本发明专利技术公开了一种用于多高层钢结构地脚螺栓安装测量校正结构，包括装置主体，所述装置主体上设有对角设立的四个导向滑槽，四个所述导向滑槽之间设有多层平行的第一刻度条，所述导向滑槽内设有测量滑块，所述测量滑块的表面设有第一插孔和两个第二刻度条，所述测量滑块能够沿着导向滑槽的长度方向移动，所述测量滑块的下方设有用于校正的定位结构；该用于多高层钢结构地脚螺栓安装测量校正结构在使用时能够快速检测出地脚螺栓的位置是否发生偏差，且整体能够根据预设的四个地脚螺栓的间距数值进行调整，适用范围大，满足检测校正需求。满足检测校正需求。满足检测校正需求。
【技术实现步骤摘要】
一种用于多高层钢结构地脚螺栓安装测量校正结构
[0001]本专利技术涉及测量校正
，尤其涉及一种用于多高层钢结构地脚螺栓安装测量校正结构。
技术介绍
[0002]高层钢结构一般是指六层以上(或30m以上)，主要采用型钢、钢板连接或焊接成构件，再经连接、焊接而成的结构体系。高层钢结构在进行施工时，需要对称预埋若干地脚螺栓，使得若干地脚螺栓程环形或方形，而后将地面之上的钢结构与若干地脚螺栓连接固定，从而使得钢结构能够更稳定。而由于高层钢结构的重心较高，故而预埋的地脚螺栓也需要更深，从而才能保证高层钢结构使用的更稳定。而随着地脚螺栓埋设的越深，其埋设的精度也就会越容易出现偏差，为了保证地脚螺栓不会出现预埋偏差，常需要使用测量校正结构对其进行测量校正。
[0003]测量校正结构可看作为尺规，在使用时，可将若干地脚螺栓插入到测量校正结构上预设好的插孔内，此时若地脚螺栓的位置出现偏差，其就无法插入到插孔内，接着就需要使用锤子等工具击打地脚螺栓，从而对地脚螺栓进行校正。而现有的测量校正结构存在一定的使用缺陷，即测量校正结构上开设的插孔位置均是固定的，故而其只能测量一种间距数值的地脚螺栓，当预设计的若干个地脚螺栓的间距数值发生改变时，就需要更换不同规格的测量校正结构进行测量，最终使得测量校正结构的通用性较低。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的是解决上述问题而提供一种能够快速检测出地脚螺栓的位置是否发生偏差，且整体能够根据预设的四个地脚螺栓的间距数值进行调整，适用范围大，满足检测校正需求的用于多高层钢结构地脚螺栓安装测量校正结构。
[0005]为实现上述目的，本专利技术的技术方案为：一种用于多高层钢结构地脚螺栓安装测量校正结构，包括装置主体，所述装置主体上设有对角设立的四个导向滑槽，其中导向滑槽上下贯通装置主体，四个所述导向滑槽之间设有多层平行的第一刻度条，所述导向滑槽内设有测量滑块，所述测量滑块的表面设有第一插孔和两个第二刻度条，所述测量滑块能够沿着导向滑槽的长度方向移动，两个第二刻度条根据第一插孔的轴心垂直设立，所述测量滑块沿着导向滑槽移动时第二刻度条能够与第一刻度条对应，所述测量滑块的下方设有用于校正的定位结构。
[0006]优选的，所述导向滑槽的侧壁设有防脱滑槽，所述测量滑块沿着防脱滑槽在导向滑槽内移动，其中测量滑块包括基块和防脱滑块，所述防脱滑块有两个且对称安装在基块的左右两端，两个所述防脱滑块分别与两侧的防脱滑槽配合，所述第二刻度条设在基块的表面，所述测量滑块上的基块和防脱滑块一体成型，所述基块的外侧对称开设有两个防脱腔，所述防脱腔的下端开设有穿孔，所述穿孔将基块的下端与防脱腔贯通，所述定位结构设在基块的下方。
[0007]优选的，所述定位结构包括基板、连接柱、防脱板以及定位磁铁，所述连接柱有两个且对称安装在基板的表面，所述防脱板有两个且分别安装在两个连接柱的表面，所述定位磁铁有两个且对称安装在基板的左右两端，其中定位磁铁与基板之间通过胶接连接，所述基板在两个连接柱之间设有第二插孔，所述第二插孔将基板的上下两端贯通，其中连接柱和防脱板为一体成型，所述连接柱通过螺钉固定在基板的表面，所述基板通过连接柱和防脱板与测量滑块连接，连接时所述防脱板位于防脱腔内，所述连接柱穿过穿孔将基板与防脱板连接在一起。
[0008]优选的，所述装置主体能够被定位磁铁吸附，测量校正之前，定位磁铁与装置主体不接触。
[0009]优选的，每层四条第一刻度条均呈正方形，所述测量滑块上的两条第二刻度条分别与相邻的两个第一刻度条相对应，所述测量滑块与地脚螺栓一一对应。
[0010]本专利技术公开的一种用于多高层钢结构地脚螺栓安装测量校正结构与现有技术相比，具有以下有益效果：通过设置可滑动的测量滑块以及将第一插孔开设在测量滑块上，同时在测量滑块上开设第二刻度条，在装置主体上开设第一刻度条，可以使得四个第一插孔形成的方形的周长发生改变，进而当预设计的四个地脚螺栓的间距数值发生改变时，四个第一插孔形成的方形的周长也能发生改变，从而最终可以提升该测量校正结构的通用性；通过设置定位结构，可以便于测量滑块的定位固定，进一步提成测量精度。
附图说明
[0011]图1为本专利技术一种用于多高层钢结构地脚螺栓安装测量校正结构的表面结构示意图一。
[0012]图2为本专利技术一种用于多高层钢结构地脚螺栓安装测量校正结构的表面结构示意图二。
[0013]图3为本专利技术一种用于多高层钢结构地脚螺栓安装测量校正结构的底面结构示意图。
[0014]图4为本专利技术一种用于多高层钢结构地脚螺栓安装测量校正结构中测量滑块的剖视图。
[0015]图5为本专利技术一种用于多高层钢结构地脚螺栓安装测量校正结构中定位结构的示意图。
[0016]图中：1、装置主体；2、测量滑块；3、定位结构；4、第一刻度条；5、导向滑槽；6、防脱滑槽；7、基块；8、第二刻度条；9、第一插孔；10、防脱腔；11、穿孔；12、防脱滑块；13、基板；14、第二插孔；15、连接柱；16、防脱板；17、定位磁铁。
具体实施方式
[0017]现在结合附图对本专利技术作进一步详细的说明。附图为简化的示意图，仅以示意方式说明本专利技术的基本结构，因此其仅显示与本专利技术有关的构成。
[0018]请参照图1
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5，一种用于多高层钢结构地脚螺栓安装测量校正结构，包括装置主体1，所述装置主体1上设有对角设立的四个导向滑槽5，其中导向滑槽5上下贯通装置主体1，四个所述导向滑槽5之间设有多层平行的第一刻度条4，所述导向滑槽5内设有测量滑块2，
所述测量滑块2的表面设有第一插孔9和两个第二刻度条8，所述测量滑块2能够沿着导向滑槽5的长度方向移动，两个第二刻度条8根据第一插孔9的轴心垂直设立，所述测量滑块2沿着导向滑槽5移动时第二刻度条8能够与第一刻度条4对应，所述测量滑块2的下方设有用于校正的定位结构3；在使用时，可使用该测量校正装置对四个地脚螺栓的间距进行测量，当四个地脚螺栓能同时插入到四个测量滑块2上开设的四个第一插孔9内时，地脚螺栓即没有发生偏移，四个地脚螺栓即不需要进行矫正，当有其中一个或几个无法插入到第一插孔9内时，其即发生了偏移，此时可根据其偏移的量使用锤子对其进行敲击校正，最终直至其符合设计要求即可。
[0019]在本专利技术方案中，所述导向滑槽5的侧壁设有防脱滑槽6，所述测量滑块2沿着防脱滑槽6在导向滑槽5内移动，其中测量滑块2包括基块7和防脱滑块12，所述防脱滑块12有两个且对称安装在基块7的左右两端，两个所述防脱滑块12分别与两侧的防脱滑槽6配合，所述第二刻度条8设在基块7的表面，所述测量滑块2上的基块7和防脱滑块12一体成型，所述基块7的外侧对称开设有两个防脱腔10，所述防脱腔10的下端开设有穿孔11，所述穿孔11将基块7的下端与防脱腔10贯通，所述定位结构3设在基块的下方。
[0020]在使用时测量滑块2整体通过防脱滑块12与防脱滑槽6配合滑动，能够根据需求调节四个第一插孔9的位置；也就是说，本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于多高层钢结构地脚螺栓安装测量校正结构，包括装置主体，其特征在于，所述装置主体上设有对角设立的四个导向滑槽，其中导向滑槽上下贯通装置主体，四个所述导向滑槽之间设有多层平行的第一刻度条，所述导向滑槽内设有测量滑块，所述测量滑块的表面设有第一插孔和两个第二刻度条，所述测量滑块能够沿着导向滑槽的长度方向移动，两个第二刻度条根据第一插孔的轴心垂直设立，所述测量滑块沿着导向滑槽移动时第二刻度条能够与第一刻度条对应，所述测量滑块的下方设有用于校正的定位结构。2.根据权利要求1所述的用于多高层钢结构地脚螺栓安装测量校正结构，其特征在于，所述导向滑槽的侧壁设有防脱滑槽，所述测量滑块沿着防脱滑槽在导向滑槽内移动，其中测量滑块包括基块和防脱滑块，所述防脱滑块有两个且对称安装在基块的左右两端，两个所述防脱滑块分别与两侧的防脱滑槽配合，所述第二刻度条设在基块的表面，所述测量滑块上的基块和防脱滑块一体成型，所述基块的外侧对称开设有两个防脱腔，所述防脱腔的下端开设有穿孔，所述穿孔将基块的下端与防脱腔贯通，所述定位结构设在基块的下方。3.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员：张耀举，杨周，张志青，张云良，严开义，
申请(专利权)人：中电建十一局重庆建设有限公司，
类型：发明
国别省市：
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