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本发明涉及一种基于Pyraformer模型的二极管可靠性分析方法，属于微电子技术领域；选择反向漏电流、正向导通电流和正向导通压降作为特征数据；对特征数据进行异常值的处理；对特征数据进行降噪处理；对特征数据进行特征缩放处理；对特征数据进行集合...
该专利属于中国航天标准化研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国航天标准化研究所授权不得商用。

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