DIE测试装置制造方法及图纸

本申请公开了一种DIE测试装置，包括针卡模块、测试控制模块、测试程序模块、电源模块和DIE切换模块，针卡模块用于放置待检测DIE；测试控制模块与针卡模块连接，测试控制模块包括多个不同的测试单元；测试程序模块与测试控制模块连接，测试程序模块中存储有不同的测试程序；电源模块与测序程序模块连接；DIE切换模块与测试控制模块连接，DIE切换模块设置有多个切换开关，切换开关对应连通不同的测试单元时，激活不同的测试程序，以实现测试不同型号的待检测DIE。本申请通过以上方式，设置DIE切换模块，通过连通测试控制模块中的不同测试单元，就可以激活不同的测试程序，实现测试不同型号的待检测DIE，提高DIE测试装置的通用性。提高DIE测试装置的通用性。提高DIE测试装置的通用性。

【技术实现步骤摘要】
DIE测试装置


[0001]本申请涉及半导体器件测试领域，尤其涉及一种DIE测试装置。

技术介绍

[0002]随着晶圆(Wafer)制程技术飞速发展，更新迭代迅速，在每次制程技术升级过程中都会一定不足，从而出现一些良率偏低的产品，如果直接选用这些较低良率的晶圆直接封装，就会导致含有大量不可用坏块的产品，当封装费用消耗大于良品产出时企业就开始亏损。
[0003]传统使用的DIE测试装置采用一个die test(晶粒测试)针卡，再通过模拟操作，筛选掉晶圆中的坏块，从而达到测试的目的选出晶圆中的良品进行封装。传统测试装置在测试不同DIE就需要选用对应支持的控制芯片的测试装置，还需要更换测试设备，存在成本高和测试设备更换麻烦等缺点。
[0004]因此，一种测试简单，适用各种不同型号DIE测试的测试装备被人们迫切需要。

技术实现思路

[0005]本申请的目的是提供一种DIE测试装置，通过设置DIE切换模块，提高DIE测试装置的通用性。
[0006]本申请公开了一种DIE测试装置，包括针卡模块、测试控制模块、测试程序模块、电源模块和DIE切换模块，针卡模块用于放置待检测DIE；测试控制模块与所述针卡模块连接，所述测试控制模块包括多个不同的测试单元；测试程序模块与所述测试控制模块连接，所述测试程序模块中存储有不同的测试程序；电源模块与所述测序程序模块连接；DIE切换模块与所述测试控制模块连接，所述DIE切换模块设置有多个切换开关，所述切换开关对应连通不同的所述测试单元时，激活不同的所述测试程序，以实现测试不同型号的所述待检测DIE。
[0007]可选地，所述测试控制模块还包括主控单元，所述主控单元的一端与所述DIE切换模块连接，另一端与所述测试程序模块连接，所述切换开关对应连通不同的所述测试单元时，通过所述主控单元激活不同的所述测试程序。
[0008]可选地，所述测试控制模块通过所述测试单元的一端连接所述针卡模块，所述切换开关对应连通不同的所述测试单元时，通过所述主控单元激活不同的所述测试程序，并连通所述针卡模块。
[0009]可选地，所述针卡模块是可更换的。
[0010]可选地，所述针卡模块包括多个针卡单元，每个所述针卡单元对应一个所述待检测DIE。
[0011]可选地，所述DIE切换模块包括多个控制端子，多个所述控制端子的一端与多个所述切换开关一一对应连接，另一端与多个所述测试单元一一对应连接。
[0012]可选地，所述测试控制模块包括探针卡，所述探针卡设置至少一种，所述探针卡用
于检测所述待检测DIE的待检测部；所述探针卡至少包括一个探针卡组，每个探针卡组设置至少一个探针卡。
[0013]可选地，所述DIE测试装置还包括显示模块，所述显示模块与测试控制模块连接，且位于所述针卡模块的正上方，通过所述显示模块观察所述待检测DIE。
[0014]可选地，所述DIE测试装置还包括串口模块和上位机模块，所述串口模块的一端与所述测试控制模块连接，另一端与所述上位机模块连接。
[0015]可选地，所述DIE测试装置还包括电源开关模块，所述电源开关模块与所述电源模块连接，所述电源开关模块内设置有多个电源切换开关，不同的所述电源切换开关导通不同的供电模式，所述供电模式包括外部供电模式和直接供电模式。
[0016]相对于测试不同DIE需要更换测试控制芯片和测试设备，存在成本高和测试设备更换麻烦的方案来说，本申请的DIE测试装置除了设置针卡模块、测试控制模块、测试程序模块和电源模块各个模块外，还设置有DIE切换模块，DIE切换模块内设置有多个切换开关，每个切换开关连通不同的测试单元，当更换需要检测的待检测DIE时，切换开关对应连通不同的测试单元，测试控制模块激活不同的测试程序，以实现测试不同型号的待检测DIE，通过优化DIE测试装置，避免了更换测试设备麻烦，减少以往DIE测试不同而需要不同设备的购买成本，以及频繁使用不同设备切换的人力成本；同时，仅通过切换开关就可以连通测试单元，切换不同的测试程序，实现不同型号DIE测试切换，实现一机多用，降低了所需更换对应支持的控制芯片的成本，为企业节约一定的经济成本，还减少了设备购买成本，以及后期DIE测试装置的更换维护成本，增强市场竞争力。
附图说明
[0017]所包括的附图用来提供对本申请实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本申请的实施方式，并与文字描述一起来阐释本申请的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：
[0018]图1是本申请DIE测试装置的示意图；
[0019]图2是本申请电源开关模块的电路原理示意图；
[0020]图3是本申请针卡模块的示意图；
[0021]图4是本申请DIE切换模块的电路原理示意图；
[0022]图5是本申请测试控制模块的电路原理示意图；
[0023]图6是本申请DIE切换模块和测试控制模块的电连接示意图。
[0024]其中，10、DIE测试装置；20、针卡模块；210、针卡单元；30、测试控制模块；310、测试单元；320、主控单元；40、测试程序模块；50、电源模块；510、电源开关模块；60、DIE切换模块；610、切换开关；620、控制端子；70、串口模块；80、上位机模块。
具体实施方式
[0025]需要理解的是，这里所使用的术语、公开的具体结构和功能细节，仅仅是为了描述具体实施例，是代表性的，但是本申请可以通过许多替换形式来具体实现，不应被解释成仅受限于这里所阐述的实施例。
[0026]在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示相对重要性，或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，除非另有说明，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征；“多个”的含义是两个或两个以上。术语“包括”及其任何变形，意为不排他的包含，可能存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。
[0027]另外，“中心”、“横向”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系的术语，是基于附图所示的方位或相对位置关系描述的，仅是为了便于描述本申请的简化描述，而不是指示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。
[0028]此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，或是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
[0029]下面参考本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种DIE测试装置，其特征在于，包括针卡模块，用于放置待检测DIE；测试控制模块，与所述针卡模块连接，所述测试控制模块包括多个不同的测试单元；测试程序模块，与所述测试控制模块连接，所述测试程序模块中存储有不同的测试程序；电源模块，与所述测试程序模块连接；以及DIE切换模块，与所述测试控制模块连接，所述DIE切换模块设置有多个切换开关，所述切换开关对应连通不同的所述测试单元时，激活不同的所述测试程序，以实现测试不同型号的所述待检测DIE。2.根据权利要求1所述的DIE测试装置，其特征在于，所述测试控制模块还包括主控单元，所述主控单元的一端与所述DIE切换模块连接，另一端与所述测试程序模块连接，所述切换开关对应连通不同的所述测试单元时，通过所述主控单元激活不同的所述测试程序。3.根据权利要求2所述的DIE测试装置，其特征在于，所述测试控制模块通过所述测试单元的一端连接所述针卡模块，所述切换开关对应连通不同的所述测试单元时，通过所述主控单元激活不同的所述测试程序，并连通所述针卡模块。4.根据权利要求1所述的DIE测试装置，其特征在于，所述针卡模块是可更换的。5.根据权利要求1所述的DIE测试装置，其特征在于，所述针卡模块包括多个针卡单元，每...

【专利技术属性】
技术研发人员：程皓，吴坤龙，罗居勇，
申请(专利权)人：深圳市时创意电子有限公司，
类型：新型
国别省市：