一种识别对位点的方法技术

一种识别对位点的方法，获取每个对位点对应的对位点图像，识别对位点图像中的特征点，对对位点图像中的特征点进行排列组合，获取特征点组合，获取每个特征点组合的距离差值组，依据获得的距离差值组的数据，找到包含全部对位点的特征点组合。自动识别对位点，屏蔽干扰点。点。点。

【技术实现步骤摘要】
一种识别对位点的方法


[0001]本专利技术涉及激光直写加工
，特别是一种识别加工工件的对位点的方法。

技术介绍

[0002]激光直写技术广泛应用于半导体、PCB板、光伏电池、3D打印等生产领域，是制作半导体器件、芯片、PCB板和光伏电池等产品的重要加工方法，其用于在工件表面上光刻特征图形，印刷电路板防焊油墨的处理以及多层电路板之间电气互连的打孔处理等。
[0003]在对印刷电路板等工件进行加工时，通常首先要获取工件上的对位点，获得工件的实际位置。获取对位点时，通常通过设置的对位点的形状特征或者设置有效区域屏蔽干扰点。但是对于对位点资料不规范，对位点随意选择，无法通过设置对位点的形状特征进行屏蔽；而对于设置有效区域的方式，由于设置的有效区域较小，一旦出现放板偏位，就会导致获取对位点失败，提高了对自动线的精度要求，增加了成本，并且获取对位点失败也会导致生产中断，影响生产效率。

技术实现思路

[0004]为了解决上述问题，本专利技术提供一种识别对位点的方法，屏蔽对位点区域内的干扰点。
[0005]一种识别对位点的方法，获取每个对位点对应的对位点图像，识别对位点图像中的特征点，对对位点图像中的特征点进行排列组合，获取特征点组合，获取每个特征点组合的距离差值组，依据获得的距离差值组的数据，找到包含全部对位点的特征点组合。
[0006]所述距离差值组通过每个特征点组合中的任意两个特征点之间的实际距离和对应的对位点之间的理论距离获得的距离差值的组合。
[0007]所述包含全部对位点的特征点组合是距离差值组中所有距离差值均为所有距离差值组中的对应距离差值的最小值。
[0008]判断特征点组合是否为包含全部对位点的组合时，依次比较各距离差值组中对应的距离差值，找到最小距离差值的组合。
[0009]判断特征点组合是否为包含全部对位点的组合时，采用比较距离差值组中距离差值总和的方式。
[0010]比较距离差值总和的方式包括以下步骤，首先获取每组距离差值组中所有距离差值的总和，比较特征点组合对应的距离差值总和，找到距离差值总和最小的特征点组合，即为对位点组成的特征点组合。
[0011]一种对位方法，通过对位相机获取工件上对位点对应的图像，采用上述识别对位点的方法，获得对位点，对工件进行对位。
[0012]所述对位系统包括对位相机和分析单元，所述对位相机获取工件上对位点对应的图像，所述分析单元采用上述识别对位点的方法识别对位点，对工件进行对位。
[0013]与现有技术相比，本专利技术可以自动识别对位点，屏蔽干扰点，提高加工效率。
附图说明
[0014]图1是工件对位点位置示意图。
[0015]图2是对位相机获取对位点图像示意图。
[0016]图3是实施例第一特征点组合对应的示意图。
[0017]图4是实施例第n特征点组合对应的示意图。
实施方式
[0018]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明了，下面通过附图中示出的具体实施例来描述本专利技术。
[0019]如图1
‑
4所示，识别对位点时，首先获取包含对位点的图像，自每个图像中获取特征点，所述特征点中包含对位点和干扰点。
[0020]自每个图像中获取一个特征点，对所有特征点进行排列组合，获得多个特征点组合。
[0021]对于每个特征点组合，获取任意两个特征点之间的实际距离，并将任意两个特征点之间的实际距离与对应的对位点的理论距离进行比较，获得多个距离差值。所述理论距离为对位点的设计值或者标定值。
[0022]在所有特征点组合中，找到任意两特征点之间距离差值最小的一组特征点组合，这组特征点组合所对应的特征点，即为对位点。
[0023]下面根据实施例对实施步骤进行具体说明。如图所示，所述工件具有四个对位点，分为第一对位点 1、第二对位点 2、第三对位点 3和第四对位点 4，获取每个对位点对应的图像，第一对位点对应的图像为第一图像（图 2
‑
a），第二对位点对应的图像为第二图像（图2
‑
b），第三对位点对应的图像为第三图像（图 2
‑
c），第四对位点对应的图像为第四图像（图 2
‑
d）。
[0024]在获取的四个对位点图像中识别特征点，所述实施例中，每个对位点对应的图像中均包含三个特征点。
[0025]在每个特征点的图像中选取一个特征点构成一个特征点组合。如在第一图像中选取特征点D11，第二图像中选取特征点D21，第三图像中选取特征点D31，第四图像中选取特征点D41，所述特征点D11、特征点D21、特征点D31和特征点D41为第一特征点组合。以此类推，共可以获得81个特征点组合。
[0026]获取每个特征点组合中的任意两个特征点之间的实际距离和对应的对位点之间的理论距离的距离差值组。对于本实施例中四个对位点的情况，需获得第一对位点1、第二对位点2对应的实际距离和理论距离的第一距离差值，第一对位点1、第三对位点3对应的实际距离和理论距离的第二距离差值，第一对位点1、第四对位点4对应的实际距离和理论距离的第三距离差值，第二对位点2、第三对位点3对应的实际距离和理论距离的第四距离差值，第二对位点2、第四对位点4对应的实际距离和理论距离的第五距离差值，第三对位点3、第四对位点4对应的实际距离和理论距离的第六距离差值，所述距离差值均为绝对值。每个特征点组合获得一组共六个距离差值的距离差值组，通过上述方式获得81个特征点组合的距离差值组。各对位点间的实际距离，通过对位点对应的图像中识别的特征点获取。
[0027]以图中特征点D11、特征点D21、特征点D31、特征点D41组成的第一特征点组合为
例，进行距离差值组的说明。特征点组合分别获取特征点D11和特征点D21之间的第一实际距离L11、特征点D11和特征点D31之间的第二实际距离L21、特征点D11和特征点D41之间的第三实际距离L31、特征点D21和特征点D31之间的第四实际距离L41、特征点D21和特征点D41之间的第五实际距离L51和特征点D31和特征点D41之间的第六实际距离L61。所述第一实际距离对应的理论距离为第一对位点1和第二对位点2的理论距离L1
′
，获取第一实际距离L11和第一理论距离L1
′
之间的第一距离差值X11；所述第二实际距离L21对应的理论距离为第一对位点1和第三对位点3的理论距离L2
′
，获取第二实际距离L21和第二理论距离L2
′
之间的第二距离差值X21；所述第三实际距离L31对应的理论距离为第一对位点1和第四对位点4的理论距离L3
′
，获取第三实际距离L31和第三理论距离L3
′
之间的第三距离差值X31；所述第四实际距离L41对应的理论距离为第二对位点2和第三对位点3的理论距离L4
′
，获取第四实际距离L41和第四理本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种识别对位点的方法，其特征在于：获取每个对位点对应的对位点图像，识别对位点图像中的特征点，对对位点图像中的特征点进行排列组合，获取特征点组合，获取每个特征点组合的距离差值组，依据获得的距离差值组的数据，获得包含全部对位点的特征点组合。2.根据权利要求1所述的识别对位点的方法，其特征在于：所述距离差值组是通过每个特征点组合中的任意两个特征点之间的实际距离和对应的对位点之间的理论距离获得的距离差值的组合。3.根据权利要求1所述的识别对位点的方法，其特征在于：所述包含全部对位点的特征点组合是距离差值组中所有距离差值均为所有距离差值组中的对应距离差值的最小值。4.根据权利要求1所述的识别对位点的方法，其特征在于：判断特征点组合是否为包含全部对位点的组合时，依次比较各距离差值组中对应的距离差值，找到最小距离差值的组合。5.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：张飞飞，胡传武，徐国栋，董昱君，张雷，
申请(专利权)人：源卓微纳科技苏州股份有限公司，
类型：发明
国别省市：