电信号时域测量方法、装置、计算机设备、存储介质制造方法及图纸

本申请涉及一种电信号时域测量方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：基于探测装置获取待测对象的第一电压和第二电压，其中，所述探测装置包括探头和与所述探头连接的示波器，所述探头用于探测所述第一电压和所述第二电压，所述示波器用于显示所述第一电压和所述第二电压；获取矩阵系数，所述矩阵系数与所述探头的结构参数相关；根据所述矩阵系数、所述第一电压和所述第二电压获取所述待测对象的实际电压和实际电流。采用本方法能够准确测量高频电信号。用本方法能够准确测量高频电信号。用本方法能够准确测量高频电信号。

【技术实现步骤摘要】
电信号时域测量方法、装置、计算机设备、存储介质


[0001]本申请涉及信号测量
，特别是涉及一种电信号时域测量方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。

技术介绍

[0002]随着半导体器件的发展，大功率GaN射频模块已经成为集成电路的主流元件，其内部电磁耦合逐渐成为限制其发展的关键问题。传导发射测试是测量电子、电气设备工作时自身电压或电流经过传输线传输后对其他设备的干扰程度的测试项目。
[0003]目前常用频域测试探头测量传输线上的电压或电流以分析传导发射测试结果。频域测试方法具有能测量较弱电磁发射信号的优点，但由于采用频域测试探头测试时常用频谱分析仪等设备对测试结果进行分析，而频谱分析仪为窄带扫频设备，不能满足高频测试的需求。因此，亟需一种能测量高频电压和电流信号的测试方法。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够测量高频电信号的电信号时域测量方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
[0005]第一方面，本申请提供了一种电信号时域测量方法。所述方法包括：
[0006]基于探测装置获取待测对象的第一电压和第二电压，其中，所述探测装置包括探头和与所述探头连接的示波器，所述探头用于探测所述第一电压和所述第二电压，所述示波器用于显示所述第一电压和所述第二电压；
[0007]获取矩阵系数，所述矩阵系数与所述探头的结构参数相关；
[0008]根据所述矩阵系数、所述第一电压和所述第二电压获取所述待测对象的实际电压和实际电流。
[0009]在其中一个实施例中，所述获取矩阵系数，包括：
[0010]根据探头与所述待测对象的探测环路建立等效模型；其中，所述等效模型的模型参数与所述探头的结构参数相关；
[0011]根据所述等效模型获取所述矩阵系数。
[0012]在其中一个实施例中，所述根据探头与所述待测对象的探测环路建立等效模型，包括：
[0013]根据所述探头的传输结构获取传输矩阵；其中，所述传输结构等效为二端口网络；所述传输矩阵表示所述二端口网络的输入信号和输出信号的对应关系；
[0014]根据所述探头的探测结构获取等效电感；
[0015]根据所述待测对象对所述探头的耦合效应获取等效电源；
[0016]根据所述传输矩阵、所述等效电感和所述等效电源确定所述等效模型。
[0017]在其中一个实施例中，所述等效模型包括第一等效模型和第二等效模型；其中，
[0018]所述根据所述待测对象对所述探头的耦合效应获取等效电源，包括：
[0019]根据所述待测对象对所述探头的耦合电流确定所述第一等效模型的等效电流源；
[0020]根据所述待测对象对所述探头的耦合电压确定所述第二等效模型的等效电压源。
[0021]在一个实施例中，根据所述等效模型获取所述矩阵系数，包括：
[0022]根据所述等效模型中的传输矩阵、所述等效模型中的电感和所述等效电源获取所述矩阵系数。
[0023]在一个实施例中，所述获取矩阵系数，包括：
[0024]分别获取所述探头在第一预设角度测得标准测试对象的第一探测电压、第二探测电压，以及所述标准测试对象的第一实际电压和第一实际电流；
[0025]分别获取所述探头在第二预设角度测得标准测试对象的第三探测电压、第四探测电压，以及所述标准测试对象的第二实际电压和第二实际电流；其中，所述第一预设角度与所述第二预设角度的角度差为180度；
[0026]根据第一预设系数矩阵和第二预设系数矩阵确定所述矩阵系数；其中，所述第一预设系数矩阵用于表征在所述第一预设角度时，第一探测电信号和第一实际电信号的对应关系，所述第一探测电信号包括所述第一探测电压、所述第二探测电压，所述第一实际电信号包括所述第一实际电压、所述第一实际电流；所述第二预设系数矩阵用于表征在所述第二预设角度时，第二探测电信号和第二实际电信号的对应关系，所述第二探测电信号包括所述第三探测电压、所述第四探测电压，所述第二实际电信号包括所述第二实际电压、所述第二实际电流。
[0027]在一个实施例中，根据所述矩阵系数、所述第一电压和所述第二电压获取所述待测对象的实际电压和实际电流，包括：
[0028]构建预设系数矩阵，所述预设系数矩阵包括所述矩阵系数，且所述预设系数矩阵用于表征探测电信号和实际电信号的对应关系，其中，所述探测电信号包括所述第一电压和所述第二电压；
[0029]根据所述预设系数矩阵、所述第一电压和所述第二电压获取所述实际电信号，其中，所述实际电信号包括所述待测对象的实际电压和实际电流。
[0030]在一个实施例中，所述预设系数矩阵表示为：
[0031][0032]式中，K为所述矩阵系数，U1为所述第一电压，U2为所述第二电压，U
d
为所述实际电压，I
d
为所述实际电流。
[0033]第二方面，本申请还提供了一种电信号时域测量装置。所述装置包括：
[0034]探测模块，用于获取待测对象的第一电压和第二电压，其中，所述探测模块包括探头和与所述探头连接的示波器，所述探头用于探测所述第一电压和所述第二电压，所述示波器用于显示所述第一电压和所述第二电压；
[0035]系数获取模块，用于获取矩阵系数，所述矩阵系数与所述探头的结构参数相关；
[0036]信号获取模块，用于根据所述矩阵系数、所述第一电压和所述第二电压获取所述待测对象的实际电压和实际电流。
[0037]第三方面，本申请还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
[0038]基于探测装置获取待测对象的第一电压和第二电压，其中，所述探测装置包括探头和与所述探头连接的示波器，所述探头用于探测所述第一电压和所述第二电压，所述示波器用于显示所述第一电压和所述第二电压；
[0039]获取矩阵系数，所述矩阵系数与所述探头的结构参数相关；
[0040]根据所述矩阵系数、所述第一电压和所述第二电压获取所述待测对象的实际电压和实际电流。
[0041]第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
[0042]基于探测装置获取待测对象的第一电压和第二电压，其中，所述探测装置包括探头和与所述探头连接的示波器，所述探头用于探测所述第一电压和所述第二电压，所述示波器用于显示所述第一电压和所述第二电压；
[0043]获取矩阵系数，所述矩阵系数与所述探头的结构参数相关；
[0044]根据所述矩阵系数、所述第一电压和所述第二电压获取所述待测对象的实际电压和实际电流。
[0045]第五方面，本申请还提供了一种计算机程序产品。所述计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电信号时域测量方法，其特征在于，所述方法包括：基于探测装置获取待测对象的第一电压和第二电压，其中，所述探测装置包括探头和与所述探头连接的示波器，所述探头用于探测所述第一电压和所述第二电压，所述示波器用于显示所述第一电压和所述第二电压；获取矩阵系数，所述矩阵系数与所述探头的结构参数相关；根据所述矩阵系数、所述第一电压和所述第二电压获取所述待测对象的实际电压和实际电流。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取矩阵系数，包括：根据探头与所述待测对象的探测环路建立等效模型；其中，所述等效模型的模型参数与所述探头的结构参数相关；根据所述等效模型获取所述矩阵系数。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据探头与所述待测对象的探测环路建立等效模型，包括：根据所述探头的传输结构获取传输矩阵；其中，所述传输结构等效为二端口网络；所述传输矩阵表示所述二端口网络的输入信号和输出信号的对应关系；根据所述探头的探测结构获取等效电感；根据所述待测对象对所述探头的耦合效应获取等效电源；根据所述传输矩阵、所述等效电感和所述等效电源确定所述等效模型。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述等效模型包括第一等效模型和第二等效模型；其中，所述根据所述待测对象对所述探头的耦合效应获取等效电源，包括：根据所述待测对象对所述探头的耦合电流确定所述第一等效模型的等效电流源；根据所述待测对象对所述探头的耦合电压确定所述第二等效模型的等效电压源。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述等效模型获取所述矩阵系数，包括：根据所述等效模型中的传输矩阵、所述等效模型中的电感和所述等效电源获取所述矩阵系数。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取矩阵系数，包括：分别获取所述探头在第一预设角度测得标准测试对象的第一探测电压、第二探测电压，以及所述标准测试对象的第一实际电压和第一实际电流；分别获取所述探头在第二预设角度测得标准测试对象的第三探测电压、第四探测电压，以及所述标准测试对象的第二实际电压和第二实际电流；其中，所述第一预设角度与所述第二预设角度的角度差为180度；根据第一预设系数矩阵和第二预设系数矩阵确定所述矩阵系数；其中，所述第一预设系数矩阵用于表征在所述第一预...

【专利技术属性】
技术研发人员：邵伟恒，何柳兴，陈义强，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：