监控电路芯片测试系统技术方案

监控电路芯片测试系统，包括母版和与母版可拆卸连接的子板，子板用于放置待测器件，母版包括主控模块和与主控模块连接的电压转换模块、通讯模块、采集模块、矩阵开关模块和AD转换模块，将测试所需要的模块集成到母版上，待测器件放置在子板上，当需要对其他待测器件测试时，只需要对子板的待测器件进行修改，节省测试时间。测试时间。测试时间。

【技术实现步骤摘要】
监控电路芯片测试系统


[0001]本技术涉及监控电路芯片测试系统，属于半导体


技术介绍

[0002]随着科技的发展，各行各业都趋向于智能化，芯片已经成为我们不可或缺的物件，对芯片的需求量也在不断上升，导致对芯片检测的需求量也在提升，为了避免因芯片缺陷导致产品出现问题，在交付给用户之前，需要对芯片进行检测，以保证产品是合格的，芯片检测是一个很重要的步骤。
[0003]常规芯片应用测试的激励及响应测试项目，是在电路板某一测试点注入一个激励信号，在另外一个测试点测量响应信号的输出，并且由于测试的芯片不同，每当更换测试芯片时，测试需要的模块需要重新拆卸组装调试。
[0004]人工的方式使用表笔实现信号的注入和测量效率较低而且容易出错，并且相关模块拆卸组装调试会消耗很多时间。

技术实现思路

[0005]本技术解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供了监控电路芯片测试系统，实现对芯片集成自动化测试。
[0006]本技术的技术解决方案是：监控电路芯片测试系统，包括母版和与所述母版可拆卸连接的子板，所述子板用于放置待测器件，所述母版包括主控模块和与所述主控模块连接的电压转换模块，用于所述主控模块与外部计算机进行数据交互的通讯模块，用于采集输入电流、输入电压和所述母版的温度的采集模块，用于不同测试信号之间的切换的矩阵开关模块，以及用于将输入的模拟信号转换为数字信号的AD转换模块；
[0007]母版供电电源的输出端连接所述电压转换模块的输入端，所述电压转换模块的输出端连接所述主控模块、所述通讯模块、所述AD转换模块、所述采集模块和所述矩阵开关模块的输入端，所述电压转换模块包括用于将输入电压转换为恒定电压的第一DCDC转换模块和第二DCDC转换模块，以及用于将输入电压转化为所述主控模块所需的工作电压的降压模块，所述第一DCDC转换模块的输出端与所述降压模块的输入端相连，所述降压模块的输出端与所述主控模块的输入端相连。
[0008]进一步地，所述降压模块的数量至少为两个且依次相连，用于对所述第一DCDC转换模块转换后的恒定电压进行多次降压。
[0009]进一步地，所述采集模块包括电压采集模块、电流采集模块和温度采集模块，所述电压采集模块内设有分压电阻对输入电压进行分压，以使分压后AD转换模块的输入电压值不超过5V。
[0010]进一步地，所述矩阵开关模块并联有RC电路，以放慢电路断开时电流衰减速度。
[0011]进一步地，所述矩阵开关模块内设有指示灯，用于显示所述矩阵开关模块工作状态。
[0012]进一步地，还包括：光耦隔离模块，与所述矩阵开关模块和所述主控模块相连，所述光耦隔离模块用于将所述主控模块与所述矩阵开关模块信号隔离。
[0013]进一步地，还包括：所述通讯模块为RS485通讯模块。
[0014]进一步地，所述电压转换模块内设有MOS管，用于防止电路反接。
[0015]进一步地，所述子板上铺设有铜板，用于提高待测器件散热效率。
[0016]本技术与现有技术相比的优点在于：本技术通过将芯片测试所需模块集成在母版上，待测器件放置在子板上的技术手段，实现了对芯片集成自动化测试。
附图说明
[0017]图1为本申请实施例提供的原理示意图；
[0018]图2为本申请实施例提供的另一原理示意图；
[0019]图3为本申请实施例提供的采集模块的电路原理图；
[0020]图4为本申请实施例提供的电压转换模块的电路原理图；
[0021]图5为本申请实施例提供的另一电压转换模块电路原理图；
[0022]图6为本申请实施例提供的光耦隔离模块的电路原理图。
[0023]图标：1、主控模块；2、电压转换模块；3、通讯模块；4、采集模块；5、矩阵开关模块；6、AD转换模块；7、光耦隔离模块。
具体实施方式
[0024]为了更好的理解上述技术方案，下面通过附图以及具体实施例对本申请技术方案做详细的说明，应当理解本申请实施例以及实施例中的具体特征是对本申请技术方案的详细的说明，而不是对本申请技术方案的限定，在不冲突的情况下，本申请实施例以及实施例中的技术特征可以相互组合。
[0025]以下结合说明书附图对本申请实施例所提供的监控电路芯片测试系统做进一步详细的说明，具体实现方式可以包括(如图1～6所示)：母版和与所述母版可拆卸连接的子板，所述子板用于放置待测器件，所述母版包括主控模块和与所述主控模块连接的电压转换模块、通讯模块、采集模块、矩阵开关模块和AD转换模块，其中：所述电压转换模块包含第一DCDC转换模块、第二DCDC转换模块和降压模块，所述第一DCDC转换模块和所述第二DCDC转换模块用于将输入电压转换为恒定电压，所述第一DCDC转换模块与所述降压模块相连，所述降压模块用于将输入电压转化为所述主控模块所需的工作电压；所述通讯模块用于所述主控模块与外部计算机进行数据交互；所述采集模块用于采集输入电流、输入电压和所述母版的温度；所述矩阵开关模块用于不同测试信号之间的切换；所述AD转换模块用于将输入的模拟信号转换为数字信号。
[0026]在上述实现过程中，监控电路测试系统包括母版和与母版可拆卸连接的子板，如子板和母版采用双排针座连接或者卡接。子板用于放置待测器件，子板与信号发生器和示波器连接。母版集成测试所需要的模块，包括主控模块和与主控模块连接的电压转换模块、通讯模块、采集模块、矩阵开关模块和AD转换模块。主控模块可以为FPGA芯片,电压转换模块能将母版供电电源与器件供电电源的电压，转换为主控模块、通讯模块、采集模块、矩阵开关模块和AD转换模块所需的工作电压，电压转换模块包含第一DCDC转换模块、第二DCDC
转换模块和降压模块，第一DCDC转换模块和所述第二DCDC转换模块用于将输入电压转换为恒定12V电压、14V或者其他电压值，第二DCDC转换模块与矩阵开关模块相连，用于为矩阵开关模块提供输入电压，第一DCDC转换模块与降压模块相连，降压模块用于将第一DCDC转换模块转化后的电压进行减压，以满足主控模块所需的工作电压；通讯模块用于主控模块与外部计算机进行数据交互；采集模块用于采集输入电流、输入电压和母版的温度；矩阵开关模块用于不同测试信号之间的切换，如器件电源、电源错误指示输入信号\电源错误指示输出信号、看门狗输入信号、看门狗输输出信号、复位信号等；AD转换模块用于将输入的模拟信号转换为数字信号。系统启动时，主控模块能够控制矩阵开关模块切换，实现不同测试电路之间的切换，采集模块进行被测器件的电压及电流信号的采集，并将信号经主控模块传递到与通讯模块连接的上位机界面，当主控模块检测到被测器件电压或电流异常时，能够及时关闭母版供电电源和器件供电电源。信号发生器产生被测电路所需特定参数的电测试信号，示波器进行波形采集。将测试所需要的模块集成到母版上，待测器件放置在子板上，当需要对其他待测器件测试时，只需要对子板的待测器件进行修改，节省测试时本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.监控电路芯片测试系统，其特征在于，包括母版和与所述母版可拆卸连接的子板，所述子板用于放置待测器件，所述母版包括主控模块和与所述主控模块连接的电压转换模块，用于所述主控模块与外部计算机进行数据交互的通讯模块，用于采集输入电流、输入电压和所述母版的温度的采集模块，用于不同测试信号之间的切换的矩阵开关模块，以及用于将输入的模拟信号转换为数字信号的AD转换模块；母版供电电源的输出端连接所述电压转换模块的输入端，所述电压转换模块的输出端连接所述主控模块、所述通讯模块、所述AD转换模块、所述采集模块和所述矩阵开关模块的输入端，所述电压转换模块包括用于将输入电压转换为恒定电压的第一DCDC转换模块和第二DCDC转换模块，以及用于将输入电压转化为所述主控模块所需的工作电压的降压模块，所述第一DCDC转换模块的输出端与所述降压模块的输入端相连，所述降压模块的输出端与所述主控模块的输入端相连。2.根据权利要求1所述的监控电路芯片测试系统，其特征在于，所述降压模块的数量至少为两个且依次相连，用于对所述第一DCDC转换模块转换后的恒定电压进行多次降压。3.根据权利要求1或...

【专利技术属性】
技术研发人员：王永攀，李建强，李栋，周梓桐，关晴丹，董柏汛，
申请(专利权)人：北京航天光华电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：