一种X射线荧光分析仪与X射线衍射仪的自动化方法技术

本发明专利技术公开了一种X射线荧光分析仪与X射线衍射仪的自动化方法，包括步骤一：设置正确的外围设备以及X射线设备的连接参数以及协议；步骤二：操作人员将样本放入样本托盘；步骤三：计算机程序通过外围设备生成样本数据并将样本放入X射线仪器的测量位置处；步骤四：测量完毕，将样本从X射线仪器测量位置移动回原位步骤五：通知操作人员拿走样本，然后删除X射线仪器对应的样本测量信息，本发明专利技术可以根据用户在不同环境中，灵活的选择不同的外围设备来配合X射线荧光分析仪与X射线衍射仪对样本进行测量；减少了操作员的劳动强度，只需要放置样本和取走样本两个操作，使操作员有更多的精力放在数据的统计与分析上而非重复性的劳作上。放在数据的统计与分析上而非重复性的劳作上。放在数据的统计与分析上而非重复性的劳作上。

【技术实现步骤摘要】
一种X射线荧光分析仪与X射线衍射仪的自动化方法


[0001]本专利技术涉及X射线荧光分析
，具体为一种X射线荧光分析仪与X射线衍射仪的自动化方法。

技术介绍

[0002]X射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗等诸多部门和领域。X射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测，对产品和材料质量进行检测，也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。X射线衍射仪是利用衍射原理，精确测定物质的晶体结构，织构及应力，精确的进行物相分析，定性分析，定量分析。广泛应用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教学，材料生产等领域。目前国内市场上无针对于X射线荧光分析仪与X射线衍射仪的自动化方法。常规的操作方法都是以人工对需要进行测量的样本进行分析操作。整体流程步骤较多，需要人工处理的流程比较繁琐。测量过程中比较容易出现测量曲线选择错误、样本位置指定错误等失误操作，尤其是在待测量样本比较多的时候。出现了失误操作整个流程中的多个步骤就需要重新进行，严重影响工作效率。在整个流程中包括测量过程中，操作员需要多次打开仪器遮蔽罩处理样本，X射线荧光分析仪与X射线衍射仪都属于强电离设备，测量过程中散发的电离辐射有可能会导致操作员身体健康受到威胁。

技术实现思路

[0003]鉴于现有技术中所存在的问题，本专利技术公开了一种X射线荧光分析仪与X射线衍射仪的自动化方法，采用的技术方案是，包括步骤一：设置正确的外围设备以及X射线设备的连接参数以及协议；步骤二：操作人员将样本放入样本托盘；步骤三：计算机程序通过外围设备生成样本数据并将样本放入X射线仪器的测量位置处；步骤四：测量完毕，将样本从X射线仪器测量位置移动回原位；步骤五：通知操作人员拿走样本，然后删除X射线仪器对应的样本测量信息。
[0004]作为本专利技术的一种X射线荧光分析仪与X射线衍射仪的自动化方法优选技术方案，所述步骤一中的外围设备为摄像头、样品托盘、距离传感器和机械手爪等，所述步骤一中的X射线设备为X射线荧光分析仪与X射线衍射仪。
[0005]作为本专利技术的一种X射线荧光分析仪与X射线衍射仪的自动化方法优选技术方案，所述步骤一中的具体操作为设置计算机程序将样本托盘分成多个区域，在程序中设置每个区域对应各自样本材料类型和对应的测量程序；在程序中设置外围设备组成，包括设备的IP地址，端口号，重连时间信息；选择外围设备对应的通讯协议；设置X射线荧光分析仪与X
射线衍射仪中的测量程序，计算机程序和所有的外围设备都是通过TCP/IP、COM或者MQTT协议，根据设置的外围设备的地址进行连接，双方都可以接受和输出数据，设置完成之后，程序第一次运行时，计算机程序会对所有的外围设备进行初始化，首先检测外围设备连接情况，如未连接，会自动进行连接，然后根据通讯协议发送相应的数据命令，外围设备接收到命令后，会回传完成数据给计算机程序。测量程序是X射线荧光分析仪与X射线衍射仪中自带的测量曲线，通过测量程序/曲线可获得最终样本测量的各类元素的占比值。计算机程序只需将对应的名称设置到对应的样本材料类型上，后续流程会通过区域对应的样本材料类型，找到设置的测量程序名称，最终传给X射线荧光分析仪或X射线衍射仪。所有设置都配置完毕，即可开始协同工作。计算机程序运行过程中，有定时任务会每隔10
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30秒都会对外围设备进行状态检验，若发现有设备离线，将自动重连，并恢复设备离线前一刻的状态。
[0006]作为本专利技术的一种X射线荧光分析仪与X射线衍射仪的自动化方法优选技术方案，所述步骤二的具体操作为操作员将一个或多个样本放入步骤一计算机程序中设置的对应托盘区域内。
[0007]作为本专利技术的一种X射线荧光分析仪与X射线衍射仪的自动化方法优选技术方案，所述步骤三的具体操作为计算机程序通过摄像头或者距离传感器根据程序中的设置，找到该区域样本所对应的类型，根据类型自动生成样本编号，根据类型请求X射线荧光仪或X射线衍射仪中的测量程序，比对设置的测量程序是否可以使用，确定好测量程序，计算机程序控制机械手抓抓取样本送入X射线荧光分析仪或者X射线衍射仪的测量位置，计算机程序将生成的样本信息发送到X射线荧光分析仪或者X射线衍射仪中通知X射线荧光仪或X射线衍射仪对样本开始测量。自动生成的编号格式可根据当前年月日随意组合排列，如yyyy
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MM
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dd xx/yy
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MM
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dd xx/MM
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dd xx/yyyy xx等多种格式yyyy表示年份，MM表示月份，dd表示天，xx表示当前第几个样本。
[0008]作为本专利技术的一种X射线荧光分析仪与X射线衍射仪的自动化方法优选技术方案，所述步骤三中比对的X射线荧光仪或X射线衍射仪的测量程序若不正确则计算机程序通知或提示操作员在计算机程序中更新测量程序设置。
[0009]作为本专利技术的一种X射线荧光分析仪与X射线衍射仪的自动化方法优选技术方案，所述步骤四的具体操作为计算机程序监测X射线荧光仪或X射线衍射仪的测量结束信号，计算机程序控制机械手将测量完毕的样本移回样本托盘原本位置。
[0010]作为本专利技术的一种X射线荧光分析仪与X射线衍射仪的自动化方法优选技术方案，所述步骤五的具体步骤为计算机程序通知或提示操作人员将已经完成测量的样本拿走，计算机程序通过摄像头或者距离传感器监测到样本托盘上对应位置的样本已经拿走，通知X射线荧光分析仪或者X射线衍射仪对已经拿走的样本进行删除。
[0011]本专利技术的有益效果：本专利技术可以根据用户在不同环境中，灵活的选择不同的外围设备来配合X射线荧光分析仪与X射线衍射仪对样本进行测量；减少了操作员的劳动强度，只需要放置样本和取走样本两个操作，使操作员有更多的精力放在数据的统计与分析上而非重复性的劳作上；使操作员在操作样本的时候可以远离X射线荧光分析仪与X射线衍射仪，规避可能出现的强电离辐射。
附图说明
[0012]图1为本专利技术整体流程图；
[0013]图2为本专利技术的协同工作流程图。
具体实施方式
[0014]实施例1
[0015]如图1至图2所示，本专利技术公开了一种X射线荧光分析仪与X射线衍射仪的自动化方法，采用的技术方案是，包括步骤一：设置正确的外围设备以及X射线设备的连接参数以及协议；步骤二：操作人员将样本放入样本托盘；步骤三：计算机程序通过外围设备生成样本数据并将样本放入X射线仪器的测量位置处；步骤四：测量完毕，将样本从X射线仪器测量位置移动回原位步骤五：通知操作人员拿走样本，然后删除X射线仪器对应的样本测量信息。
[0016]作为本专利技术的一种X射线荧光分析仪与X射线衍射仪的自动化方法优选技术方案，所述步骤一中的外围设备为摄像头、样品托盘和机械手爪，所述步骤一中的X射线设备为X射线荧光分析仪与X射线衍射仪，所述步骤一中的具体操作为设置计算机程序将样本托盘分成多个区域，在程序中设置本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种X射线荧光分析仪与X射线衍射仪的自动化方法，其特征在于，包括步骤一：设置正确的外围设备以及X射线设备的连接参数以及协议；步骤二：操作人员将样本放入样本托盘；步骤三：计算机程序通过外围设备生成样本数据并将样本放入X射线仪器的测量位置处；步骤四：测量完毕，将样本从X射线仪器测量位置移动回原位；步骤五：通知操作人员拿走样本，然后删除X射线仪器对应的样本测量信息。2.根据权利要求1所述的一种X射线荧光分析仪与X射线衍射仪的自动化方法，其特征在于：所述步骤一中的外围设备为摄像头、样品托盘、距离传感器和机械手爪，所述步骤一中的X射线设备为X射线荧光分析仪与X射线衍射仪。3.根据权利要求2所述的一种X射线荧光分析仪与X射线衍射仪的自动化方法，其特征在于：所述步骤一中的具体操作为设置计算机程序将样本托盘分成多个区域，在程序中设置每个区域对应各自样本材料类型和对应的测量程序；在程序中设置外围设备组成，包括设备的IP地址，端口号，重连时间信息；选择外围设备对应的通讯协议；设置X射线荧光分析仪与X射线衍射仪中的测量程序。4.根据权利要求3所述的一种X射线荧光分析仪与X射线衍射仪的自动化方法，其特征在于：所述步骤二的具体操作为操作员将一个或多个样本放入步骤一计算机程序中设置的对应托盘区域内。5.根据权利要求4所述的一种X射线荧光分析仪与X射线衍射仪的自动化方法，...

【专利技术属性】
技术研发人员：王朋，马玉丽，王东亮，邢铁军，王冬冬，
申请(专利权)人：北京泰谱克科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：