标准单元的检查方法、装置及设备制造方法及图纸

本申请提供一种标准单元的检查方法、装置及设备，该方法包括：获取待检查的标准单元和待检查的标准单元的检查需求；其中，检查需求用于指示关联标准单元；根据检查需求，确定单元集合；其中，单元集合中包括至少一个关联标准单元；关联标准单元为待检查的标准单元在实际应用过程中需要关联使用的标准单元；根据单元集合和待检查的标准单元，确定至少一个电路版图；其中，电路版图中包括待检查的标准单元和至少一个关联标准单元；根据物理设计规则，对电路版图进行检查，得到待检查的标准单元的检查结果；其中，物理设计规则为用于对待检查的标准单元进行检查的规则。进而，通过上述方法可以提高规则检查的准确性。法可以提高规则检查的准确性。法可以提高规则检查的准确性。

【技术实现步骤摘要】
标准单元的检查方法、装置及设备


[0001]本申请涉及集成电路领域，尤其涉及一种标准单元的检查方法、装置及设备。

技术介绍

[0002]目前，在集成电路设计过程中，通常有多个标准单元组成，其中，标准单元可以理解为自称集成电路的最基础单元。标准单元中可以包括有门电路和逻辑单元。在标准单元设计完成后，通常需要对设计好的标准单元进行物理规则的检查，以确保得到的标准单元符合设计规则。
[0003]如何对设计好的标准单元进行检查，以确保标准单元检查的准确性，是一个亟需解决的问题。

技术实现思路

[0004]本申请提供一种标准单元的检查方法、装置及设备，用以解决相关技术中标准单元检查不准确的问题。
[0005]第一方面，本申请提供一种标准单元的检查方法，包括：
[0006]获取待检查的标准单元和所述待检查的标准单元的检查需求；其中，所述检查需求用于指示关联标准单元；
[0007]根据所述检查需求，确定单元集合；其中，所述单元集合中包括至少一个关联标准单元；所述关联标准单元为所述待检查的标准单元在实际应用过程中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种标准单元的检查方法，其特征在于，包括：获取待检查的标准单元和所述待检查的标准单元的检查需求；其中，所述检查需求用于指示关联标准单元；根据所述检查需求，确定单元集合；其中，所述单元集合中包括至少一个关联标准单元；所述关联标准单元为所述待检查的标准单元在实际应用过程中需要关联使用的标准单元；根据所述单元集合和所述待检查的标准单元，确定至少一个电路版图；其中，所述电路版图中包括所述待检查的标准单元和至少一个关联标准单元；根据物理设计规则，对所述电路版图进行检查，得到所述待检查的标准单元的检查结果；其中，所述物理设计规则为用于对待检查的标准单元进行检查的规则。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检查需求中包括：至少一个第一标识；所述第一标识为用于存储所述关联标准单元的单元库的标识；根据所述检查需求，确定单元集合，包括：根据所述第一标识，获取与所述第一标识所对应的白名单集合；其中，所述白名单集合中包括至少一个无关标准单元；所述无关标准单元为所述第一标识所对应的单元库中无需与所述待检查的标准单元在实际应用过程中关联使用的标准单元；根据所述白名单集合和所述第一标识所指示的单元库，确定所述单元集合。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述单元集合和所述待检查的标准单元，确定至少一个电路版图，包括：确定所述待检查的标准单元在空白版图中的第一布放信息，并将所述第一布放信息写入位置集合中；其中，所述第一布放信息用于指示所述待检查的标准单元在所述空白版图中的布放位置；重复以下步骤，直至达到第一预设条件：在所述单元集合选择一个关联标准单元作为待定单元；根据所述待定单元的第二器件参数信息和所述位置集合，确定所述待定单元的第二布放信息；将所述第二布放信息写入所述位置集合；所述第二布放信息为所述待定单元在所述空白版图中的布放位置；所述第一预设条件为停止选择待定单元的条件；根据所述位置集合、所述待检查的标准单元以及所述待定单元，生成电路版图。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述位置集合、所述待检查的标准单元以及所述待定单元，生成电路版图，包括：根据所述位置集合，在空白版图上分别布放所述待检查的标准单元和所述待定单元，得到待定版图；在所述待定版图中填充至少一个边界单元，得到所述电路版图；其中，所述电路版图中所述边界单元位于第一区域的外边界处，且第二区域为矩形区域；所述第一区域为所述待检查的标准单元和所述待定单元在所...

【专利技术属性】
技术研发人员：顾晨超，
申请(专利权)人：合芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：