【技术实现步骤摘要】
一种高纯度大尺寸镁单晶的生长装置及方法
[0001]本专利技术涉及单晶生长
,尤其是涉及一种高纯度大尺寸镁单晶的生长装置及方法。
技术介绍
[0002]镁属于活泼金属,在常温和大气环境下极易氧化和腐蚀,熔融态下易发生燃烧反应,遇水甚至可能引发爆炸,而且高纯镁单晶生长过程中还需考虑熔体污染、氧化、挥发等问题,需对生长环境气氛和压力进行控制。因此,相比于其他金属单晶,镁单晶的生长较为困难。
[0003]目前,国内外普遍采用的纯镁单晶生长方式为定向凝固法,晶体生长过程中纵向晶界难以消除,易长成柱状晶,且凝固末期易出现等轴晶,甚至晶体中常伴随成分偏析,所生长单晶体的性能不佳。
[0004]本专利技术人发现现有技术至少存在以下技术问题:尽管存在一些技术(如CN109338452A等)提到可以采用热处理方法生长大尺寸镁单晶,但四级热处理生长周期极长、能耗极大、成本较高;也有一些现有技术(如CN114247857B等)提出采用滴铸的方式生长镁及镁合金的洁净、致密铸锭,但应用较为宽泛,且并未就高纯度大尺寸镁单晶生长中的 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种高纯度大尺寸镁单晶的生长装置,其特征在于,包括加热炉、置料管(4)、控流滤杂板(5)和坩埚(6),其中:所述加热炉包括炉体(1)和设于所述炉体(1)中的炉管(2),所述炉体(1)界定密封的炉腔,所述炉管(2)界定上端开放的加热室,所述炉体(1)内设有沿所述炉管(2)分布的温度调控系统(3),所述炉体(1)上设有与外界相通的气氛调控系统(8)和水冷循环系统(9);所述坩埚(6)和所述置料管(4)自下而上顺次放置在所述炉管(2)的加热腔室中,所述坩埚(6)上端的开口与所述置料管(4)下端的开口适配相连,所述控流滤杂板(5)设置在所述坩埚(6)内壁和所述置料管(4)内壁的交界处;所述置料管(4)和所述控流滤杂板(5)界定熔化区,所述控流除杂板和所述坩埚(6)界定结晶区。2.根据权利要求1所述的高纯度大尺寸镁单晶的生长装置,其特征在于,所述坩埚(6)的内部空间包括靠近所述置料管(4)的圆柱段和远离所述置料管(4)的圆锥段,所述圆锥段的锥尖朝下,所述圆锥段的上底面与所述圆柱段的下底面形状相同且位置相对。3.根据权利要求2所述的高纯度大尺寸镁单晶的生长装置,其特征在于,所述圆锥段的锥尖角度介于15
°
—45
°
,且随着所述圆柱段直径的增加,所述圆锥段的锥尖角度减小。4.根据权利要求2所述的高纯度大尺寸镁单晶的生长装置,其特征在于,所述坩埚(6)的内壁设有耐高温脱模层。5.根据权利要求1所述的高纯度大尺寸镁单晶的生长装置,其特征在于,所述控流滤杂板(5)的厚度介于4mm—6mm,所述控流滤杂板(5)的板面上设有至少一个通液孔;当所述通液孔的个数为一个时,所述通液孔位于所述控流滤杂板(5)的正中心;当所述通液孔的个数为多个时,多个所述通液孔在所述控流滤杂板(5)上有序分布。6.根据权利要求1所述的高纯度大尺寸镁单晶的生长装置,其特征在于,所述温度调控系统(3)包括套设在所述置料管(4)外围的第一加热元件(31)以对应所述熔化区,所述温度调控系统(3)包括套设在所述坩埚(6)外围的第二加热元件(32)以对应所述结晶区。7.根据权利要求1至6任意一项所述的高纯度大尺寸镁单晶的生长装置,其特征在于,所述置料管(4)上端面设有通气孔(41),所述通气孔(41)连通炉腔和熔化区,所述气氛调节系统包括第一气体通道(81)和第二气体通道(82),其中:所述第一气体通道(81)设置于所述炉体(1)侧壁的低处,所述第一气体通道(81)将炉腔与氩气供给设施相连通;所述第二气体通道(82)设置于所述炉体(1)侧壁的高处,所述第二气体通道(82)将炉腔与真空抽取...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘博宇,马欣金,郑芮,李玖章,单智伟,
申请(专利权)人:西安交通大学,
类型:发明
国别省市:
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