一种MOS驱动器的多项自动测试系统及方法技术方案

技术编号:39290018 阅读:14 留言:0更新日期:2023-11-07 10:59
本发明专利技术公开了一种MOS驱动器的多项自动测试系统及方法,可实现MOS驱动器的多项自动化测试,提高工作效率,提升测试准确度。MOS驱动及MOS管(负载)安装于测试板卡上,并在程控电源和信号发生器的作用下正常工作;工作状态下的MOS驱动器在上位机的控制下,经开关电路调配测试点,采用万用表、示波器获取测量数据,完成测试。整个测试过程在上位机的控制下实现自动化切换,以提高工作效率。此外,上位机在测试过程中实时检测测试结果是否超过正常阈值范围,及时进行修改和调试,提高了测试的安全性。提高了测试的安全性。提高了测试的安全性。

【技术实现步骤摘要】
一种MOS驱动器的多项自动测试系统及方法


[0001]本专利技术涉及MOS驱动器测试
,具体涉及一种MOS驱动器的多项自动测试系统及方法。

技术介绍

[0002]MOS驱动器具有集成度高、设计简便、性能可靠的优点,使用广泛。高压、高速功率MOS(金氧半场效晶体管)驱动器具备独立的高和低边参考输出通道,其专有高压IC(集成驱动)、HVIC(高压集成电路)和闩锁CMOS技术保证了其坚固的整体结构;输入信号逻辑兼容标准的CMOS(互补金属氧化物半导体)和LSTTL(低功耗肖特基逻辑门电路)输出;输出驱动设计为最小驱动器交叉传导的高脉冲电流缓冲电平;其传播延迟匹配电路可以在高频应用中简化使用过程;其隔离悬浮输出通道可在工作在高达400伏特时驱动高压侧的N沟道功率MOS,使该N沟道功率MOS正常工作。MOS驱动器影响整个系统的动作速度和驱动能力,因此需对MOS驱动器进行性能测试是十分必要的。
[0003]当前,MOS驱动器的测试多为单项测试,效率较低,且MOS驱动器安装到电路板卡后一般是直接使用,很少进行性能测试。而受外围电子元器件的电气特性影响,安装到电路板卡的MOS驱动器的性能与单片MOS驱动器时有着部分区别。在要求较高的应用场景中,目前亟需一种准确度较高的MOS驱动器的性能测试方法。

技术实现思路

[0004]有鉴于此,本专利技术提供了一种MOS驱动器的多项自动测试系统及方法,能够自动完成多项测试,且测试准确度较高。
[0005]为实现上述目的,本专利技术的技术方案为:
[0006]一种MOS驱动器的多项自动测试系统,包括上位机和安装于测试板卡上的MOS驱动器、MOS管、示波器、万用表、信号发生器、程控电源和开关电路。
[0007]上位机经通讯接口与程控电源、信号发生器、万用表和示波器连接,设置测试参数并接收测试结果;信号发生器和程控电源与MOS驱动器的输入端连接,根据上位机的设置指令为MOS驱动器提供电压和信号,使其处于正常工作状态;MOS驱动器与MOS管连接,发送使能信号驱动MOS管工作;上位机与开关电路连接,发送控制指令;开关电路与测试板卡上的测试点连接,根据控制指令切换测试点;测试点布设于MOS驱动器和MOS管的输入端和输出端,与万用表和示波器连接;万用表与示波器将在测试点得到的测试结果发送给上位机。
[0008]进一步的,测试板卡包括测试子板和测试母板;测试子板上安装有MOS驱动器和MOS管,并在MOS驱动器和MOS管的输入端设有信号发生器和程控电源的输入接口,信号发生器和程控电源经输入接口为MOS驱动器提供电压和信号;MOS驱动器和MOS管的输入端与输出端设有测试点,万用表、示波器在测试点处获取测试结果;测试母板上安装有开关电路,其输入端与上位机连接,输出端与测试点连接。
[0009]进一步的,上位机包括测试执行模块、测试项目管理模块和测试数据管理模块。
[0010]测试项目管理模块根据测试项目构建测试流程,发送给测试执行模块;测试执行模块执行测试流程,发送控制指令和设置指令,并接收测试结果,发送给测试数据管理模块;测试数据管理模块接收测试结果并存储。
[0011]进一步的,上位机根据测试结果判断MOS驱动器的各项指标是否合格,若有不合格,则排查系统后重新进行测试;上位机根据测试结果输出测试报告,测试报告包括测试人、测试开始时间、测试完成时间、测试项目、MOS驱动器的类型和测试结果。
[0012]一种MOS驱动器的多项自动测试方法,采用上述多项自动测试系统实现,步骤包括:
[0013]S1、搭建MOS驱动器的多项自动测试系统。
[0014]S2、根据当前测试项目,上位机经通讯接口向程控电源、信号发生器、万用表和示波器发送设置和控制指令,设置测试参数;信号发生器和程控电源根据上位机的设置指令为MOS驱动器提供电压和信号,使其处于正常工作状态;同时,上位机向开关电路发送控制指令,开关电路根据控制指令切换到当前测试项目的测试点。
[0015]S3、在上位机的控制指令的作用下,万用表和示波器在S2的测试点处获取测试结果,并发送给上位机;上位机接收测试结果并判断是否合格,对不合格的指标排查系统后重新进行测试,当测试结果合格时上位机判断所有测试项目是否完成,是则切换到下一测试项目,返回S2继续执行,否则结束测试流程并输出测试报告。
[0016]进一步的,测试报告包括测试人、测试开始时间、测试完成时间、测试项目、MOS驱动器的类型和测试结果。
[0017]进一步的,S3还包括:上位机在接收测试结果后,首先判断测试结果是否超过正常阈值范围,是则判定为不正常,修改并调试不正常的测试结果对应的测试点的开关电路、示波器、万用表、信号发生器和程控电源,调试后重新启动上位机,返回S2继续执行,否则判断测试结果是否合格,并执行后续步骤。
[0018]有益效果:
[0019]1、本专利技术提出一种MOS驱动器的多项自动测试系统,可实现MOS驱动器的多项自动化测试,提高工作效率,提升测试准确度。MOS驱动及MOS管(负载)安装于测试板卡上,并在程控电源和信号发生器的作用下正常工作;工作状态下的MOS驱动器在上位机的控制下,经开关电路调配测试点,采用万用表、示波器获取测量数据,完成测试。整个测试过程在上位机的控制下实现自动化切换,以提高工作效率。
[0020]2、测试板卡包括测试子板和测试母板,分别安装系统中不同的组成部分,降低误接的风险。
[0021]3、本专利技术系统中,上位机在测试后还可以输出测试报告,包括测试人、测试开始时间、测试完成时间、测试项目、MOS驱动器的类型和测试结果,直观且便于分析。
[0022]4、本专利技术提出一种MOS驱动器的多项自动测试方法,可实现MOS驱动器的多项自动化测试,提高工作效率,提升测试准确度。MOS驱动及MOS管(负载)安装于测试板卡上,并在程控电源和信号发生器的作用下正常工作;工作状态下的MOS驱动器在上位机的控制下,经开关电路调配测试点,采用万用表、示波器获取测量数据,完成测试。整个测试过程在上位机输出的控制指令下实现自动化切换,以提高工作效率。
[0023]5、本专利技术方法中,上位机在测试后还可以输出测试报告,包括测试人、测试开始时
间、测试完成时间、测试项目、MOS驱动器的类型和测试结果,直观且便于分析。
[0024]6、上位机在测试过程中实时检测测试结果是否超过正常阈值范围,及时进行修改和调试,提高了测试方法的安全性。
附图说明
[0025]图1为本专利技术的系统组成图。
[0026]图2为本专利技术中的上位机的组成图。
[0027]图3为本专利技术的方法流程图。
具体实施方式
[0028]下面结合附图并举实施例,对本专利技术进行详细描述。
[0029]如图1所示,本专利技术提供了一种MOS驱动器的多项自动测试系统,包括上位机和安装于测试板卡上的MOS驱动器、MOS管、示波器、万用表、信号发生器、程控电源和开关电路。测本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种MOS驱动器的多项自动测试系统,其特征在于,包括上位机和安装于测试板卡上的MOS驱动器、MOS管、示波器、万用表、信号发生器、程控电源和开关电路;上位机经通讯接口与程控电源、信号发生器、万用表和示波器连接,设置测试参数并接收测试结果;信号发生器和程控电源与MOS驱动器的输入端连接,根据上位机的设置指令为MOS驱动器提供电压和信号,使其处于正常工作状态;MOS驱动器与MOS管连接,发送使能信号驱动MOS管工作;上位机与开关电路连接,发送控制指令;开关电路与测试板卡上的测试点连接,根据控制指令切换测试点;测试点布设于MOS驱动器和MOS管的输入端和输出端,与万用表和示波器连接;万用表与示波器将在测试点得到的测试结果发送给上位机。2.如权利要求1所述的多项自动测试系统,其特征在于,所述测试板卡包括测试子板和测试母板;所述测试子板上安装有MOS驱动器和MOS管,并在MOS驱动器和MOS管的输入端设有信号发生器和程控电源的输入接口,所述信号发生器和程控电源经输入接口为MOS驱动器提供电压和信号;所述MOS驱动器和MOS管的输入端与输出端设有测试点,所述万用表、示波器在测试点处获取测试结果;所述测试母板上安装有开关电路,其输入端与上位机连接,输出端与测试点连接。3.如权利要求2所述的多项自动测试系统,其特征在于,所述上位机包括测试执行模块、测试项目管理模块和测试数据管理模块;测试项目管理模块根据测试项目构建测试流程,发送给测试执行模块;测试执行模块执行测试流程,发送控制指令和设置指令,并接收测试结果,发送给测试数据管理模块;测试数据管理模块接收测试结果并存储。4.如权利要求1

3所述的多项自动测试系统...

【专利技术属性】
技术研发人员:匡巧曾安安李旭车振徐伟
申请(专利权)人:宜昌测试技术研究所
类型:发明
国别省市:

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