地下浅层病害体探测方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本公开涉及一种地下浅层病害体探测方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取第一探地雷达针对测区的第一探测数据；获取测区内每个参考干扰源的参考位置；对第一探测数据进行处理，获取每个参考干扰源的解译位置和包括疑似空洞区和疑似脱空区的多个待复测区的第一位置；针对第i个待复测区，基于其第一位置及距离其最近的一个或两个目标参考干扰源的解译位置和参考位置，确定其第二位置，基于RTK技术，获取第二探地雷达针对第二位置的第二探测数据，当第二探测数据表征其为疑似空洞区或疑似脱空区时，获取其钻孔结果，确定其是否为空洞区或脱空区，实现了对解译的病害体准确定位，从而能准确对病害体进行复测和钻孔验证。从而能准确对病害体进行复测和钻孔验证。从而能准确对病害体进行复测和钻孔验证。

【技术实现步骤摘要】
地下浅层病害体探测方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本公开涉及地下工程
，具体地，涉及一种地下浅层病害体探测方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]为避免道路塌陷及保障市政排水管网有效运行，探测市政排水管网周围地下浅层病害体尤为重要。目前主要采用探地雷达结合GPS定位技术探测市政排水管网周围地下浅层病害体。在探测时，由于施工环境为现代城市，而现代城市中部分地区存在密集高建筑和繁茂树木会导致GPS信号变差，影响定位，使解译的病害体难以定位，从而影响对解译的病害体的复测。

技术实现思路

[0003]为克服相关技术中存在的问题，本公开提供一种地下浅层病害体探测方法、装置、电子设备及存储介质。
[0004]为了实现上述目的，本公开提供一种地下浅层病害体探测方法，所述方法包括：
[0005]获取第一探地雷达针对测区的第一探测数据；
[0006]获取所述测区内多个参考干扰源中每个参考干扰源的参考位置，其中，所述多个参考干扰源包括井盖和地下管线；
[0007]对所述第一探测数据进行处理，获取所述测区内多个待复测区中每个待复测区的第一位置，其中，所述多个待复测区包括疑似空洞区和疑似脱空区；
[0008]对所述第一探测数据进行处理，获取所述每个参考干扰源的解译位置；
[0009]针对所述多个待复测区中的第i个待复测区，基于距离所述第i个待复测区最近的一个或两个目标参考干扰源的解译位置和参考位置，以及所述第i个待复测区的第一位置，确定所述第i个待复测区的第二位置，其中，i为正整数；
[0010]基于RTK技术，获取第二探地雷达针对所述第二位置的第二探测数据，以获取所述第i个待复测区的第二探测数据，其中，所述第二探地雷达与所述第一探地雷达不同；
[0011]在所述第i个待复测区的第二探测数据表征所述第i个待复测区为疑似空洞区或疑似脱空区的情况下，获取所述第i个待复测区的钻孔结果；
[0012]根据所述第i个待复测区的钻孔结果，确定所述第i个待复测区是否为空洞区或脱空区。
[0013]可选地，所述对所述第一探测数据进行处理，获取所述测区内多个待复测区中每个待复测区的第一位置，包括：
[0014]对所述第一探测数据进行预处理，获得第一雷达图谱，其中，所述预处理包括以下至少之一：数据编辑、背景去噪、数值滤波；
[0015]获取所述第一雷达图谱中与第一特征的匹配程度达到第一预设阈值的第一区域，将所述第一区域确定为疑似空洞区，并获得所述第一区域的第一位置，其中，所述第一特征
包括：水平切片表现为顶部呈闭合图形，图形内部色系单一，随着时间、深度变大，图形形状变化，图形内部逐渐变成雪花状；垂直剖面表现为绕射波明显，多次波明显，反射波组表现为倒悬双曲线形态或正向连续平板状形态；振幅表现为强；相位与频率表现为顶部反射波与入射波同向，底部反射波与入射波反向，频率高于背景场；
[0016]获取所述第一雷达图谱中与第二特征的匹配程度达到第二预设阈值的第二区域，将所述第二区域确定为疑似脱空区，并获得所述第二区域的第一位置，其中，所述第二特征为包括：水平切片表现为顶部呈闭合图形，图形内部色系较单一；垂直剖面表现为顶部形成连续的同向性反射波组，平板状形态，多次波明显；振幅表现为强；相位与频率表现为顶部反射波与入射波同向，底部反射波与入射波反向，频率高于背景场。
[0017]可选地，所述对所述第一探测数据进行处理，获取所述每个参考干扰源的解译位置包括：
[0018]对所述第一探测数据进行预处理，获得第一雷达图谱，其中，所述预处理包括以下至少之一：数据编辑、背景去噪、数值滤波；
[0019]获取所述第一雷达图谱中与第三特征的匹配程度达到第三预设阈值的第三区域，将所述第三区域确定为井盖，并获得所述第三区域的解译位置，其中，所述第三特征为：水平切片表现为顶部呈圆形异常，随着时间、深度变大，异常宽度无变化；垂直剖面表现为反射波能量强且存在多次反射，从上至下贯穿整个垂直剖面；振幅表现为强；相位与频率表现为顶部反射波与入射波同向，频率高于背景场；
[0020]获取所述第一雷达图谱中与第四特征的匹配程度达到第四预设阈值的第四区域，将所述第四区域确定为地下管线，并获得所述第四区域的解译位置，其中，所述第四特征为：水平切片表现为顶部呈带状异常，随着时间、深度变大，带状异常先变宽再变窄；垂直剖面表现为平行于管线剖面，顶部水平同相轴发育，多次波发育且随时间、深度变大而减弱垂直于管线剖面，顶部表现为倒悬双曲线形态，绕射波明显，多次波明显；振幅表现为强；相位与频率表现为顶部反射波与入射波同向或反向，频率高于背景场。
[0021]可选地，所述方法还包括：
[0022]对所述第一探测数据进行处理，获取所述测区内多个候选复测区中每个候选复测区的第三位置，其中，所述多个候选复测区包括：疑似疏松区和疑似富水区；
[0023]针对所述多个候选复测区中第j个候选复测区，在所述第j个候选复测区的第三位置位于预设区域的情况下，基于距离所述第j个候选复测区最近的一个或两个目标参考干扰源的解译位置和参考位置，以及所述第j个候选复测区的第三位置，确定所述第j个候选复测区的第四位置，其中，j为正整数；
[0024]基于RTK技术，获取所述第二探地雷达针对所述第四位置的第三探测数据，以获取所述第j个候选复测区的第三探测数据；
[0025]在所述第j个候选复测区的第三探测数据表征所述第j个候选复测区为疑似疏松区或疑似富水区的情况下，获取所述第j个候选复测区的钻孔结果；
[0026]根据所述第j个候选复测区的钻孔结果，确定所述第j个候选复测区是否为疏松区或富水区。
[0027]可选地，所述对所述第一探测数据进行处理，获取所述测区内多个候选复测区中每个候选复测区的第三位置，包括：
[0028]对所述第一探测数据进行预处理，获得第一雷达图谱，其中，所述预处理包括以下至少之一：数据编辑、背景去噪、数值滤波；
[0029]获取所述第一雷达图谱中与第五特征的匹配程度达到第五预设阈值的第五区域，将所述第五区域确定为疑似疏松区，并获得所述第五区域的第三位置，其中，所述第五特征包括：水平切片表现为顶部呈闭合图形，图形内部呈雪花状，随着时间、深度变大，图形形状变化；垂直剖面表现为顶部形成连续的同向性反射波组，多次波明显，绕射波明显，内部波形结构杂乱；振幅表现为强；相位与频率表现为顶部反射波与入射波同向，底部反射波与入射波反向，频率高于背景场；
[0030]获取所述第一雷达图谱中与第六特征的匹配程度达到第六预设阈值的第六区域，将所述第六区域确定为疑似富水区，并获得所述第六区域的第三位置，其中，所述第六特征包括：水平切片表现为顶部呈闭合图形，图形内部色系单一，随着时间、深度变大，图形形状变化，垂直剖面表现为顶部形成连续的反向性反射波组，绕射波不明显，底部反射波不明显；振幅表现为顶部反射波振幅强，衰减快；相位与频率本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种地下浅层病害体探测方法，其特征在于，所述方法包括：获取第一探地雷达针对测区的第一探测数据；获取所述测区内多个参考干扰源中每个参考干扰源的参考位置，其中，所述多个参考干扰源包括井盖和地下管线；对所述第一探测数据进行处理，获取所述测区内多个待复测区中每个待复测区的第一位置，其中，所述多个待复测区包括疑似空洞区和疑似脱空区；对所述第一探测数据进行处理，获取所述每个参考干扰源的解译位置；针对所述多个待复测区中的第i个待复测区，基于距离所述第i个待复测区最近的一个或两个目标参考干扰源的解译位置和参考位置，以及所述第i个待复测区的第一位置，确定所述第i个待复测区的第二位置，其中，i为正整数；基于RTK技术，获取第二探地雷达针对所述第二位置的第二探测数据，以获取所述第i个待复测区的第二探测数据，其中，所述第二探地雷达与所述第一探地雷达不同；在所述第i个待复测区的第二探测数据表征所述第i个待复测区为疑似空洞区或疑似脱空区的情况下，获取所述第i个待复测区的钻孔结果；根据所述第i个待复测区的钻孔结果，确定所述第i个待复测区是否为空洞区或脱空区。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述第一探测数据进行处理，获取所述测区内多个待复测区中每个待复测区的第一位置，包括：对所述第一探测数据进行预处理，获得第一雷达图谱，其中，所述预处理包括以下至少之一：数据编辑、背景去噪、数值滤波；获取所述第一雷达图谱中与第一特征的匹配程度达到第一预设阈值的第一区域，将所述第一区域确定为疑似空洞区，并获得所述第一区域的第一位置，其中，所述第一特征包括：水平切片表现为顶部呈闭合图形，图形内部色系单一，随着时间、深度变大，图形形状变化，图形内部逐渐变成雪花状；垂直剖面表现为绕射波明显，多次波明显，反射波组表现为倒悬双曲线形态或正向连续平板状形态；振幅表现为强；相位与频率表现为顶部反射波与入射波同向，底部反射波与入射波反向，频率高于背景场；获取所述第一雷达图谱中与第二特征的匹配程度达到第二预设阈值的第二区域，将所述第二区域确定为疑似脱空区，并获得所述第二区域的第一位置，其中，所述第二特征为包括：水平切片表现为顶部呈闭合图形，图形内部色系较单一；垂直剖面表现为顶部形成连续的同向性反射波组，平板状形态，多次波明显；振幅表现为强；相位与频率表现为顶部反射波与入射波同向，底部反射波与入射波反向，频率高于背景场。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述第一探测数据进行处理，获取所述每个参考干扰源的解译位置包括：对所述第一探测数据进行预处理，获得第一雷达图谱，其中，所述预处理包括以下至少之一：数据编辑、背景去噪、数值滤波；获取所述第一雷达图谱中与第三特征的匹配程度达到第三预设阈值的第三区域，将所述第三区域确定为井盖，并获得所述第三区域的解译位置，其中，所述第三特征为：水平切片表现为顶部呈圆形异常，随着时间、深度变大，异常宽度无变化；垂直剖面表现为反射波能量强且存在多次反射，从上至下贯穿整个垂直剖面；振幅表现为强；相位与频率表现为顶
部反射波与入射波同向，频率高于背景场；获取所述第一雷达图谱中与第四特征的匹配程度达到第四预设阈值的第四区域，将所述第四区域确定为地下管线，并获得所述第四区域的解译位置，其中，所述第四特征为：水平切片表现为顶部呈带状异常，随着时间、深度变大，带状异常先变宽再变窄；垂直剖面表现为平行于管线剖面，顶部水平同相轴发育，多次波发育且随时间、深度变大而减弱垂直于管线剖面，顶部表现为倒悬双曲线形态，绕射波明显，多次波明显；振幅表现为强；相位与频率表现为顶部反射波与入射波同向或反向，频率高于背景场。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：对所述第一探测数据进行处理，获取所述测区内多个候选复测区中每个候选复测区的第三位置，其中，所述多个候选复测区包括：疑似疏松区和疑似富水区；针对所述多个候选复测区中第j个候选复测区，在所述第j个候选复测区的第三位置位于预设区域的情况下，基于距离所述第j个候选复测区最近的一个或两个目标参考干扰源的解译位置和参考位置，以及所述第j个候选复测区的第三位置，确定所述第j个候选复测区的第四位置，其中，j为正整数；基于RTK技术，获取所述第二探地雷达针对所述第四位置的第三探测数据，以获取所述第j个候选复测区的第三探测数据；在所述第j个候选复测区的第三探测数据表征所述第j个候选复测区为疑似疏松区或疑似富水区的情况下，获取所述第j个候选复测区的钻孔结果；根据所述第j个候选复测区的钻孔结果，确定所述第j个候选复测区是否为疏松区或富水区。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述对所述第一探测数据进行处理，获取所述测区内多个候选复测区中每个候选复测区的第三位置，包括：对所述第一探测数据进行预处理，获得第一雷达图谱，其中，所述预处理包括以下至少之一：数据编辑、背景去噪、数值滤波；获取所述第一雷达图谱中与第五特征的匹配程度达到第五预设阈值的第五区域，将所述第五区域确定为疑似疏松区，并获得所述第五区域的第三位置，其中，所述第五特征包括：水平切片...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢小国，罗兵，王强，田银川，吴淑莹，陶俊利，刘伟祖，周先福，
申请(专利权)人：四川省地质矿产勘查开发局成都水文地质工程地质中心，
类型：发明
国别省市：