本发明专利技术提供一种激光介质的热焦距测量装置及方法，所述测量装置包括顺次设置的：第一激光腔镜、相位延迟器件、起偏器件、激光介质、耦合镜片和激光发射装置；所述第一激光腔镜、所述相位延迟器件、所述起偏器件、所述激光介质和所述耦合镜片均位于所述激光发射装置的出射光方向上；所述测量装置还包括第二激光腔镜，所述第一激光腔镜和所述第二激光腔镜均为谐振腔镜，所述谐振腔镜的腔型为平平腔，且所述耦合镜片靠近所述激光发射装置的一侧用于透射所述激光发射装置的出射光，所述耦合镜片背离所述激光发射装置的一侧用于反射谐振光。本发明专利技术可以提高测量激光介质热焦距的准确性。本发明专利技术可以提高测量激光介质热焦距的准确性。本发明专利技术可以提高测量激光介质热焦距的准确性。
【技术实现步骤摘要】
激光介质的热焦距测量装置及方法
[0001]本专利技术涉及激光测量
，具体涉及一种激光介质的热焦距测量装置及方法。
技术介绍
[0002]目前测量激光介质，一般采用参考光通过被测激光介质，通过测量参考光的特性来分析热焦距的具体情况，例如可以测试参考光的焦点位置、干涉条纹等等；但是，受参考光的特性影响，参考光必须准直特性很好，其次激光器本身虽然有泵浦能量的激励，但并不是正常的工作状态，激光介质被泵浦能量激励后，产生热焦距，此时激光介质所储存的能量并没有以正常工作状态下的激光发射出，而是以荧光以及热量的形式耗散，这一过程，对热焦距的测量有一定影响。因此测试的热焦距并不完全反映实际的工作情况，即准确性不高。
[0003]并且大部分情况下，热焦距的测量不能根据实时情况进行监测，如泵浦能量的变化、长时和短时的变化等等，都会导致热焦距的变化。综上，目前缺乏一种方案，以提高测量激光介质热焦距的准确性。
技术实现思路
[0004]有鉴于此，有必要提供一种激光介质的热焦距测量装置及方法，用以提高测量激光介质热焦距的准确性。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术提供了一种激光介质的热焦距测量装置，所述测量装置包括顺次设置的：第一激光腔镜、相位延迟器件、起偏器件、激光介质、耦合镜片和激光发射装置；所述第一激光腔镜、所述相位延迟器件、所述起偏器件、所述激光介质和所述耦合镜片均位于所述激光发射装置的出射光方向上；所述测量装置还包括第二激光腔镜，所述第一激光腔镜和所述第二激光腔镜均为谐振腔镜，所述谐振腔镜的腔型为平平腔，且所述耦合镜片靠近所述激光发射装置的一侧用于透射所述激光发射装置的出射光，所述耦合镜片背离所述激光发射装置的一侧用于反射谐振光。
[0006]进一步地，所述测量装置还包括位于所述起偏器件的反射光方向上的光斑测试设备。
[0007]进一步地，所述光斑探测设备为感光板或者光束质量分析仪。
[0008]进一步地，所述相位延长器件为波片。
[0009]进一步地，所述激光介质为固态、液态及气态中的一种。
[0010]进一步地，所述激光发射装置包括泵浦源和整形耦合器件，所述整形耦合器件位于所述耦合镜片与所述泵浦源之间。
[0011]进一步地，所述泵浦源为电激励式激光器。
[0012]进一步地，所述电激励式激光器的电激励方式为直流放电、交流放电、脉冲放电和电子束注入中的一种。
[0013]进一步地，所述泵浦源为光泵式激光器，且所述耦合镜片靠近所述泵浦源的一侧设置有用于透过所述泵浦源的出射光的膜层，所述耦合镜片背离所述泵浦源的一侧设置有用于反射谐振光的膜层。
[0014]本专利技术还提供一种激光介质的热焦距测量方法，所述测量方法应用于上述任一项所述的测量装置中，所述测量方法，包括：基于预设的泵浦条件，对第一激光腔镜和第二激光腔镜设置激光腔参数，以及设定所述激光发射装置对应的出射光路；获取起偏器件输出的反射光，以基于所述反射光确定激光焦点的位置。
[0015]采用上述实现方式的有益效果是：本专利技术提供的，调整激光发射装置正常输出激光，通过起偏器件使谐振激光为偏振态，通过起偏器件与相位延迟器件配合使用，使谐振光路产生退偏效应，由于存在退偏效应，激光经过起偏器件时，其中有部分偏振态激光会被反射，输出至谐振腔外。输出的这部分偏振光除了偏振态与谐振激光不同，其他特性完全一致，故可通过测量输出激光的参数来标定谐振激光的特性。由于本专利技术测试采用的谐振腔镜为平平腔，因此谐振激光的发散特性均由激光介质的热焦距确定，通过ZEMAX仿真计算，可以得到对应的激光介质的热焦距，由于谐振激光的发散特性均由激光介质的热焦距确定，没有其他的影响因素，最终所得到的激光介质的热焦距准确性高。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1为本专利技术提供的激光介质的热焦距测量装置一实施例的结构示意图；图2为本专利技术提供的激光介质的热焦距测量方法一实施例的流程示意图。
具体实施方式
[0018]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0019]在本申请实施例的描述中，除非另有说明，
ꢀ“
多个”的含义是两个或两个以上。
[0020]本专利技术实施例中术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或模块的过程、方法、装置、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或模块，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或模块。
[0021]在本专利技术实施例中出现的对步骤进行的命名或者编号，并不意味着必须按照命名或者编号所指示的时间/逻辑先后顺序执行方法流程中的步骤，已经命名或者编号的流程步骤可以根据要实现的技术目的变更执行次序，只要能达到相同或者相似的技术效果即可。
[0022]在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本专利技术的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其他实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其他实施例相结合。
[0023]本专利技术提供了一种激光介质的热焦距测量装置及方法，以下分别进行说明。
[0024]如图1所示，本专利技术提供一种激光介质130的热焦距测量装置，所述测量装置包括顺次设置的：第一激光腔镜110、相位延迟器件190、起偏器件120、激光介质130、耦合镜片140和激光发射装置1010；所述第一激光腔镜110、所述相位延迟器件190、所述起偏器件120、所述激光介质130和所述耦合镜片140均位于所述激光发射装置1010的出射光方向上；所述测量装置还包括第二激光腔镜170，所述第一激光腔镜110和所述第二激光腔镜170均为谐振腔镜，所述谐振腔镜的腔型为平平腔，且所述耦合镜片140靠近所述激光发射装置1010的一侧用于透射所述激光发射装置1010的出射光，所述耦合镜片140背离所述激光发射装置1010的一侧用于反射谐振光。
[0025]进一步地，所述激光发射装置1010包括泵浦源160和整形耦合器件150，所述整形耦合器件150位于所述耦合镜片140与所述泵浦源160之间。
[0026]可以理解的是，本专利技术提供的激光介质130的热焦距测量装置的基本原理是：根据激光发射装置1010的具体情况，搭建激光器谐振腔，腔型采用平平腔结构，腔型可根据具体泵浦形本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种激光介质的热焦距测量装置，其特征在于，所述测量装置包括顺次设置的：第一激光腔镜、相位延迟器件、起偏器件、激光介质、耦合镜片和激光发射装置；所述第一激光腔镜、所述相位延迟器件、所述起偏器件、所述激光介质和所述耦合镜片均位于所述激光发射装置的出射光方向上；所述测量装置还包括第二激光腔镜，所述第一激光腔镜和所述第二激光腔镜均为谐振腔镜，所述谐振腔镜的腔型为平平腔，且所述耦合镜片靠近所述激光发射装置的一侧用于透射所述激光发射装置的出射光，所述耦合镜片背离所述激光发射装置的一侧用于反射谐振光。2.根据权利要求1所述的激光介质的热焦距测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括位于所述起偏器件的反射光方向上的光斑测试设备。3.根据权利要求2所述的激光介质的热焦距测量装置，其特征在于，所述光斑探测设备为感光板或者光束质量分析仪。4.根据权利要求1所述的激光介质的热焦距测量装置，其特征在于，所述相位延长器件为波片。5.根据权利要求1所述的激光介质的热焦距测量装置，其特征在于，所述激光介质为固态、液态及气态中的一种。6.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员：张保，卢强，张鑫，安莉，夏冰，
申请(专利权)人：武汉鑫岳光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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