【技术实现步骤摘要】
多层结构电容阳极及其制备方法、位敏阳极探测器
[0001]本专利技术涉及位敏阳极探测器及其制备方法,具体涉及一种多层结构电容阳极及其制备方法、位敏阳极探测器。
技术介绍
[0002]感应式位敏阳极光子计数探测器主要由光电阴极、V型或者Z型级联MCP、镜像电荷读出单元和位敏阳极组成。单光子入射光电阴极通过外光电效应转换成单光电子,单光电子经级联MCP倍增后输出电子云团,电子云团在加速电场作用下撞击到电阻薄膜层表面,然后其高频信号经过电介质耦合至后端的位敏阳极,直流成分通过电阻薄膜层泄放至地平面,位敏阳极读出电极输出的电荷信号携带有事件的位置信息,通过后端读出电子学解码出电荷云团的质心位置坐标,最终实现光子计数成像。具有背景噪声低、信噪比高、动态范围宽、无暗电流影响等优点,已被广泛应用于深空紫外、X射线和各种高能带电粒子探测、时间分辨荧光寿命成像、光电子能谱仪等领域。
[0003]位敏阳极是探测器实现成像功能的关键部件,主要有电阻阳极、楔条阳极、游标阳极、延时线阳极、交叉条阳极和电容阳极。电阻阳极受电阻热噪声和寄生电容影响,空间分辨率和计数率都很低;楔条阳极受极间电容和分割噪声影响,空间分辨率无法进一步提高;游标阳极虽然具有很高的空间分辨率,但是计数率很低,而且制作工艺较为复杂;延时线阳极利用信号在电极上传输的时间差计算位置,因而具有较高的时空分辨能力,但对时间测量电路的精度要求较高;交叉条阳极通过多个条带电极对电荷云进行采样,并由解码公式计算质心位置,要求每个输出电极都具有独立读出电路,增加了读出电子学系统的复 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种多层结构电容阳极,其特征在于:包括底层电介质(1)和设置在底层电介质(1)上方的镜像电荷读出单元(2),设置在底层电介质(1)和镜像电荷读出单元(2)之间的K层第一电极层(3),以及分别设置在相邻两个第一电极层(3)之间的K
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1层第二电极层(4);其中,K≥2且为整数;所述第一电极层(3)与所述第二电极层(4)之间设有中间层电介质(5);所述底层电介质(1)、第一电极层(3)、第二电极层(4)、中间层电介质(5)以及镜像电荷读出单元(2)为一体化设置;所述第二电极层(4)上设置信号读出电极(43);所述底层电介质(1)和各个中间层电介质(5)上分别对应设置有四个电极孔,用于将信号读出电极(43)引出;所述镜像电荷读出单元(2)包括感应层基底(21);所述感应层基底(21)上端中部镀有高阻感应薄膜(22),所述高阻感应薄膜(22)的外缘设有一圈接地电极(23)。2.根据权利要求1所述的多层结构电容阳极,其特征在于:所述第一电极层(3)包括第一周长电极区(31)和矩形的第一收集电极区(32);所述第一周长电极区(31)包括分别设置在第一收集电极区(32)四边的四组M个并排等间距设置的第一长条形电极,M>1且为奇数;所述第一收集电极区(32)包括(((2M+1)
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(2M+1))-1)/2个正方形电极构成的(2M+1)行
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(2M+1)列矩阵;其中,偶数行正方形电极的数量比奇数行正方形电极的数量多一个,且相邻行之间的正方形电极在纵向上错位设置;各个正方形电极在水平和垂直方向上的间距保持一致,且相邻近的正方形电极之间设有间隙;位于第一收集电极区(32)四边外围的M个正方形电极分别与对应的M个第一长条形电极合为一体;所述第二电极层(4)包括第二周长电极区(41)和矩形的第二收集电极区(42);所述第二收集电极区(42)和第一收集电极区(32)形状相同且上下对应;所述第二周长电极区(41)包括分别设置在第二收集电极区(42)四边的四组M+1个并排等间距设置的第二长条形电极;所述第二长条形电极的长度大于第一长条形电极的长度,第二长条形电极的外侧短边与第一长条形电极的外侧短边上下对齐;第二长条形电极在垂直方向上同时与两个相邻的第一长条形电极具有重合区域;位于所述第二收集电极区(42)各顶点两侧的两个第二长条形电极合并为信号读出电极(43);所述第二收集电极区(42)包括((((2M+1)
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(2M+1))-1)/2)+1个等边菱形电极构成的(2M+1)行
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(2M+1)列矩阵;其中,偶数行菱形电极的数量比奇数行菱形电极的数量少一个,且相邻行之间的菱形电极在纵向上错位设置;各个菱形电极在水平和垂直方向上的中心距离保持一致,且相邻近的菱形电极之间设有间隙;等边菱形电极的边长大于正方形电极的对角线长度;等边菱形电极的对角线长度等于第二长条形电极的宽度;位于第二收集电极区(42)四边外围的M+1个菱形电极分别与对应的M+1个第二长条形电极合为一体;其余的菱形电极四角在垂直方向上同时与对应的四个正方形电极具有重合区域。3.根据权利要求1或2所述的多层结...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨凯,白永林,郑锦坤,曹伟伟,王博,朱炳利,
申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所,
类型:发明
国别省市:
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