【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光谱辐射测量领域，具体涉及光谱仪杂散光的校正方法。
技术介绍
光谱仪用以测量光辐射的光谱功率分布，被广泛应用于颜色测量，元素鉴定，化学 分析等领域。由于光栅的不理想衍射、光学元件上灰尘或缺陷造成的散射和仪器内部的各 种反射，光谱仪中不可避免的存在杂散光。对于具有阵列探测器的快速光谱仪，杂散光是指 照射在某个特定波长点所对应的象元上的其他光谱成分，会带来较为可观的测量误差。杂 散光水平是衡量光谱仪性能重要的技术指标之一。对光学系统采用细致精密的设计可以使 杂散光降低到合理的水平，例如采用密封结构，光谱仪内部涂黑或者在准直镜和光栅等光 学元件前设置光阑等。但是为了达到更高的精度，需要进一步的措施。使用杂散光校正方法也可以减小杂散光带来的误差，而且一般情况下不影响测量 速度。目前，用可调谐激光校正光谱仪杂散光是一种比较可行的方法，即用光谱仪测量可调 谐激光器的激光，计算对应波长的光辐射在其它波长处产生杂散光的杂散光分布因子，即 点扩散函数，使用该点扩散函数和光谱仪所测的任一待测光源的光谱，计算各波长接收到 的杂散光功率，实测光谱减去该杂散光功率得到较为精...
【技术保护点】
一种光谱仪杂散光校正方法，其特征在于在光谱仪的光信号采集装置和色散元件（４）之间设置可切入光路的一个或一个以上滤色片（６），且包括以下步骤：ａ）在不切入所述滤色片（６）时测量待测光源的光谱功率；ｂ）将滤色片（６）切入到入射狭缝和色散元件之间的光路上，测量同一待测光源的光谱功率；ｃ）根据步骤ａ）和步骤ｂ）的测量结果计算得到杂散光分布因子或杂散光校正因子；ｄ）用杂散光分布因子或杂散光校正因子修正不切入上述滤色片（６）时测得的该待测光源或其它光源的光谱功率。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：潘建根，陈双，李倩，
申请(专利权)人：杭州远方光电信息有限公司，
类型：发明
国别省市：86[中国|杭州]
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