一种薄膜电阻自动检测系统技术方案

本发明专利技术公开了一种薄膜电阻自动检测系统，包括运动控制模块，用于将物料运输至其他执行模块；图像采集模块，用于对物料的有效区域进行拍摄；激光剔除模块，将算法检测到不合格的物料剔除；上位机控制模块，用于控制各个工位之间协同配合；对人工无法检测检测出的薄膜电阻的微小瑕疵进行精确监测，同时设备通过图像对每个物料进行检测，不会出现漏检情况，并且通过算法能够快速得出检测结果，设备会自动对不合格的薄膜电阻进行穿透标记，替代了人工检测时，识别并手动贴标记的步骤，效率远高于人工检测，准确率高，且用户可以调整检测参数，使用方便快捷。用方便快捷。用方便快捷。

【技术实现步骤摘要】
一种薄膜电阻自动检测系统


[0001]本专利技术涉及薄膜电阻检测
，具体为一种薄膜电阻自动检测系统。

技术介绍

[0002]目前贴片式薄膜电阻物料在经过镭切机精准调阻后，需要人工对镭切刀口及镭切区域进行检测,并将有缺陷物料准确剔除。此方法需要人工成本较大、效率低；由于存在主观因素及目标尺寸较小仅有10μm左右，漏检误检风险较大，稳定性欠缺；人工检测和剔除缺陷物料的过程中存在直接接触，会造成二次破坏，影响良率。

技术实现思路

[0003]本专利技术要解决的技术问题是提供一种薄膜电阻自动检测系统，通过非接触式方式提高对调阻后薄膜电阻检测的效率、准确度及稳定性。
[0004]本专利技术是通过以下技术方案来实现的。
[0005]本专利技术的一种薄膜电阻自动检测系统，包括运动控制模块，用于将物料运输至其他执行模块；
[0006]图像采集模块，用于对物料的有效区域进行拍摄；
[0007]激光剔除模块，将算法检测到不合格的物料剔除；
[0008]上位机控制模块，用于控制各个工位之间协同配合；
[0009]算法检测模块，用于产品各项指标进行检测；
[0010]算法检测模块的检测原理为：首先通过算法确定剥离线位置，只将能形成封闭区域的剥离线定义有效区域，再对剥离线内的单颗料进行排序，再遍历分割每颗料的电极区域、R区域、一次刀线区域、二次刀线区域，各区域分割完成后，再对各个区域内进行对应的缺陷检测，最后将每颗料的检测结果汇总，发送至上位机控制模块。
[0011]进一步地，所述运动控制模块包括上料组件、下料组件、平台移动组件。
[0012]进一步地，所述图像采集模块包括相机，镜头，光源，以及图像采集卡。
[0013]进一步地，所述光源对物料进行补光，相机与镜头配合对物料整体以及局部各检测部位进行拍摄，图像采集卡将拍摄到的图像进行整合并保存。
[0014]进一步地，所述算法检测模块以物料图像中物料的定位点为基础，对物料进行区域检测，并不进行尺寸测量和缺陷检测。
[0015]进一步地，所述算法检测模块会将检测结果反馈至所述上位机控制模块，并由上位机控制模块发根据结果控制所述激光剔除模块作出对应执行动作。
[0016]进一步地，所述激光剔除模块对不合格物料进行激光穿透。
[0017]进一步地，所述激光剔除模块仅会对不合格物料进行穿透，不会损伤不合格物料附近的合格物料。
[0018]进一步地，所述上位机控制模块控制各个模块工位的信号交互、图像坐标与激光坐标的转换、拍照逻辑、运行界面、激光参数设置与校准。
[0019]本专利技术的有益效果：本专利技术能够实现对薄膜电阻的精准检测，并根据检测结果，对不合格的薄膜电阻进行打穿并剔除，通过非接触式方式，对人工无法检测检测出的薄膜电阻的微小瑕疵进行精确监测，同时设备通过图像对每个物料进行检测，不会出现漏检情况，并且通过算法能够快速得出检测结果，设备会自动对不合格的薄膜电阻进行穿透标记，替代了人工检测时，识别并手动贴标记的步骤，效率远高于人工检测，准确率高，且用户可以调整检测参数，使用方便快捷。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0021]图1是本专利技术的系统示意图；
[0022]图2是本专利技术系统的组件交互示意图；
[0023]图3是本专利技术系统的使用示意图；
[0024]图4是本专利技术实施例的物料正面成像图；
[0025]图5是本专利技术实施例的单个物料正面成像图；
[0026]图6是本专利技术实施例的物料背面成像图。
具体实施方式
[0027]下面结合图1
‑
6对本专利技术进行详细说明。
[0028]在一般实施例中：
[0029]结合附图1
‑
6所述的一种薄膜电阻自动检测系统，包括运动控制模块，用于将物料运输至其他执行模块；
[0030]图像采集模块，用于对物料的有效区域进行拍摄；
[0031]激光剔除模块，将算法检测到不合格的物料剔除；
[0032]上位机控制模块，用于控制各个工位之间协同配合；
[0033]算法检测模块，用于产品各项指标进行检测。
[0034]所述运动控制模块包括上料组件、下料组件、平台移动组件。主要负责将物料搬运至各个执行模块，实现自动化上料、采图、检测、剔除、下料功能。所述上料组件由上料仓，顶升电机，上料抓手，感应传感器组成，所述下料组件由下料仓，下料电机，下料抓手，感应传感器，下料仓设有合格物料放置仓和不合格物料放置仓。
[0035]所述图像采集模块包括相机，镜头，光源，以及图像采集卡，所述光源对物料进行补光，相机与镜头配合对物料整体以及局部各检测部位进行拍摄，图像采集卡将拍摄到的图像进行整合并保存。主要是实现将物料有效区域全部稳定清晰拍到，保证不漏检、不重复检测，并将采到的图像稳定高速的发送到上位机控制模块。物料正面与物料背面均设有所述光源，在使用时，正面光源首先开启，背面光源关闭，配合相机对物料正面进行拍照，然后正面光源关闭，背面光源开启，对于物料背面进行拍照。
[0036]物料正面成像图如附图3，单个物料正面成像图如附图4，附图4内指出了物料各部
位的检测区域，物料背面成像图如附图5。
[0037]所述算法检测模块以物料图像中物料的定位点为基础，对物料进行区域检测，并不进行尺寸测量和缺陷检测。所述算法检测模块会将检测结果反馈至所述上位机控制模块，并由上位机控制模块发根据结果控制所述激光剔除模块作出对应执行动作。算法检测模块实现包括产品定位、区域分割、尺寸测量、缺陷检测等功能。
[0038]检测原理：首先通过算法确定剥离线位置，只将能形成封闭区域的剥离线定义有效区域，再对剥离线内的单颗料进行排序，以多个物料按顺序进行循环检测的方式，首先分割每颗料的电极区域、R区域、一次刀线区域、二次刀线区域，各区域分割完成后，再对各个区域内进行对应的缺陷检测，缺陷检测一方面为对局部区域的面积进行测量，在检测结构发现局部区域出现破洞时，根据破洞面积判定该检测物料是否合格，破洞面积的导致物料是否合格的标准值可以在上位机模块中修改，缺陷检测的另一方面检测内容为边缘的凸起和凹陷，根据物料边缘的凸起和凹陷的长度判断该检测物料是否合格，边缘凸起和凹陷的长度是否合格的标准值可以在上位机模块中修改。最后将每颗料的检测结果汇总，发送至上位机模块。
[0039]所述激光剔除模块对不合格物料进行激光打穿，所述激光剔除模块仅会对不合格物料进行穿透，不会损伤不合格物料附近的合格物料。通过准确剔除，保证将不合格料激光打穿并不能损伤到附近物料。
[0040]在后续工序中，被打穿的不合本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种薄膜电阻自动检测系统，其特征在于：包括运动控制模块，用于将物料运输至其他执行模块；图像采集模块，用于对物料的有效区域进行拍摄；激光剔除模块，将算法检测到不合格的物料剔除；上位机控制模块，用于控制各个工位之间协同配合；算法检测模块，用于产品各项指标进行检测；算法检测模块的检测原理为：首先通过算法确定剥离线位置，只将能形成封闭区域的剥离线定义有效区域，再对剥离线内的单颗料进行排序，再遍历分割每颗料的电极区域、R区域、一次刀线区域、二次刀线区域，各区域分割完成后，再对各个区域内进行对应的缺陷检测，最后将每颗料的检测结果汇总，发送至上位机控制模块。2.根据权利要求1所述的一种薄膜电阻自动检测系统，其特征在于：所述运动控制模块包括上料组件、下料组件、平台移动组件。3.根据权利要求1所述的一种薄膜电阻自动检测系统，其特征在于：所述图像采集模块包括相机，镜头，光源，以及图像采集卡。4.根据权利要求3所述的一种薄膜电阻自动检测系统，其特征在于：所述光源对物料进行补光...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨万鹏，桂杰，张贺生，汪松炯，
申请(专利权)人：杭州思元智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：