【技术实现步骤摘要】
光学测量装置与测量方法
[0001]本专利技术是关于一种光学测量装置与测量方法；特别是关于一种以激光测量并可以影像测量进行辅助的光学测量装置与测量方法。
技术介绍
[0002]高架地板的地板单元为一种长方体，顶面为方形，其加工精度要求很高，例如某些场合的公差范围在正负0.01mm以内。然而，现有的测量方法大多采用人工测量，容易产生误差，造成很多困扰。
[0003]专利技术人有鉴于此，经苦思细索，积极研究，加以多年从事相关产品研究的经验，并经不断试验及改良，终于发展出本专利技术以解决现有测量方法的不足。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的在于提供一种可方便测量待测板的光学测量装置。
[0005]为达成上述目的，本专利技术的结构包括：一平台；一第一激光测量仪，架设于该平台的一侧；一第二激光测量仪，架设于该平台的相对于该第一激光测量仪的另一侧，与该第一激光测量仪水平对正，并间隔一第一间隔距离；一第三激光测量仪，架设于该平台的相对于该第一激光测量仪的另一侧，与该第二激光测量仪间隔一第二间隔距离...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光学测量装置，其特征在于，包括：一平台；一第一激光测量仪，架设于该平台的一侧；一第二激光测量仪，架设于该平台的相对于该第一激光测量仪的另一侧，与该第一激光测量仪水平对正，并间隔一第一间隔距离；一第三激光测量仪，架设于该平台的相对于该第一激光测量仪的另一侧，与该第二激光测量仪间隔一第二间隔距离。2.如权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于，该平台上方架设有一照相机。3.如权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于，该平台为可调整高度的结构，能够上升或下降。4.一种光学测量方法，其特征在于，包括下列步骤：S101：将一第一激光测量仪架设于一平台的一侧，并将一第二激光测量仪及一第三激光测量仪架设于该平台的相对于该第一激光测量仪的另一侧，该第一激光测量仪与该第二激光测量仪间隔一第一间隔距离(D1)，该第二激光测量仪与该第三激光测量仪间隔一预定的第二间隔距离(D2)；S102：将一样本板放置在该平台上；该样本板为长方体，顶面为方形，具有预定的样本板顶面左边长(L11)、样本板顶面上边长(L12)、样本板顶面右边长(L13)及/或样本板顶面下边长(L14)；S103：分别以该第一激光测量仪、该第二激光测量仪及该第三激光测量仪测量其与该样本板之间的第一激光间距(X1)、第二激光间距(X2)及第三激光间距(X3)；S104：计算取得该第一间隔距离(D1)的数值；S105：取走该样本板，将一待测板放置在该平台上；该待测板为长方体，顶面为方形，具有待测板顶面左边长(L15)、待测板顶面上边长(L16)、待测板顶面右边长(L17)及/或待测板顶面下边长(L18)；S106：分别以该第一激光测量仪、该第二激光测量仪及该第三激光测量仪测量其与该待测板之间的第四激光间距(X4)、第五激光间距(X5)及第六激光间距(X6)；S107：计算取得该待测板顶面下边长(L18)的数值。5.如权利要求4所述的光学测量方法，其特征在于，在该步骤S104中，以第一公式计算取得该第一间隔距离(D1)的数值；第一公式为：6.如权利要求4所述的光学测量方法，其特征在于，在该步骤S107中，以第二公式计算取得该待测板顶面下边长(L18)的数值；第二公式为：
7.如权利要求4所述的光学测量方法，其特征在于，在该步骤S102之后，进行步骤S201～S206，其中：S201：将一照相机架设在该平台上方，并利用该照相机照相以取得一样本板原图；该照相机具有预定的水平分辨率及垂直分辨率；S202：对该样本板原图进行镜头鱼眼校正，产生一样本板校正图；S203：将该样本板校正图转换成一第一灰度图，再将该第一灰度图转换成一第一轮廓图；S204：对该第一轮廓图进行四角点查找，取得一第一四角点坐标；该第一四角点坐标是在该样本板校正图中的样本板的四角点坐标；S205：计算取得在该样本板校正图中的样本板的第一水平像素范围及第一垂直像素范围；S206：计算取得该样本板校正图中的第一水平像素间距离及第一垂直像素间距离。8.如权利要求7所述的光学测量方法，其特征在于，在该步骤S105之后，进行步骤S207～S212，其中：S207：利用该照相机照相以取得一待测板原图；S208：对该待测板原图进行镜头鱼眼校正，产生一待测板校正图；S209：将该待测板校正图转换成一第二灰度图，再将该第二灰度图转换成一第二轮廓图；S210：对该第二轮廓图进行四角点查找，取得一第二...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄建德，黄敬恒，粘弘昇，张信泽，陈旅涵，
申请(专利权)人：金溪惠亚科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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