【技术实现步骤摘要】
一种防回弹吸附装置及防回弹方法
[0001]本专利技术涉及芯片封装技术的领域,尤其涉及一种防回弹吸附装置及防回弹方法
。
技术介绍
[0002]在半导体器件制造领域,特别是在芯片封装技术中的晶圆封装制程中,除了晶圆本身自然翘曲外,可能因不同膨胀系数的晶圆堆叠而产生翘曲,同时,晶圆与电路板结合时亦可能产生翘曲,若晶圆的翘曲弧度过大,将会对后续制程的良率造成影响
。
现在技术中常用吸附机构对晶圆进行吸附,如果晶圆的边缘翘曲度大,会造成吸附机构吸附困难,晶圆不能与吸附座的吸附面完全贴合或平齐,在封装制程中晶圆固晶后,吸附机构释放真空瞬间,晶圆会产生回弹,造成晶圆固晶后产生错移,影响晶圆的加工生产效率和质量
。
技术实现思路
[0003]本专利技术实施例的一个目的在于:提供一种防回弹吸附装置,防回弹吸附装置可以防止晶圆在加工生产过程中出现回弹,提高晶圆加工生产的效率和质量
。
[0004]本专利技术实施例的另一个目的在于:提供一种防回弹方法,通过采用防回弹吸附装置,防止 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.
一种防回弹吸附装置,其特征在于,包括具有吸附面
(121)
的吸附座
(12)、
安装于所述吸附面
(121)
的吸附机构
(13)、
防回弹机构
(14),
以及与所述防回弹机构
(14)
电性连接的控制器;所述防回弹机构
(14)
有多个并沿着所述吸附机构
(13)
的周向间隔布设;各所述防回弹机构
(14)
均包括用于吸附工件的第一吸附器
(141)
;所述第一吸附器
(141)
相对于所述吸附座
(12)
活动式安装以带动工件抵接于所述吸附面
(121)
,所述控制器配置为在工件的加工过程中,控制所述第一吸附器(
141
)始终吸附所述工件以防止工件的回弹;所述吸附面
(121)
上开设有容纳槽
(122)
,所述容纳槽
(122)
有多个,多个所述容纳槽
(122)
与多个所述防回弹机构
(14)
的所述第一吸附器
(141)
一一对应;所述第一吸附器
(141)
在伸出位置和拉紧位置之间切换,所述第一吸附器
(141)
在所述伸出位置时,所述第一吸附器
(141)
位于容纳槽
(122)
外,所述第一吸附器
(141)
在所述拉紧位置时,所述第一吸附器
(141)
位于所述容纳槽
(122)
内
。2.
根据权利要求1所述的防回弹吸附装置,其特征在于,各所述防回弹机构
(14)
还包括支撑座
(144)
;所述支撑座
(144)
相对于所述吸附座
(12)
活动式安装;所述第一吸附器
(141)
在所述伸出位置时,所述第一吸附器
(141)
吸附工件并使得工件的边缘抵接在所述支撑座
(144)
上;所述第一吸附器
(141)
在所述拉紧位置时,所述第一吸附器
(141)
带动工件抵接于所述吸附面
(121)
且所述支撑座
(144)
与工件分离
。3.
根据权利要求1至2任一项所述的防回弹吸附装置,其特征在于,还包括基座
(11)
;所述吸附座
(12)
安装于所述基座
(11)
;各所述防回弹机构
(14)
还包括机座
(142)、
具有活动部
(1434)
并安装于所述机座
(142)
上的直线驱动模组
(143)
;所述机座
(142)
安装于所述基座
(11)
或所述吸附座
(12)
,所述第一吸附器
(141)
安装于所述直线驱动模组
(143)
的所述活动部
(1434)
技术研发人员:王正根,陈万群,车二航,刘泽立,杨耀斌,王松松,陈旭,
申请(专利权)人:迈为技术珠海有限公司,
类型:发明
国别省市:
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