本实用新型专利技术属于石英晶体测试装置技术领域，特别涉及石英晶体测试头装置，它包括有π回路电路板、测试头，π回路电路板具有两个电极，该两个电极连接有探针，测试头上具有两个接触铜片，两个接触铜片与两个探针分别对应电接触；本实用新型专利技术的测试头与π回路电路板的电极采用接触铜片与探针电连接的方式，使得装置的扩展性更好，测试头与π回路电路板连接更稳定，直接提高了生产效率、保证测试的精确度。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术属于石英晶体测试装置
，特别涉及石英晶体测试头装置。技术背景石英晶体生产过程中，需要用到π回路电路板进行测试，现有测试装置中，除η 回路电路板外，还包括测试头，测试头与η回路电路板的组装，一般采用镙丝把测试头的 铜片固定在η回路电路板上，使测试头与η回路电路板形成导通。前述组装方式具有结 构繁琐、更换型号也不方便、固定端也容易松动的缺点，很容易影响测试的精度，造成频率 散差大的现象。为此，申请人设计出一种测试头装置，能够解决前述技术缺陷，特提出本专 利申请
技术实现思路
本技术的目的在于针对现有技术的不足而提供一种石英晶体测试头装置；该 石英晶体测试头装置解决了原有测试头装置的结构繁琐、型号更换不便、测试精确度差的 缺点。为实现上述目的，本技术采用如下技术方案石英晶体测试头装置，它包括有π回路电路板、测试头，η回路电路板具有两个 电极，该两个电极连接有探针，测试头上具有两个接触铜片，两个接触铜片与两个探针分别 对应电接触。所述的两个电极均位于π回路电路板的同一侧。所述的两个接触铜片位于测试头的侧面上，探针与接触铜片垂直。所述的测试头纵向开设有安装孔。所述的安装孔分别位于接触铜片的外侧。所述的探针位于π回路电路板外侧。本技术的有益效果是测试头与π回路电路板的电极采用接触铜片与探针 电连接的方式，使得装置的扩展性更好，更换型号快速方便，无须专业人员更换，测试头与 JI回路电路板连接更稳定，直接提高了生产效率、保证测试的精确度。附图说明图1是本技术的结构示意图附图标记ΙΟ-—^回路电路板 12——-电极Ι 4——探针20—一测试头 22——接触铜片24—一安装孔具体实施方式以下结合附图对本技术作进一步的说明。见附图1，本技术石英晶体测试头装置包括π回路电路板10、测试头20，π 回路电路板10具有两个电极12，所述的两个电极12均位于π回路电路板10的同一侧，以 方便与测试头20连接；其中，该两个电极12分别连接有探针14，所述的探针14位于π回 路电路板10外侧；测试头20上具有两个接触铜片22，两个接触铜片22与两个探针14分 别对应电接触，由于接触铜片22相对探针14来说面积较大，因此，能够有效保证探针14的 稳定接触。所述的两个接触铜片22位于测试头20的侧面上，π回路电路板10水平放置，测 试头20竖直放置，探针14呈水平状，探针14与接触铜片22垂直，采用这种结构，使测试头 20不直接与π回路电路板10固定连接，而可以将测试头20固定于外部机构上，从而使探 针14与接触铜片22良好、稳定接触，保证测试的精确度，同时，也便于不同型号的装置进行更换。所述的测试头20纵向开设有安装孔24，通过安装孔24固定测试头20 ；所述的安 装孔24分别位于接触铜片22的外侧。本技术具有结构简单、型号更换方便、测试精确度好的优点。当然，以上所述之实施例，只是本技术的较佳实例而已，并非来限制本实用新 型实施范围，故凡依本技术申请专利范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或 修饰，均应包括于本技术申请专利范围内。权利要求石英晶体测试头装置，其特征在于它包括有π回路电路板(10)、测试头(20)，π回路电路板(10)具有两个电极(12)，该两个电极(12)连接有探针(14)，测试头(20)上具有两个接触铜片(22)，两个接触铜片(22)与两个探针(14)分别对应电接触。2.根据权利要求1所述的石英晶体测试头装置，其特征在于所述的两个电极(12)均 位于η回路电路板(10)的同一侧。3.根据权利要求2所述的石英晶体测试头装置，其特征在于所述的两个接触铜片 (22)位于测试头(20)的侧面上，探针(14)与接触铜片(22)垂直。4.根据权利要求1所述的石英晶体测试头装置，其特征在于所述的测试头(20)纵向 开设有安装孔(24)。5.根据权利要求4所述的石英晶体测试头装置，其特征在于所述的安装孔(24)分别 位于接触铜片(22)的外侧。6.根据权利要求1所述的石英晶体测试头装置，其特征在于所述的探针(14)位于π 回路电路板(10)外侧。专利摘要本技术属于石英晶体测试装置
，特别涉及石英晶体测试头装置，它包括有π回路电路板、测试头，π回路电路板具有两个电极，该两个电极连接有探针，测试头上具有两个接触铜片，两个接触铜片与两个探针分别对应电接触；本技术的测试头与π回路电路板的电极采用接触铜片与探针电连接的方式，使得装置的扩展性更好，测试头与π回路电路板连接更稳定，直接提高了生产效率、保证测试的精确度。文档编号G01R1/06GK201637762SQ201020100290公开日2010年11月17日 申请日期2010年1月22日 优先权日2010年1月22日专利技术者刘长春 申请人:东莞惠伦顿堡电子有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
石英晶体测试头装置，其特征在于：它包括有π回路电路板（１０）、测试头（２０），π回路电路板（１０）具有两个电极（１２），该两个电极（１２）连接有探针（１４），测试头（２０）上具有两个接触铜片（２２），两个接触铜片（２２）与两个探针（１４）分别对应电接触。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘长春，
申请(专利权)人：东莞惠伦顿堡电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：44[中国|广东]
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