光学测量装置工作模式控制方法制造方法及图纸

本发明专利技术揭示一种光学测量装置工作模式控制方法，包括如下步骤：光学测量装置启动，进入加热模式；利用温度检测元件检测光学测量装置的温度，如果温度小于预设的第一温度阈值则令光学测量装置保持加热模式；如温度大于第一温度阈值，则发送指令给与该光学测量装置连接的上位机，告知上位机该光学测量装置达到理想工作区间，可正常抓取数据；检测光学测量装置的温度是否大于第二温度阈值，如否判断上位机是否发出抓取数据的指令，如否则持续判断；如果检测光学测量装置的温度大于第二温度阈值或接收到上位机发出抓取数据的指令，则进入工作模式。模式。模式。

【技术实现步骤摘要】
光学测量装置工作模式控制方法


[0001]本专利技术属于测量
，特别涉及光学测量装置工作模式控制方法。

技术介绍

[0002]光学测量装置(如工业相机)以其高精度、非接触、自动化以及低成本等优势，被广泛运用在航空航天、汽车制造、建筑、工程等领域。然而在使用过程中，除了镜头的畸变误差之外，工业相机的内外参数会因工业相机热效应而产生变化，热胀冷缩引起工业相机内部器件(如安装光学透镜的塑胶定位元件)产生变形，导致光学材料折射率发生变化等，进一步造成镜头焦距和光轴产生变形。这些变化不可避免地导致采集的图像高度数据产生误差，造成实际测量精度下降，无法满足高精度器件测量需求。
[0003]以往相关行业处理方式大多是将相机预热达到热平衡后再进行测量，此种方式需要较长时间预热，通常每次预热通常需要十几分钟乃至更多，热机时间过长，热机时间测量的结果还是存在较大误差。或者通过外接温度传感器，在相机图像数据输出后，通过上层应用算法拟合补偿图像的高度数据，但是受制于每一台相机的温度特性差异，同一个上层应用算法无法完全契合不同的相机，也就造成无法准确的补偿图像高度数据，同时会增加应用程序开发难度。
[0004]3D相机感光部件对温度要求比较高，在合理的温度区间测量值偏差较低，所以相机工作时最好维持在一个理想温度区间以确保得到较高的测量精度。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种光学测量装置工作模式控制方法，通过对光学测量装置工作模式的控制，以克服现有技术中需采用预热或利用上层应用算法拟合补偿图像的高度数据所导致的等待时间过长或增加开发难度的问题。
[0006]为实现上述目的，本专利技术揭示一种光学测量装置工作模式控制方法，所述光学测量装置与一上位机配合使用，并且所述光学测量装置还设有一温度检测元件检测光学测量装置的工作温度，实施本专利技术的光学测量装置工作模式控制方法包括如下步骤：
[0007]光学测量装置启动，进入加热模式，其中在加热模式下，光学测量装置的光源发射装置关闭，光学测量装置利用控制芯片及图像传感器高频工作时产生的热量令光学测量装置升温；
[0008]利用温度检测元件检测光学测量装置的温度，如果温度小于预设的第一温度阈值则令光学测量装置保持加热模式；
[0009]如温度大于第一温度阈值，则发送指令给与该光学测量装置连接的上位机，告知上位机该光学测量装置达到理想工作区间，可正常抓取数据，此时不退出加热模式继续升温；
[0010]检测光学测量装置的温度是否大于第二温度阈值，如否判断上位机是否发出抓取数据的指令，如否则持续判断；
[0011]如果检测光学测量装置的温度大于第二温度阈值或接收到上位机发出抓取数据的指令，则进入工作模式，此时光学测量装置停止内部升温，进入正常工作状态，此时光源发射装置正常工作，可以随时抓取光学测量装置检测的数据。
[0012]依据上述主要特征，在判断该光学测量装置温度是否低于第一温度阈值，如否则持续检测；如是，则启动加热模式，之后返回判断光学测量装置的温度是否大于第二温度阈值的步骤。
[0013]与现有技术相比较，本专利技术没有采用常规的电阻或加热器加热，而是给光学测量装置设置特殊的工作模式，利用光学测量装置工作时产生的热量来维持温度，使光学测量装置处于最佳的工作状态，如此不需要外接温度传感器，减少了布线，无需内部电阻或加热器，能快速进入工作状态，并且不需要软件处理温度补偿，降低了应用开发难度。
【附图说明】
[0014]图1为光学测量装置上电后的温度曲线示意图。
[0015]图2为实施本专利技术的光学测量装置工作模式控制方法的流程示意图。
【具体实施方式】
[0016]请参阅图1所示，为光学测量装置上电后的温度曲线，图中温度TA对应的是理想工作温度上限，温度TB对应的是理想工作温度下限。温度TA和温度TB之间就是光学测量装置的理想工作区间，因此本专利技术所揭示的方案的主要目的就是维持光学测量装置的工作温度在温度TA和温度TB之间的理想工作区间。并且，本专利技术并未通过在光学测量装置中设置常规的电阻或加热器加热，而是给光学测量装置设置特殊的工作模式，利用光学测量装置工作时产生的热量来维持相机温度，使光学测量装置处于最佳的工作状态。其中给光学测量装置设置的特殊的工作模式有二种：
[0017]第一种为加热模式，此时光学测量装置处于内部触发连续模式，此种状态下光源发射装置(如激光光源)关闭，光学测量装置利用控制芯片及图像传感器高频工作时产生的热量实现光学测量装置快速升温。
[0018]第二种模式为工作模式，此时光学测量装置停止内部升温，进入正常工作状态，此时光源发射装置(如激光光源)正常工作，可以随时抓取光学测量装置检测的数据。
[0019]所述加热模式目的为了提高光学测量装置的温度，使光学测量装置进入理想工作区间。工作模式就是进入到用户设置的工作状态，此状态下如果触发抓取则可以保持温度不降低，如果没有触发抓取则温度就会缓慢下降，这决定了工作模式设置的时机。在温度上升区间检测到抓取数据信号则切换到工作模式，然后抓取数据，在温度下降区间可先切换到工作模式等待用户的抓取信号，这样光学测量装置能得到更快速的响应，对抓取信号的延迟更低。
[0020]请参阅图2，为实施本专利技术的光学测量装置温度控制方法的流程示意图，实施本专利技术的光学测量装置温度控制方法包括如下步骤：
[0021]S200：光学测量装置启动；
[0022]S201：光学测量装置进入加热模式；
[0023]S202：利用温度检测元件检测光学测量装置的工作温度，判断光学测量装置是否
小于预设的第一温度阈值TB；
[0024]如否，则进入S204，即保持加热模式，之后返加步骤S202持续检测；
[0025]如是，则进入步骤S203，发送指令给与该光学测量装置连接的上位机，告知上位机该光学测量装置达到理想工作区间，可以正常抓取数据；
[0026]S206:判断该光学测量装置温度是否大于第二温度阈值TA；
[0027]如否，则进入步骤S205，检测上位机是否发出抓取数据的指令；如否则持续检测；
[0028]如是，或者该光学测量装置温度大于第二温度阈值TA，则进入步骤S207，令光学测量装置进入到工作模式，此时温度进入下降区间；
[0029]S208：判断该光学测量装置温度是否低于第一温度阈值TB，如否则持续检测；
[0030]如是，则进入步骤S209，即启动加热模式，之后返回步骤S206。
[0031]在具体实施时，理想工作区间可能会与光学测量装置的工作帧率和现场环境有关，需合理配置，并且停止加热后应立即抓取数据，以免温度降低影响测量精度。
[0032]与现有技术相比较，本专利技术没有采用常规的电阻或加热器加热，而是给光学测量装置设置特殊的工作模式，利用光学测量装置工作时产生的热量来维持温度，使光学测量装置处于最佳的工作状态，如此不需要本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学测量装置工作模式控制方法，所述光学测量装置与一上位机配合使用，并且所述光学测量装置还设有一温度检测元件检测光学测量装置的工作温度，其特征在于所述光学测量装置工作模式控制方法包括如下步骤：光学测量装置启动，进入加热模式，其中在加热模式下，光学测量装置的光源发射装置关闭，光学测量装置利用控制芯片及图像传感器高频工作时产生的热量令光学测量装置升温；利用温度检测元件检测光学测量装置的温度，如果温度小于预设的第一温度阈值则令光学测量装置保持加热模式；如温度大于第一温度阈值，则发送指令给与该光学测量装置连接的上位机，告知上位机该光学测量装置达到理...

【专利技术属性】
技术研发人员：周春东，高玉斌，刘建，
申请(专利权)人：上海芯歌智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：