一种基于芯片探针的外观视觉检测方法技术

本发明专利技术公开了一种基于芯片探针的外观视觉检测方法，包含如下步骤：获得探针产品圆柱外观的图像；原始图像进行预处理，补正图像；分割操作得到图像中的物体信息；将所述图像中物体信息制作大量的训练数据集；将数据集作为样本对神经网络进行训练；最后将获取的图像放入训练好的模型中进行识别。本发明专利技术可实现对不同类型芯片探针外观的全自动化检测，可降低检测成本，减少检测时间，且可提高检测效率和检测准确率，有效推动半导体行业的智能制造。有效推动半导体行业的智能制造。有效推动半导体行业的智能制造。

【技术实现步骤摘要】
一种基于芯片探针的外观视觉检测方法


[0001]本专利技术涉及视觉检测领域，特别涉及一种基于芯片探针的外观视觉检测方法。

技术介绍

[0002]随着科技的进步，机器逐渐取代人力成为工业发展的主流，在工业生产中很多需要人工操作的环节逐渐由机器完成。针对探针量产过程中，部分产品难免会出现原材不良、TOP间隙、异色等外观缺陷，工厂内部多采用人工进行检测，检测效率低、成本高且容易出现误检，给产品出厂后的使用带了很多隐患，任何细小的缺陷都可能会引起消费者的投诉和不满。
[0003]因此，借助缺陷检测技术，我们有必要提供一种检测精度和效率高、能替代人工检测，降低人力成本的芯片探针外观缺陷检测方法。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种基于芯片探针的外观视觉检测方法，旨在解决现有人工检测外观效率低的现状。
[0005]为了解决上述技术问题，本专利技术提供如下技术方案：一种基于芯片探针的外观视觉检测方法，包括以下步骤：
[0006]步骤1：通过取像工具对探针进行360
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于芯片探针的外观视觉检测方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤1：通过取像工具对探针进行360
°
取像，获得原始图像；步骤2:对照片进行预处理；步骤3：通过分割操作得到原始图像中的物体信息；步骤4：将物体信息制作大量的训练...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈威宇，
申请(专利权)人：苏州嘉展科技有限公司，
类型：发明
国别省市：