【技术实现步骤摘要】
一种芯片缺陷视觉检测用图像采集系统
[0001]本专利技术涉及芯片检测
,尤其涉及一种芯片缺陷视觉检测用图像采集系统。
技术介绍
[0002]在半导体芯片质量检测的自动化生产环境中,芯片被放置于其对应型号的料盘中(塑封表面缺陷视觉检测)或由真空吸嘴吸起(引脚表面缺陷视觉检测),被送入相机拍摄区域。以塑封面视觉检测为例,在夹持机构的作用下,料盘会在其所在平面的列方向运动,同时相机与光源在料盘的行方向运动,以确保料盘上所有芯片都能进入相机拍摄区域。由于各种原因两者会不可避免地产生振动,以及芯片厚度与料盘承载口高度公差,这些都会导致待测芯片表面与相机在成像光轴方向的距离产生波动。如果此波动范围超过成像系统的景深范围,就会造成离焦模糊无法获得聚焦清晰的料盘及芯片图像,直接影响到后续的图像分析处理与芯片表面质量的判断。
[0003]因此需要设计一种用于使芯片可以更平稳的从相机下方经过,降低振动对相机景深的影响的芯片缺陷视觉检测用图像采集系统。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的是为了解决现有技术中 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片缺陷视觉检测用图像采集系统,包括安装箱(1)和升降设置在所述安装箱(1)内的图样采集部,其特征在于,还包括:用于传输物料的传输部,所述传输部上可拆卸连接有用于固定芯片的托盘(7),其中,所述托盘(7)包括底部开设有开口的安装盒(701),所述安装盒(701)的顶部固定连接有凸块(702),所述安装盒(701)内部开设有活塞槽(704),所述活塞槽(704)内滑动连接有活塞板(705),所述凸块(702)上开设有与活塞槽(704)连通的气孔(703),所述活塞板(705)的顶部固定连接有延伸至气孔(703)内的密封杆(706);所述安装盒(701)内设置有用于驱动活塞板(705)升降的第一驱动部。2.根据权利要求1所述的一种芯片缺陷视觉检测用图像采集系统,其特征在于,所述传输部包括固定连接在所述安装箱(1)上的安装架(8),所述安装架(8)上转动连接有安装轴(801),所述安装轴(801)上固定连接有传输辊(802),所述传输辊(802)上套有传输皮带(803),所述安装架(8)外壁上设置有用于驱动传输辊(802)转动的第二驱动部。3.根据权利要求2所述的一种芯片缺陷视觉检测用图像采集系统,其特征在于,所述第二驱动部包括连接在安装架(8)外壁上的第四安装板(9),所述第四安装板(9)上固定连接有第二电机(901),所述第二电机(901)的输出轴上固定连接有往复丝杆(902),所述往复丝杆(902)螺纹连接有滑动套(903),转动连接在所述安装架(8)外壁上的传动轴,所述传动轴通过带轮组(906)与安装轴(801)同步转动,所述带轮组(906)中位于传动轴上的带轮内设置有棘轮结构(907),所述安装架(8)的外壁上固定连接有连接板(905),所述连接板(905)上滑动连接有齿条(904),所述传动轴上固定连接有与齿条(904)啮合的传动齿轮(908)。4.根据权利要求2所述的一种芯片缺陷视觉检测用图像采集系统,其特征在于,所述安装架(8)上固定连接有支撑板(805),所述支撑板(805)上开设有与T形的滑槽,环形的所述传输皮带(803)的内侧固定连接有截面为T形的限位条(806),所述限位条(806)与滑槽滑动相连。5.根据权利要求2所述的一种芯片缺陷视觉检测用图像采集系统,其特征在于,所述传输皮带(803)的外侧固定连接有定位条(804),多根所述定位条(804)组成多个定位槽,所述安装盒(701)插接在定位槽中。6.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员:邓剑勋,胡春霞,李丹,
申请(专利权)人:重庆电子工程职业学院,
类型:发明
国别省市:
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