电子器件的失效定位方法、装置、系统及计算机设备制造方法及图纸

本申请涉及一种电子器件的失效定位方法、装置、系统及计算机设备，通过向空载探针中发送测试信号，获取测试信号对应的第一阻抗变化点，然后将探针与待测样品连接，并向与探针连接的待测样品发送测试信号，以获取待测样品的第二阻抗变化点，根据待测样品的环境试验条件确定待测样品是否失效，在待测样品失效的情况下，获取待测样品的阻抗信号超过失效阈值的失效时间，然后根据测试信号的传输距离、失效时间、第一阻抗变化点对应的第一时间以及第二阻抗变化点对应的第二时间确定待测样品的失效点位置，实现了失效点的精确定位，提高了失效分析的效率和精确性。分析的效率和精确性。分析的效率和精确性。

【技术实现步骤摘要】
电子器件的失效定位方法、装置、系统及计算机设备


[0001]本申请涉及集成电路
，特别是涉及一种电子器件的失效定位方法、装置、系统及计算机设备。

技术介绍

[0002]随着5G通信的快速发展，电子器件结构逐渐向微型化、集成化、复杂化方向发展。为满足5G通信的高频高速的技术需求，电子元器件、印刷电路板（Printed Circuit Board，PCB）以及印刷电路板装配（Printed Circuit Board Assembly，PCBA）的制造工艺、原材料以及结构均发生明显变化，新工艺、新材料以及新结构的引入使电子系统的可靠性风险陡增。
[0003]传统的电子元器件、PCB以及PCBA在制造后需要对产品进行环境应力试验筛选，经历多组环境应力试验筛选的电子元器件、PCB以及PCBA方可流入市场。但这种筛选方式的主要目的是筛选出测试样品的早期失效品，并不能很好的模拟产品在运输、贮存、服役过程的应力载荷。另外，在获得失效品后，需要依次通过电测、无损失效分析、有损失效分析等系列流程对失效品进行分析，此时，难以对失效品的失效背景进行追溯，且整个失效分析环节较长。因此，如何在电子器件失效时进行准确的失效定位成为当前急需解决的问题之一。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够对电子器件进行准确失效定位及分析，提高失效分析效率的电子器件的失效定位方法、装置、系统及其计算机设备。
[0005]第一方面，本申请提供了一种电子器件的失效定位方法，方法包括：向空载探针发送测试信号，以获取测试信号对应的第一阻抗变化点；向与探针连接的待测样品发送测试信号，以获取待测样品的第二阻抗变化点；根据待测样品的环境试验条件确定待测样品是否失效；在待测样品失效的情况下，获取待测样品的阻抗信号超过失效阈值的失效时间；根据测试信号的传输距离、失效时间、第一阻抗变化点对应的第一时间以及第二阻抗变化点对应的第二时间确定待测样品的失效点位置。
[0006]在其中一个实施例中，根据测试信号的传输距离、失效时间、第一阻抗变化点对应的第一时间以及第二阻抗变化点对应的第二时间确定待测样品的失效点位置，包括：根据测试信号的传输距离、第一阻抗变化点对应的第一时间以及第二阻抗变化点对应的第二时间确定测试信号的传输速度；根据失效时间、第一时间和传输速度确定待测样品的失效点位置。
[0007]在其中一个实施例中，根据测试信号的传输距离、第一阻抗变化点对应的第一时间以及第二阻抗变化点对应的第二时间确定测试信号的传输速度，包括：获取第二时间和第一时间的第一时间差值；根据预设第一系数的传输距离与第一时间差值的比值确定传输速度。
[0008]在其中一个实施例中，根据失效时间、第一时间和传输速度确定待测样品的失效
点位置，包括：获取失效时间和第一时间的第二时间差值；根据预设第二系数的传输速度与第二时间差值的乘积确定失效点位置。
[0009]在其中一个实施例中，根据待测样品的环境试验条件确定待测样品是否失效，包括：在应力加载总周期内为待测样品提供环境试验条件，基于测试信号连续多次获取待测样品的阻抗信号；在阻抗信号对应的阻抗值超过失效阈值的情况下，确定待测样品失效。
[0010]在其中一个实施例中，在阻抗信号对应的阻抗值超过失效阈值的情况下，确定待测样品失效，包括：在阻抗信号对应的阻抗值至少连续三次超过失效阈值的情况下，确定待测样品失效。
[0011]在其中一个实施例中，电子器件的失效定位方法还包括：在待测样品失效的情况下，获取待测样品失效的环境试验条件；根据环境试验条件确定应力加载总周期内的应力曲线；根据应力曲线和待测样品的阻抗信号确定待测样品的失效影响因素。
[0012]第二方面，本申请还提供了一种电子器件的失效定位装置，装置包括：阻抗获取模块，用于向空载探针中发送测试信号，以获取测试信号对应的第一阻抗变化点；以及向与探针连接的待测样品发送测试信号，以获取待测样品的第二阻抗变化点；失效确认模块，用于根据待测样品的环境试验条件确定待测样品是否失效；在待测样品失效的情况下，获取待测样品的阻抗信号超过失效阈值的失效时间；位置确定模块，用于根据测试信号的传输距离、失效时间、第一阻抗变化点对应的第一时间以及第二阻抗变化点对应的第二时间确定待测样品的失效点位置。
[0013]第三方面，本申请还提供了一种电子器件的失效定位系统，系统包括：探针组件，包括探针和载物台，探针设置在载物台上，探针用于与待测样品连接；TDR测试系统，与探针连接，用于向探针提供测试信号，以获取第一阻抗变化点和第二阻抗变化点以及失效时间；环境试验箱，用于容置探针组件，为待测样品提供环境试验条件；控制系统，用于控制环境试验箱提供环境试验条件；处理系统，分别与TDR测试系统、控制系统连接，用于根据测试信号的传输距离、失效时间、第一阻抗变化点对应的第一时间以及第二阻抗变化点对应的第二时间确定待测样品的失效点位置。
[0014]第四方面，本申请还提供了一种计算机设备，计算机设备包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现本公开中任一个实施例中的方法的步骤。
[0015]上述电子器件的失效定位方法、装置、系统及其计算机设备，通过向空载探针中发送测试信号，获取测试信号对应的第一阻抗变化点，以获取测试信号从信号发出点传输至探针的时间，然后将探针与待测样品连接，并向与探针连接的待测样品发送测试信号，获取第二阻抗变化点，以获取测试信号从信号发出点传输至待测样品传输距离的末端的时间，然后使用控制系统控制环境试验箱变化环境试验条件，根据待测样品的环境试验条件确定待测样品是否失效，在待测样品失效的情况下，获取待测样品的阻抗信号超过失效阈值的失效时间，然后根据测试信号的传输距离、失效时间、第一阻抗变化点对应的第一时间以及第二阻抗变化点对应的第二时间确定待测样品的失效点位置，本申请通过为待测样品提供环境试验条件，使待测样品经历从良品到失效品的全过程，获取了一系列测试信号传输的时间，例如，失效时间、第一阻抗变化点对应的第一时间以及第二阻抗变化点对应的第二时间，在待测样品失效时，根据测试信号传输的时间和传输距离便能够精准定位失效点位置，
提高了失效分析的效率和精确性。
附图说明
[0016]图1为一个实施例中电子器件的失效定位方法的流程示意图；图2为一个实施例中电子器件的失效定位方法中阻抗信号的示意图；图3为一个实施例中电子器件的失效定位方法中失效点位置的示意图；图4为一个实施例中陶瓷组件的结构示意图；图5为一个实施例中陶瓷组件中焊点的结构示意图；图6为一个实施例中电子器件的失效定位系统的示意图；图7为另一个实施例中电子器件的失效定位方法的流程示意图；图8为一个实施例中电子器件的失效定位装置的结构框图。
具体实施方式
[0017]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子器件的失效定位方法，其特征在于，所述方法包括：向空载探针发送测试信号，以获取所述测试信号对应的第一阻抗变化点；向与所述探针连接的待测样品发送所述测试信号，以获取所述待测样品的第二阻抗变化点；根据所述待测样品的环境试验条件确定所述待测样品是否失效；在所述待测样品失效的情况下，获取所述待测样品的阻抗信号超过失效阈值的失效时间；根据所述测试信号的传输距离、所述失效时间、所述第一阻抗变化点对应的第一时间以及所述第二阻抗变化点对应的第二时间确定所述待测样品的失效点位置。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述测试信号的传输距离、所述失效时间、所述第一阻抗变化点对应的第一时间以及所述第二阻抗变化点对应的第二时间确定所述待测样品的失效点位置，包括：根据所述测试信号的传输距离、所述第一阻抗变化点对应的第一时间以及所述第二阻抗变化点对应的第二时间确定所述测试信号的传输速度；根据所述失效时间、所述第一时间和所述传输速度确定所述待测样品的失效点位置。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试信号的传输距离、所述第一阻抗变化点对应的第一时间以及所述第二阻抗变化点对应的第二时间确定所述测试信号的传输速度，包括：获取所述第二时间和所述第一时间的第一时间差值；根据预设第一系数的所述传输距离与所述第一时间差值的比值确定所述传输速度。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述失效时间、所述第一时间和所述传输速度确定所述待测样品的失效点位置，包括：获取所述失效时间和所述第一时间的第二时间差值；根据预设第二系数的所述传输速度与所述第二时间差值的乘积确定所述失效点位置。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测样品的环境试验条件确定所述待测样品是否失效，包括：在应力加载总周期内为所述待测样品提供所述环境试验条件，基于所述测试信号连续多次获取所述待测样品的阻抗信号；在所述阻抗信号对应的阻抗值超过失效阈值的情况下，确定所述待测样品失效。6.根据权利要求5所述的方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘加豪，孙朝宁，赵昊，陈方舟，陈泽坚，肖美珍，吴建宇，刘沛江，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：