]可选的，所述辅助设备包括打标枪及编码器，所述编码器与所述I/O模块信号连接，所述打标枪与所述编码器信号连接；任一所述探伤通道检测到缺陷时，单独通过所述编码器控制所述打标枪在缺陷处进行打标。
[0012]可选的，所述编码器的数量为两个，两个所述编码器分别定位缺陷的轴向位置和周向位置。
[0013]可选的，所述探伤通道内设置有模拟滤波模块和电磁噪声识别模块，所述模拟滤波模块和所述电磁噪声识别模块均用于抑制所述探伤通道受到的外部干扰。
[0014]可选的，所述探伤通道的灵敏度余量大于50db。
[0015]如上所述，本专利技术的，至少具有以下有益效果：
[0016]1、本专利技术的减少探伤仪漏检的方法，通过计算有效系数筛选出有可能被漏检的位置，并且在相邻两个探头的有效系数均超过判定阈值时，将这两个探头的回波峰值叠加后形成判断值，最后再与回波阈值进行比较，从而确定是否存在漏检的情况。因此本专利技术的减少超声波探伤仪漏检的方法可以有效减少超声波探伤仪漏检的情况，进而提高超声波探伤仪探伤结果的准确度。
[0017]2、本专利技术的探伤仪，通过运用上述减少超声波探伤仪漏检的方法，再将探伤通道的灵敏度余量合理配置，可以有效地防止漏检。
[0018]3、本专利技术的探伤仪具有记录模块和存储模块，使得工作人员能够方便地对探伤过程中的信息进行回放、查看和编辑。
[0019]4、本专利技术的探伤仪还具有打标枪和编码器，打标枪在待测物体表面喷涂对缺陷进行标记，而编码器记录缺陷的位置信息，使得工作人员可以快速地定位待测物体中的缺陷，提高了探伤仪使用时的便捷性。
附图说明
[0020]图1是本专利技术中减少探伤仪漏检的方法对应的流程图。
[0021]图2是本专利技术实施例用于体现探伤仪构造的示意图。
具体实施方式
[0022]以下通过特定的具体实例说明本专利技术的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本专利技术的其它优点与功效。本专利技术还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本专利技术的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。还应当理解，本专利技术实施例中使用的术语是为了描述特定的具体实施方案，而不是为了限制本专利技术的保护范围。下列实施例中未注明具体条件的试验方法，通常按照常规条件，或者按照各制造商所建议的条件。
[0023]请参阅图1、图2。须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以
配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本专利技术可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本专利技术所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本专利技术所揭示的
技术实现思路
所能涵盖的范围内。同时，本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语，亦仅为便于叙述的明了，而非用以限定本专利技术可实施的范围，其相对关系的改变或调整，在无实质变更
技术实现思路
下，当亦视为本专利技术可实施的范畴。
[0024]本专利技术请求公开一种减少超声波探伤仪漏检的方法，该方法运用于超声波探伤仪。超声波探伤仪包括多个并列设置的探头，每一个探头均具有探伤通道，探头通过其所具有的探伤通道收发超声波。
[0025]请参照图1，本专利技术的一种减少超声波探伤仪漏检的方法，包括设定回波阈值，探伤通道收到的回波峰值大于回波阈值时，此时探伤通道探测的位置存在缺陷。
[0026]探伤通道收到回波时计算有效系数，有效系数为探伤通道收到的回波峰值与回波阈值的比值。设定判定阈值，相邻两个探头的探伤通道在同一位置收到的回波峰值对应的有效系数均超过判定阈值时，将相邻的两个有效系数超过判定阈值的探伤通道收到的回波峰值叠加得到判断值。判断值大于等于判定阈本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种减少超声波探伤仪漏检的方法，所述探伤仪包括多个并列设置的探头，每一所述探头内均设置有探伤通道，所述探伤仪通过所述探伤通道收发超声波，其特征在于，所述方法包括：设定回波阈值，所述探伤通道收到的回波峰值大于所述回波阈值时，此时所述探伤通道探测的位置存在缺陷；所述探伤通道收到回波时计算有效系数，所述有效系数为所述探伤通道收到的回波峰值与所述回波阈值的比值；设定判定阈值，相邻两个所述探头的所述探伤通道在同一位置收到的回波峰值对应的所述有效系数均超过所述判定阈值时，将相邻的两个所述有效系数超过所述判定阈值的探伤通道收到的回波峰值叠加得到判断值；所述判断值大于等于所述回波阈值时，此时所述探伤通道探测的位置存在缺陷；所述判断值小于所述回波阈值时，此时所述探伤通道探测的位置不存在缺陷。2.一种探伤仪，使用如权利要求1所述的减少超声波探伤仪漏检的方法进行探伤，所述探伤仪包括多个并列设置的探头，每一所述探头均具有探伤通道，所述探伤仪通过所述探伤通道收发超声波信号，其特征在于，还包括电源模块、I/O模块、处理模块以及多个超声模块，其中，所述电源模块用于为所述I/O模块、所述处理模块以及所述超声模块提供电源；所述I/O模块与所述多个超声模块信号连接，所述I/O模块上还信号连接有辅助设备；所述超声模块与所述多个探头信号连接，用于采集所述探伤通道收发的超声波信号；所述处理模块与所述I/O模块、所述多个超声模块均信号连接，...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵文龙，宋剑，李开春，李正杰，邵海波，
申请(专利权)人：海鹰空天材料研究院苏州有限责任公司，
类型：发明
国别省市：