图像处理方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:39178708 阅读:10 留言:0更新日期:2023-10-27 08:26
本公开提供了一种图像处理方法、装置、设备及存储介质,通过在待测工件的待处理图像内,获取至少一个目标对象的初始轮廓点集,其中,所述初始轮廓点集包含多个像素点的像素坐标;通过所述目标对象的初始轮廓点集,生成所述目标对象的目标轮廓;将所述目标轮廓及其轮廓内的像素点或者将目标轮廓之外的像素点作为目标对象的待检像素点,存储至检测容器;通过检测所述检测容器内的待检像素点,得到所述待测工件的检测结果,能够提高待测工件检测的准确性,减少漏检率。减少漏检率。减少漏检率。

【技术实现步骤摘要】
图像处理方法、装置、设备及存储介质


[0001]本公开涉及计算机领域,尤其涉及一种图像处理方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在自动光学检测行业,所检测的区域往往会受到背景的干扰,影响缺陷的检测效果。其中,干扰区域通常包含噪声、阴影、反射等因素。
[0003]在现有技术中,针对图像中所要屏蔽的区域,多数技术人员通常是获取干扰区域,然后在需要检测的区域中剔除干扰区域,以获得较为理想的检测区域。或者是直接获取检测区域,对检测区域进行检测。
[0004]但是,在获取干扰区域/检测区域的过程中,由于获取方式不当、或者物体表面含有边界较为模糊的区域等原因,导致干扰区域/检测区域的获取范围并不准确、从而影响后续光学检测的精准度,容易遗漏检测缺陷区域。

技术实现思路

[0005]本公开提供了一种图像处理方法、装置、设备及存储介质,以至少解决现有技术中存在的以上技术问题。
[0006]根据本公开的第一方面,提供了一种图像处理方法,所述方法包括:
[0007]在待测工件的待处理图像内,获取至少一个目标对象的初始轮廓点集,其中,所述初始轮廓点集包含多个像素点的像素坐标;
[0008]通过所述目标对象的初始轮廓点集,生成所述目标对象的目标轮廓;
[0009]将所述目标轮廓及其轮廓内的像素点,或者将所述目标轮廓之外的像素点作为目标对象的待检像素点,存储至检测容器;
[0010]通过检测所述检测容器内的待检像素点,得到所述待测工件的检测结果。
[0011]在一可实施方式中,所述获取至少一个目标对象的初始轮廓点集,包括以下至少之一方式:
[0012]通过检测所述待处理图像内的第一点击指令;或者,
[0013]通过检测所述待处理图像内的第二点击指令和形状指令。
[0014]在一可实施方式中,在所述通过检测所述待处理图像内的第一点击指令之后,还包括:
[0015]若存在有当前点击指令满足第一校正条件,则进行第一校正操作。
[0016]在一可实施方式中,所述通过所述目标对象的初始轮廓点集,生成所述目标对象的目标轮廓,包括:
[0017]将所述目标对象的初始轮廓点集,存储至点集容器;
[0018]基于轮廓生成函数,将所述点集容器内的初始轮廓点集生成所述目标对象的目标轮廓。
[0019]在一可实施方式中,基于轮廓生成函数,将所述点集容器内的初始轮廓点集生成
所述目标对象的目标轮廓,包括:
[0020]基于插值算法,将所述点集容器内的初始轮廓点集生成所述目标对象的目标轮廓。
[0021]在一可实施方式中,所述通过检测所述检测容器内的待检像素点,得到所述待测工件的检测结果,包括:
[0022]获取各个待检像素点的像素值;
[0023]若存在有当前待检像素点的像素值/平均像素值满足第一预设像素阈值,则得到所述待测工件的第一检测结果。
[0024]在一可实施方式中,所述通过检测所述检测容器内的待检像素点,得到所述待测工件的检测结果,包括:
[0025]获取各个待检像素点的像素值;
[0026]在所述各个待检像素点的像素值中,统计满足第二预设像素阈值的待检像素点个数;
[0027]通过所述待检像素点个数和/或所述待检像素点个数占比所有像素点个数的比值与预设阈值进行对比,则得到所述待测工件的第二检测结果。
[0028]在一可实施方式中,在所述生成所述目标对象的目标轮廓之后,还包括:
[0029]若存在有当前目标对象的目标轮廓满足第二校正条件,则进行第二校正操作。
[0030]在一可实施方式中,在所述待测工件的待处理图像之前,还包括:
[0031]获取所述待测工件的待处理图像,其中,所述待处理图像包括以下任一种:灰度图像、彩色图像或者HSV图像。
[0032]根据本公开的第二方面,提供了一种图像处理装置,所述装置包括:
[0033]点集获取模块,用于在待测工件的待处理图像内,获取至少一个目标对象的初始轮廓点集,其中,所述初始轮廓点集包含多个像素点的像素坐标;
[0034]轮廓生成模块,用于通过所述目标对象的初始轮廓点集,生成所述目标对象的目标轮廓;
[0035]像素点存储模块,用于将所述目标轮廓及其轮廓内的像素点,或者将所述目标轮廓之外的像素点作为目标对象的待检像素点,存储至检测容器;
[0036]结果确定模块,用于通过检测所述检测容器内的待检像素点,得到所述待测工件的检测结果。
[0037]在一可实施方式中,所述点集获取模块,具体用于以下至少之一方式:
[0038]通过检测所述待处理图像内的第一点击指令;或者,
[0039]通过检测所述待处理图像内的第二点击指令和形状指令。
[0040]在一可实施方式中,还包括:
[0041]第一校正模块,用于在所述通过检测所述待处理图像内的第一点击指令之后,若存在有当前点击指令满足第一校正条件,则进行第一校正操作。
[0042]在一可实施方式中,所述轮廓生成模块,具体用于:
[0043]将所述目标对象的初始轮廓点集,存储至点集容器;
[0044]基于轮廓生成函数,将所述点集容器内的初始轮廓点集生成所述目标对象的目标轮廓。
[0045]在一可实施方式中,所述轮廓生成模块,具体还用于:
[0046]基于插值算法,将所述点集容器内的初始轮廓点集生成所述目标对象的目标轮廓。
[0047]在一可实施方式中,所述结果确定模块,具体用于:
[0048]获取各个待检像素点的像素值;
[0049]若存在有当前待检像素点的像素值/平均像素值满足第一预设像素阈值,则得到所述待测工件的第一检测结果。
[0050]在一可实施方式中,所述结果确定模块,具体用于:
[0051]获取各个待检像素点的像素值;
[0052]在所述各个待检像素点的像素值中,统计满足第二预设像素阈值的待检像素点个数;
[0053]通过所述待检像素点个数和/或所述待检像素点个数占比所有像素点个数的比值与预设阈值进行对比,则得到所述待测工件的第二检测结果。
[0054]在一可实施方式中,还包括:
[0055]第二校正模块,用于在所述生成所述目标对象的目标轮廓之后,若存在有当前目标对象的目标轮廓满足第二校正条件,则进行第二校正操作。
[0056]在一可实施方式中,还包括:
[0057]图像获取模块,用于在所述待测工件的待处理图像之前,获取所述待测工件的待处理图像,其中,所述待处理图像包括以下任一种:灰度图像、彩色图像或者HSV图像。
[0058]根据本公开的第三方面,提供了一种电子设备,包括:
[0059]至少一个处理器;以及
[0060]与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,
[0061]所述存储器存储有可被所述至少一个本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图像处理方法,其特征在于,所述方法包括:在待测工件的待处理图像内,获取至少一个目标对象的初始轮廓点集,其中,所述初始轮廓点集包含多个像素点的像素坐标;通过所述目标对象的初始轮廓点集,生成所述目标对象的目标轮廓;将所述目标轮廓及其轮廓内的像素点,或者将所述目标轮廓之外的像素点作为目标对象的待检像素点,存储至检测容器;通过检测所述检测容器内的待检像素点,得到所述待测工件的检测结果。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取至少一个目标对象的初始轮廓点集,包括以下至少之一方式:通过检测所述待处理图像内的第一点击指令;或者,通过检测所述待处理图像内的第二点击指令和形状指令。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在所述通过检测所述待处理图像内的第一点击指令之后,还包括:若存在有当前点击指令满足第一校正条件,则进行第一校正操作。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通过所述目标对象的初始轮廓点集,生成所述目标对象的目标轮廓,包括:将所述目标对象的初始轮廓点集,存储至点集容器;基于轮廓生成函数,将所述点集容器内的初始轮廓点集生成所述目标对象的目标轮廓。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,基于轮廓生成函数,将所述点集容器内的初始轮廓点集生成所述目标对象的目标轮廓,包括:基于插值算法,将所述点集容器内的初始轮廓点集生成所述目标对象的目标轮廓。6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通过检测所述检测容器内的待检像素点,得到所述待测工件的检测结果,包括:获取各个待检像素点的像素值;若存在有当前待检像素点...

【专利技术属性】
技术研发人员:王艺陵韦鹏辉李丹孙二东张武杰
申请(专利权)人:中科慧远智能装备广东有限公司
类型:发明
国别省市:

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