一种轴承套圈厚度变动量测量工装制造技术

本实用新型专利技术属于轴承装备测量工装技术领域，具体涉及一种轴承套圈厚度变动量测量工装，包括支架，所述支架置于轴承套圈端面上，支架上同一高度处设置第一测量点、第二测量点和测量支点，第一测量点、第二测量点和测量支点位于同一直线上；所述的测量支点支撑在轴承套圈内径表面或外径表面上，第一测量点和第二测量点与轴承套圈内径表面或外径表面相接触，所述第一测量点与测量支点对应设置测量轴承套圈内径或外径，所述第二测量点与测量支点对应设置测量轴承套圈厚度。本实用新型专利技术可以实现对轴承套圈单一直径尺寸偏差及单一径向平面内直径变动量的测量以及轴承套圈厚度变动量的测量，进而保证轴承套圈厚度变动量的精准测量。量。量。

【技术实现步骤摘要】
一种轴承套圈厚度变动量测量工装


[0001]本技术属于轴承装备测量工装
，具体涉及一种轴承套圈厚度变动量测量工装。

技术介绍

[0002]特大型轴承厚度变动量的测量现采用了一种厚度表架测量装置进行检测，具体的结构见图1，此测量装置在测量过程中，表尖测点与支点之间的连线很难保证通过轴承径向平面的最大中心直径处，从而导致测量值不准确性，见图2。图2中a图的测量装置在测量过程中表尖点与支点连线通过轴承径向平面的圆心，此时所测值不存在误差；而图2中b图的测量装置在测量过程中表尖点与支点连线没有通过轴承径向平面的圆心，此时所测值就大于a图所测值，有测量误差的存在。因此需要一种更加准确的轴承厚度变动的测量工装。

技术实现思路

[0003]根据上述现有技术存在的缺陷，本技术的目的是提供一种测量效率高，测量结果准确的轴承套圈厚度变动量测量工装。
[0004]为实现上述目的，本技术所采用的技术方案为：一种轴承套圈厚度变动量测量工装，包括支架，所述支架置于轴承套圈端面上，支架上同一高度处设置第一测量点、第二测量点和测量支点，第一测量点本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种轴承套圈厚度变动量测量工装，其特征在于：包括支架，所述支架置于轴承套圈端面上，支架上同一高度处设置第一测量点、第二测量点和测量支点，第一测量点、第二测量点和测量支点位于同一直线上；所述的测量支点支撑在轴承套圈内径表面或外径表面上，第一测量点和第二测量点与轴承套圈内径表面或外径表面相接触，所述第一测量点与测量支点对应设置测量轴承套圈内径或外径，所述第二测量点与测量支点对应设置测量轴承套圈厚度。2.根据权利要求1所述的一种轴承套圈厚度变动量测量工装，其特征在于：所述第一测量点、第二测量点和测量支点所在的直线穿过轴承套圈径向平面的圆心。3.根据权利要求1所述的一种轴承套圈厚度变动量测量工装，其特征在于：所述支架通过两个支撑点支撑在轴承套圈端面上，两个支撑点的高度相同。4.根据权利要求3所述的一种轴承套圈厚度变动量测量工装，其特征在于：所述两个支撑点中，至少一个支撑点滑动设置在支架上并通过锁紧件锁紧。5.根据权利要求1所述的一种轴承套圈厚度变动量测量工装，其特征在于：所述支架包括水平设置的测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵熙伟，杨君，钟华，张俊生，刘宏伟，刘仁虎，吴琼，王有强，常伟，吴欢，高秀娥，闫蕊，张放，张昭，宋恭亮，
申请(专利权)人：瓦房店轴承集团国家轴承工程技术研究中心有限公司，
类型：新型
国别省市：