【技术实现步骤摘要】
角点检测方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品
[0001]本申请涉及计算机
,特别是涉及一种角点检测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。
技术介绍
[0002]随着计算机技术的发展,以及各类电子产品,包括计算机类、通信类和消费类等电子产品的广泛应用,对于各类电子产品的产品质量要求日益提升。其中,电子产品中不同器件的尺寸规格准确无误,对于产品的整体质量尤为重要,在器件安装过程中,若出现器件尺寸错误的情况,则会导致器件安装失败、以及产品完整结构被破坏的问题。因此,在产品质检过程中,出现了对器件进行尺寸测量,判断器件的尺寸是否符合尺寸规格,从而减少尺寸错误的方式。
[0003]传统上,通常需要确定出器件图像和模板图像之间的特征像素点(即角点)的对应关系,以判断器件图像和模板图像之间是否存在偏差,从而判断器件的尺寸是否符合模板的尺寸规格。其中,在查找图像上的角点时,通常是利用局部窗口在图像上进行移动,判断灰度是否发生较大的变化,即如果窗口内的灰度值都有较大的变化,则该窗口所在区域就存在角点。
[0004]然而,由于实际作业场景的抓点经常存在不同斜率的情况,通用的角点查找算法适用于斜率单一固定的场景,无法适应于不同斜率的角点的查找,其角点的检测结果也容易出现错误。因此,通用的角点查找算法,仍然存在角点检测结果准确度较为低下的问题。
技术实现思路
[0005]基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够提升角点检测结果准确度的角点检测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种角点检测方法,其特征在于,所述方法包括:获取待检测产品图像,以及与所述待检测产品图像的产品规格匹配的模板图像;基于所述模板图像,对所述待检测产品图像进行位置调整,获得粗调产品图像;根据所述模板图像上的角点模板,对所述粗调产品图像进行角点区域搜索处理,获得所述粗调产品图像上与所述角点模板匹配的角点区域;基于角点检测参数、以及与所述角点区域对应的纵向积分图,进行角点检测处理,获得与所述待检测产品图像对应的角点。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述模板图像上的角点模板,对所述粗调产品图像进行角点区域搜索处理,获得所述粗调产品图像上与所述角点模板匹配的角点区域,包括:根据所述模板图像上的角点模板,确定在所述粗调产品图像上的搜索区域;在所述搜索区域中,按照所述角点模板进行角点区域搜索处理,获得与所述角点模板匹配的角点区域。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述在所述搜索区域中,按照所述角点模板进行角点区域搜索处理,获得与所述角点模板匹配的角点区域,包括:在所述搜索区域中,按照所述角点模板进行角点区域搜索处理,获得多个候选角点区域;确定所述角点模板和各所述候选角点区域之间的相似度数据;根据所述相似度数据,确定与所述角点模板匹配的角点区域。4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述角点模板包括左角点模板和右角点模板;所述搜索区域包括与所述左角点模板对应的多个第一搜索区域、以及与所述角点模板对应的多个第二搜索区域;其中,各所述第一搜索区域不重合、各所述第二搜索区域不重合。5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述确定所述角点模板和各所述候选角点区域之间的相似度数据,包括:确定所述角点模板包括的模板区域对应的第一像素平均值、以及各所述候选角点区域对应的第二像素平均值;根据所述第一像素平均值、以及所述角点模板包括的模板区域中各像素点的坐标值,确定与所述角点模板对应的第一像素标准差;根据所述第二像素平均值、以及所述候选角点区域中各像素点的坐标值,确定与所述候选角点区域对应的第二像素标准差;基于所述第一像素平均值、第一像素标准差、第二像素平均值、第二像素标准差以及缩放参数,确定所述角点模板和所述各候选角点区域之间的相似度数据。6.根据权利要求1至3任意一项所述的方法,其特征在于,所述角点检测参数包括采样距离;所述基于角点检测参数、以及与所述角点区域对应的纵向积分图,进行角点检测处理,获得与所述待检测产品图像对应的角点,包括:按照所述采样距离,依次在所述纵向积分图上进行采样,获得与所述采样距离对应的采样点坐标对;若所述采样点坐标对的差分值,满足角点检测结束条件,获得与所述待检测产品图像
对应的角点。7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述角点检测参数还包括起始坡度和结束坡度;所述若所述采样点坐标对的差分值,满足角点检测结束条件,获得与所述待检测产品图像对应的角点,包括:若所述采样点坐标对的差分值大于所...
【专利技术属性】
技术研发人员:张天亮,刘俊,聂聪冲,詹佳伟,陈晓辰,汪铖杰,
申请(专利权)人:腾讯科技深圳有限公司,
类型:发明
国别省市:
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