一种提高光电跟踪转台安装精度的方法技术

本发明专利技术涉及光电跟踪领域，特涉及一种提高光电跟踪转台安装精度的方法。本发明专利技术光电跟踪转台包括工作平台、方位台、俯仰台，方位台安装在工作平台上，方位台在工作平台的X轴和Y轴平面上360

【技术实现步骤摘要】
一种提高光电跟踪转台安装精度的方法


[0001]本专利技术涉及光电跟踪领域，特涉及一种提高光电跟踪转台安装精度的方法。

技术介绍

[0002]光电跟踪转台在俯仰Z轴方向和方位XY轴两个平面分别工作，在工作过程中，俯仰方向和方位方向的控制精度能够提高整个系统的定位精度。
[0003]在现有系统中，是通过基准点测量加电机编码计数实现方位方向和俯仰方向位置的测量的，如图1、图4、图5所示，现有安装过程是现将系统调整至安装零点，然后再使被检测装置对准零点，安装测量装置，这样每次测量装置经过被检测装置时则系统回零，从而实现多个周期运行后不断的校验零位，保持系统高精度工作。这样进行安装校验零位的不足在于：由于先将被测装置置于零位，后安装测量装置，安装过程存在结构误差，且在系统工作过程中零位长期工作状态，如俯仰方向，一般中作在45
°
至105
°
之间，长期工作后还是存在较大的累积误差，工作误差可达几百密位，降低了系统的精度。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种提高光电跟踪转台安装精度的方法。本专利技术通过随机安装的方式降低了安装难度，提高了安装效率。
[0005]本专利技术的技术方案是：一种提高光电跟踪转台安装精度的方法，光电跟踪转台包括工作平台、方位台、俯仰台，方位台安装在工作平台上，方位台在工作平台的X轴和Y轴平面上360
°
旋转，俯仰台安装在方位台，方位台的方位转动台上固定方位被检测装置，方位转动台一侧设置方位测量装置，俯仰台的俯仰转动台上固定俯仰被检测装置，俯仰转动台一侧设置俯仰测量装置，包括以下步骤：其特征在于：步骤a：将系统调整至安装零点，将方位被检测装置固定在方位转动台，将方位测量装置安装在方位转动台一侧；将俯仰被检测装置固定在俯仰转动台，将俯仰测量装置安装在俯仰转动台一侧；步骤b：光电跟踪转台软件控制方位转动台旋转，并同时记录方位转动密位数，直到方位测量装置检测到方位被检测装置信号，将此时的转动密位数存储为光电跟踪转台软件方位基准密位数；光电跟踪转台软件控制俯仰转动台旋转，并同时记录俯仰转动密位数，直到俯仰测量装置检测到俯仰被检测装置信号，将此时的转动密位数存储为光电跟踪转台软件俯仰基准密位数；步骤c：正常工作时，当方位测量装置检测到方位被检测装置，将记录的方位基准密位数作为实时的方位密度数进行更新；当俯仰测量装置检测到俯仰被检测装置，将记录的俯仰基准密位数作为实时的俯仰密度数进行更新。
[0006]根据如上所述的一种提高光电跟踪转台安装精度的方法，其特征在于：方位测量装置安装在方位转动台正常工作时频繁转动的方位角度范围。
[0007]根据如上所述的一种提高光电跟踪转台安装精度的方法，其特征在于：工作时频繁转动的方位角度范围为145
°
至225
°
。
[0008]根据如上所述的一种提高光电跟踪转台安装精度的方法，其特征在于：俯仰测量
装置安装在俯仰转动台正常工作时频繁转动的俯仰角度范围。
[0009]根据如上所述的一种提高光电跟踪转台安装精度的方法，其特征在于：工作时频繁转动的俯仰角度范围为45
°
至135
°
。
[0010]根据如上所述的一种提高光电跟踪转台安装精度的方法，其特征在于：步骤a中，方位被检测装置安装在方位测量装置附近。
[0011]根据如上所述的一种提高光电跟踪转台安装精度的方法，其特征在于：俯仰被检测装置安装在俯仰测量装置附近。
[0012]根据如上所述的一种提高光电跟踪转台安装精度的方法，其特征在于：方位测量装置为激光定位传感器，方位被检测装置为激光挡片。
[0013]根据如上所述的一种提高光电跟踪转台安装精度的方法，其特征在于：方位测量装置为接近传感器，方位被检测装置为金属挡片
[0014]根据如上所述的一种提高光电跟踪转台安装精度的方法，其特征在于：俯仰测量装置为激光定位传感器，俯仰被检测装置为激光挡片。
[0015]本专利技术的有益效果是：安装快，精度高。
附图说明
[0016]图1为转台结构简图。
[0017]图2为本专利技术方位方向安装示意图。
[0018]图3为本专利技术俯仰方向安装示意图。
[0019]图4为本专利技术方位方向安装示意图。
[0020]图5为本专利技术俯仰方向安装示意图。
[0021]图6为本专利技术另一方位方向安装示意图。
[0022]图7为本专利技术另一俯仰方向安装示意图。
[0023]附图说明：工作平台10、方位台20、俯仰台30、方位测量装置40、方位被检测装置50、方位转动台51、俯仰测量装置60、俯仰被检测装置70、俯仰转动台71。
具体实施方式
[0024]以下结合附图对本专利技术的技术方案作进一步说明。
[0025]如图1至图3所示，本专利技术的光电跟踪转台包括工作平台10、方位台20、俯仰台30，方位台20安装在工作平台10上，方位台20在工作平台10的X轴和Y轴平面上360
°
旋转，俯仰台30安装在方位台20，其能够在Z轴上一定角度范围内旋转。
[0026]如图2所示，方位台20的方位转动台51上固定方位被检测装置50，方位转动台51一侧设置方位测量装置40，方位被检测装置50随着方位转动台51旋转，方位测量装置40固定安装。方位测量装置40可以为激光定位传感器，方位被检测装置50为激光挡片，当激光挡片移动至激光定位传感器前时，挡住激光，从而激光定位传感器信号改变，完成信号检测。方位测量装置40可以为接近传感器，方位被检测装置50为金属挡片，当金属挡片移动至接近传感器前时，接近传感器信号改变，完成信号检测。
[0027]如图3所示，俯仰台30的俯仰转动台71上固定俯仰被检测装置70，俯仰转动台71一侧设置俯仰测量装置60，俯仰被检测装置70随着俯仰转动台71旋转，俯仰测量装置60固定
安装。俯仰测量装置60可以为激光定位传感器，俯仰被检测装置70为激光挡片，当激光挡片移动至激光定位传感器前时，挡住激光，从而激光定位传感器信号改变，完成信号检测。俯仰测量装置60可以为接近传感器，俯仰被检测装置70为金属挡片，当金属挡片移动至接近传感器前时，接近传感器信号改变，完成信号检测。
[0028]本专利技术的一种提高光电跟踪转台安装精度的方法，包括以下步骤：
[0029]步骤a：将系统调整至安装零点，随机将方位被检测装置50固定在方位转动台51，随机将方位测量装置40安装在方位转动台51一侧；随机将俯仰被检测装置70固定在俯仰转动台71，随机将俯仰测量装置60安装在俯仰转动台71一侧；
[0030]步骤b：光电跟踪转台软件控制方位转动台51旋转，并同时记录方位转动密位数，直到方位测量装置40检测到方位被检测装置50信号，将此时的转动密位数存储为光电跟踪转台软件方位基准密位数；
[0031]光电跟踪转台软件本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种提高光电跟踪转台安装精度的方法，光电跟踪转台包括工作平台、方位台、俯仰台，方位台安装在工作平台上，方位台在工作平台的X轴和Y轴平面上360
°
旋转，俯仰台安装在方位台，方位台的方位转动台上固定方位被检测装置，方位转动台一侧设置方位测量装置，俯仰台的俯仰转动台上固定俯仰被检测装置，俯仰转动台一侧设置俯仰测量装置，包括以下步骤：其特征在于：步骤a：将系统调整至安装零点，将方位被检测装置固定在方位转动台，将方位测量装置安装在方位转动台一侧；将俯仰被检测装置固定在俯仰转动台，将俯仰测量装置安装在俯仰转动台一侧；步骤b：光电跟踪转台软件控制方位转动台旋转，并同时记录方位转动密位数，直到方位测量装置检测到方位被检测装置信号，将此时的转动密位数存储为光电跟踪转台软件方位基准密位数；光电跟踪转台软件控制俯仰转动台旋转，并同时记录俯仰转动密位数，直到俯仰测量装置检测到俯仰被检测装置信号，将此时的转动密位数存储为光电跟踪转台软件俯仰基准密位数；步骤c：正常工作时，当方位测量装置检测到方位被检测装置，将记录的方位基准密位数作为实时的方位密度数进行更新；当俯仰测量装置检测到俯仰被检测装置，将记录的俯仰基准密位数作为实时的俯仰密度数进行更新。2.权利要求1所述的一种提高光电跟踪转台安装精度的方法，其特征在于：方位测量装...

【专利技术属性】
技术研发人员：张保，杜长江，夏冰，
申请(专利权)人：武汉鑫岳光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：