一种基于Pyraformer模型的二极管可靠性分析方法技术

本发明专利技术涉及一种基于Pyraformer模型的二极管可靠性分析方法，属于微电子技术领域；选择反向漏电流、正向导通电流和正向导通压降作为特征数据；对特征数据进行异常值的处理；对特征数据进行降噪处理；对特征数据进行特征缩放处理；对特征数据进行集合划分；扩大训练集的规模；建立Pyrafomer模型；获得高精度Pyraformer模型；判断高精度Pyraformer模型是否建立完成；将后续采集的正向导通电流和正向导通压降作为高精度Pyraformer模型的输入，输出二极管的反向漏电流，后续根据反向漏电流实现对二极管可靠性的分析；本发明专利技术提高了模型的计算效率和精度，减少可靠性计算成本，同时解决传统建模方法在处理复杂和非线性关系时的困难。困难。困难。

【技术实现步骤摘要】
一种基于Pyraformer模型的二极管可靠性分析方法


[0001]本专利技术属于微电子
，涉及一种基于Pyraformer模型的二极管可靠性分析方法。

技术介绍

[0002]二极管在电子和电力电路中的应用，可以说是无所不在，它作为一个关键的元件被广泛应用在各种电子设备和电力系统中。它的可靠性，包括其稳定性、安全性以及使用寿命等方面，对整个系统的运行具有深远的影响。一方面，如果二极管的可靠性高，可以保证系统的稳定运行，减少因元件故障导致的维修时间和成本。另一方面，二极管的可靠性也直接影响到电力系统的安全性，一旦发生故障，可能会引起电路短路甚至火灾等安全事故，同时，二极管的使用寿命也是决定系统整体寿命的一个重要因素，因此，二极管的可靠性是电力系统设计中的重要考量因素。
[0003]在过去，我们对二极管的可靠性建模主要采用传统的物理模型和统计方法。这些方法都是基于二极管的物理特性和历史运行数据，通过复杂的数学公式和统计分析，来预测二极管的运行状态和寿命。然而，随着微电子技术的快速发展，二极管的设计和制造过程变得越来越复杂，这使得传统的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于Pyraformer模型的二极管可靠性分析方法，其特征在于：包括：步骤一、通过老化实验的方法获取二极管的反向漏电流、正向导通电流和正向导通压降；并选择反向漏电流、正向导通电流和正向导通压降作为特征数据；步骤二、采用z
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score方法对特征数据进行异常值的处理；步骤三、采用高通滤波器对特征数据进行降噪处理；步骤四、对特征数据进行特征缩放处理；步骤五、对特征数据进行集合划分；其中，60％的特征数据作为训练集，20％的特征数据作为验证集，20％的特征数据作为测试集；步骤六、扩大训练集的规模，增加训练集的多样性，避免过拟合，并提高模型的泛化能力；步骤七、建立Pyrafomer模型；步骤八、将步骤六中扩大规模的训练集带入步骤七中的Pyrafomer模型，进行训练，获得高精度Pyraformer模型；步骤九、获取高精度Pyraformer模型的归一化均方根误差和归一化偏差；将归一化均方根误差和归一化偏差作为高精度Pyraformer模型的预测精度评价指标；当归一化均方根误差和归一化偏差均满足预设要求时，判断高精度Pyraformer模型建立完成，进入步骤十；否则，返回步骤一，重新建立高精度Pyraformer模型；步骤十、将后续采集的正向导通电流和正向导通压降带入高精度Pyraformer模型作为高精度Pyraformer模型的输入，高精度Pyraformer模型输出二极管的反向漏电流，后续根据反向漏电流实现对二极管可靠性的分析。2.根据权利要求1所述的一种基于Pyraformer模型的二极管可靠性分析方法，其特征在于：所述步骤一中，共进行两次老化实验，第一次老化实验的温度为75℃，第二次老化实验的温度为100℃；两次老化实验的时间均为168h。3.根据权利要求1所述的一种基于Pyraformer模型的二极管可靠性分析方法，其特征在于：所述步骤二中，采用z
‑
score方法进行异常值的处理包括处理数据中的缺失值和删除重复数值。4.根据权利要求1所述的一种基于Pyr...

【专利技术属性】
技术研发人员：芮二明，刘沛，付琬月，刘超铭，霍明学，高乐，
申请(专利权)人：中国航天标准化研究所，
类型：发明
国别省市：