一种轴承套圈厚度变动量测量工装制造技术

本实用新型专利技术属于轴承装备测量工装技术领域，具体涉及一种轴承套圈厚度变动量测量工装，包括支架，所述支架置于轴承套圈端面上，支架上同一高度处设置第一测量点、第二测量点和测量支点，第一测量点、第二测量点和测量支点位于同一直线上；所述的测量支点支撑在轴承套圈内径表面或外径表面上，第一测量点和第二测量点与轴承套圈内径表面或外径表面相接触，所述第一测量点与测量支点对应设置测量轴承套圈内径或外径，所述第二测量点与测量支点对应设置测量轴承套圈厚度。本实用新型专利技术可以实现对轴承套圈单一直径尺寸偏差及单一径向平面内直径变动量的测量以及轴承套圈厚度变动量的测量，进而保证轴承套圈厚度变动量的精准测量。量。量。

【技术实现步骤摘要】
一种轴承套圈厚度变动量测量工装


[0001]本技术属于轴承装备测量工装
，具体涉及一种轴承套圈厚度变动量测量工装。

技术介绍

[0002]特大型轴承厚度变动量的测量现采用了一种厚度表架测量装置进行检测，具体的结构见图1，此测量装置在测量过程中，表尖测点与支点之间的连线很难保证通过轴承径向平面的最大中心直径处，从而导致测量值不准确性，见图2。图2中a图的测量装置在测量过程中表尖点与支点连线通过轴承径向平面的圆心，此时所测值不存在误差；而图2中b图的测量装置在测量过程中表尖点与支点连线没有通过轴承径向平面的圆心，此时所测值就大于a图所测值，有测量误差的存在。因此需要一种更加准确的轴承厚度变动的测量工装。

技术实现思路

[0003]根据上述现有技术存在的缺陷，本技术的目的是提供一种测量效率高，测量结果准确的轴承套圈厚度变动量测量工装。
[0004]为实现上述目的，本技术所采用的技术方案为：一种轴承套圈厚度变动量测量工装，包括支架，所述支架置于轴承套圈端面上，支架上同一高度处设置第一测量点、第二测量点和测量支点，第一测量点、第二测量点和测量支点位于同一直线上；所述的测量支点支撑在轴承套圈内径表面或外径表面上，第一测量点和第二测量点与轴承套圈内径表面或外径表面相接触，所述第一测量点与测量支点对应设置测量轴承套圈内径或外径，所述第二测量点与测量支点对应设置测量轴承套圈厚度。
[0005]进一步的，所述第一测量点、第二测量点和测量支点所在的直线穿过轴承套圈径向平面的圆心。
[0006]进一步的，所述支架通过两个支撑点支撑在轴承套圈端面上，两个支撑点的高度相同。
[0007]进一步的，所述两个支撑点中，至少一个支撑点滑动设置在支架上并通过锁紧件锁紧。
[0008]进一步的，所述支架包括水平设置的测量尺和垂直于测量尺的若干连接座，第一测量点、第二测量点和测量支点设置在连接座上。
[0009]进一步的，所述若干连接座滑动设置在测量尺上并通过螺栓锁紧。
[0010]进一步的，所述第一测量点通过第一测量表进行测量，第二测量点通过第二测量表进行测量。
[0011]进一步的，所述轴承套圈为轴承内圈，第一测量点与测量支点分别与轴承内圈的内径表面接触，第一测量点与测量支点的连线经过轴承内圈径向平面的圆心；第二测量点与轴承内圈的外径表面的滚道接触。
[0012]进一步的，所述轴承套圈为轴承外圈，第一测量点与测量支点分别与轴承外圈的
外径表面接触，第一测量点与测量支点的连线经过轴承外圈径向平面的圆心；第二测量点与轴承外圈的内径表面的滚道接触。
[0013]本技术的有益效果为：本技术可以通过第一测量点、第二测量点和测量支点的组合使用实现对轴承套圈单一直径尺寸偏差及单一径向平面内直径变动量的测量以及轴承套圈厚度变动量的测量，通过对径向平面内直径的控制，使一测量点、第二测量点和测量支点所做在直线于轴承套圈径向平面的最大直径处重合，进而保证轴承套圈厚度变动量的精准测量。
附图说明
[0014]图1为改进前的厚度变动量测量示意图；
[0015]图2 a为测量装置在测量过程中表尖点与支点连线通过轴承套圈圆心示意图；
[0016]图2 b为测量装置在测量过程中表尖点与支点连线不通过轴承套圈圆心示意图；
[0017]图3为实施例1中轴承内圈测量的轴承套圈厚度变动量测量工装示意图；
[0018]图4为实施例2中轴承外圈测量的轴承套圈厚度变动量测量工装示意图；
[0019]图中：1、支架， 2、第一测量表， 3、第二测量表， 4、测量支点， 5、轴承内圈， 6、轴承外圈， 7、支撑点。
具体实施方式
[0020]为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术。但是本技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似改进，因此本技术不受下面公开的具体实施例的限制。
[0021]实施例1
[0022] 参见附图3，一种轴承套圈厚度变动量测量工装，用于测量轴承内圈，包括支架1，所述支架1置于轴承内圈5端面上，支架1上同一高度处设置第一测量表2、第二测量表3和测量支点4，第一测量表2、第二测量表3和测量支点4位于同一直线上；所述的测量支点4支撑在轴承内圈5内径表面上，所述第一测量表2与测量支点4对应设置并与轴承内圈5内径表面接触，第一测量表2与测量支点4的连线经过轴承内圈5径向平面的圆心，第一测量表2与测量支点4配合测量轴承内圈5内径，所述第二测量表3与测量支点4对应设置并与轴承内圈5的外径表面的滚道接触，第二测量表3与测量支点4配合测量轴承内圈5厚度。
[0023]基于上述技术方案，测量支点4支撑在轴承内圈5内径表面，调整第一测量表2与轴承内圈5内径表面接触，旋转支架1，观察第一测量表2读数，拐点处即为最大直径处，确定轴承内圈径向平面最大直径后将支架1固定，观察第二测量表3的读数，记录为轴承内圈5的厚度参数。改变支架位置，按照上述步骤重复6
‑
10次，记录6
‑
10组轴承内圈5厚度参数的数值，通过最大值减去最小值得出轴承内圈的厚度变动量，此种方法不需要旋转轴承内圈，适用于大型轴承的厚度测量。
[0024]进一步的，所述支架1通过两个支撑点7支撑在轴承内圈5端面上，两个支撑点7的高度相同，使第一测量点2、第二测量点3和测量支点4能够保持在同一水平高度上。所述两
个支撑点7中，至少一个支撑点滑动设置在支架1上并通过锁紧件锁紧，便于调整两个支撑点7之间的距离，使测量工装可以适用于不同规格的轴承内圈。
[0025]进一步的，所述支架1包括水平设置的测量尺和垂直于测量尺的若干连接座，第一测量点2、第二测量点3和测量支点4设置在连接座上。所述若干连接座滑动设置在测量尺上并通过螺栓锁紧。第一测量点2、第二测量点3和测量支点4的位置可调，便于适用于不同规格的轴承内圈。
[0026]本专利技术的测量装置是在碳纤维直径测量尺上设计增加一个第二测量点3，第一测量点2与测量支点4用于测量单一直径尺寸偏差及单一径向平面内直径变动量，第二测量点3与测量支点4用于测量轴承套圈厚度变动量，这样在一副碳纤维直径测量尺上实现了轴承厚度变动量的测量。
[0027]本工装实现特大型轴承厚度变动量的精准测量，在测量单一直径尺寸偏差及单一径向平面内直径变动量时，碳纤维直径测量尺通过了轴承的最大直径处，即通过了轴承的圆心，保证了厚度变动量的准确性。
[0028]原厚度表架在测量端面较窄的产品时，厚度表架与被测产品端面接触面积小而不牢固，从而使测量支点与仪表不在一条水平线上，测量稳定性不好，不准确，误差大。用此测量仪可以由两侧端面支承，保证表尖测点与支点在同一水平线上并通过产品的圆心，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种轴承套圈厚度变动量测量工装，其特征在于：包括支架，所述支架置于轴承套圈端面上，支架上同一高度处设置第一测量点、第二测量点和测量支点，第一测量点、第二测量点和测量支点位于同一直线上；所述的测量支点支撑在轴承套圈内径表面或外径表面上，第一测量点和第二测量点与轴承套圈内径表面或外径表面相接触，所述第一测量点与测量支点对应设置测量轴承套圈内径或外径，所述第二测量点与测量支点对应设置测量轴承套圈厚度。2.根据权利要求1所述的一种轴承套圈厚度变动量测量工装，其特征在于：所述第一测量点、第二测量点和测量支点所在的直线穿过轴承套圈径向平面的圆心。3.根据权利要求1所述的一种轴承套圈厚度变动量测量工装，其特征在于：所述支架通过两个支撑点支撑在轴承套圈端面上，两个支撑点的高度相同。4.根据权利要求3所述的一种轴承套圈厚度变动量测量工装，其特征在于：所述两个支撑点中，至少一个支撑点滑动设置在支架上并通过锁紧件锁紧。5.根据权利要求1所述的一种轴承套圈厚度变动量测量工装，其特征在于：所述支架包括水平设置的测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵熙伟，杨君，钟华，张俊生，刘宏伟，刘仁虎，吴琼，王有强，常伟，吴欢，高秀娥，闫蕊，张放，张昭，宋恭亮，
申请(专利权)人：瓦房店轴承集团国家轴承工程技术研究中心有限公司，
类型：新型
国别省市：