一种识别对位点的方法技术

一种识别对位点的方法，获取每个对位点对应的对位点图像，识别对位点图像中的特征点，对对位点图像中的特征点进行排列组合，获取特征点组合，获取每个特征点组合的距离差值组，依据获得的距离差值组的数据，找到包含全部对位点的特征点组合。自动识别对位点，屏蔽干扰点。点。点。

【技术实现步骤摘要】
一种识别对位点的方法


[0001]本专利技术涉及激光直写加工
，特别是一种识别加工工件的对位点的方法。

技术介绍

[0002]激光直写技术广泛应用于半导体、PCB板、光伏电池、3D打印等生产领域，是制作半导体器件、芯片、PCB板和光伏电池等产品的重要加工方法，其用于在工件表面上光刻特征图形，印刷电路板防焊油墨的处理以及多层电路板之间电气互连的打孔处理等。
[0003]在对印刷电路板等工件进行加工时，通常首先要获取工件上的对位点，获得工件的实际位置。获取对位点时，通常通过设置的对位点的形状特征或者设置有效区域屏蔽干扰点。但是对于对位点资料不规范，对位点随意选择，无法通过设置对位点的形状特征进行屏蔽；而对于设置有效区域的方式，由于设置的有效区域较小，一旦出现放板偏位，就会导致获取对位点失败，提高了对自动线的精度要求，增加了成本，并且获取对位点失败也会导致生产中断，影响生产效率。

技术实现思路

[0004]为了解决上述问题，本专利技术提供一种识别对位点的方法，屏蔽对位点区域内的干扰点。
[0005]一种识别对位点本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种识别对位点的方法，其特征在于：获取每个对位点对应的对位点图像，识别对位点图像中的特征点，对对位点图像中的特征点进行排列组合，获取特征点组合，获取每个特征点组合的距离差值组，依据获得的距离差值组的数据，获得包含全部对位点的特征点组合。2.根据权利要求1所述的识别对位点的方法，其特征在于：所述距离差值组是通过每个特征点组合中的任意两个特征点之间的实际距离和对应的对位点之间的理论距离获得的距离差值的组合。3.根据权利要求1所述的识别对位点的方法，其特征在于：所述包含全部对位点的特征点组合是距离差值组中所有距离差值均为所有距离差值组中的对应距离差值的最小值。4.根据权利要求1所述的识别对位点的方法，其特征在于：判断特征点组合是否为包含全部对位点的组合时，依次比较各距离差值组中对应的距离差值，找到最小距离差值的组合。5.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：张飞飞，胡传武，徐国栋，董昱君，张雷，
申请(专利权)人：源卓微纳科技苏州股份有限公司，
类型：发明
国别省市：