一种辅助测试臂、测试设备以及自动测试方法技术

本说明书提供一种辅助测试臂、测试设备以及自动测试方法，涉及测试技术领域。一种辅助测试臂，包括：腔体；第一滑轨，在垂直方向上可移动地连接与腔体下端；连接台，固定连接于第一滑轨下端，在连接台上穿设有主针；位移块，在水平方向上可移动地连接于连接台；调节台，固定连接于位移块，在调节台的尾部穿设有副针，其中，副针与主针平行设置。通过上述结构，能够提升电路板的测试效率。提升电路板的测试效率。提升电路板的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种辅助测试臂、测试设备以及自动测试方法


[0001]本说明书涉及测试
，尤其涉及一种辅助测试臂、测试设备以及自动测试方法。

技术介绍

[0002]随着电子技术的发展，实现功能的电路板上所承载的电子器件数量也越来越多。为了提升量产电路板的可靠性，在电路板设计完成并制备原型板后，需要经过上电测试的过程。
[0003]在进行电路板的测试时，包含普通信号以及针对电容、电源电压或纹波噪声的两种类型的测试。针对硬件信号质量和信号时序进行测试时，需要通过一个测试端进行测试，而针对电源完整性测试时，需要通过另一个测试端端进行测试。由于电路板上进行电容、电源电压或纹波噪声测试时，需要工作人员手持另一组测试探针进行手动测试，消耗大量的时间完成测试，降低了电路板测试的效率。

技术实现思路

[0004]为克服相关技术中存在的问题，本说明书提供了一种辅助测试臂、测试设备以及自动测试方法。
[0005]结合本说明书实施方式的第一方面，本申请提供了一种辅助测试臂，包括：
[0006]腔体；
[0007]第一滑轨，在垂直方向上可移动地连接与腔体下端；
[0008]连接台，固定连接于第一滑轨下端，在连接台上穿设有主针；
[0009]位移块，在水平方向上可移动地连接于连接台；
[0010]调节台，固定连接于位移块，在调节台的尾部穿设有副针，其中，副针与主针平行设置。
[0011]可选的，辅助测试臂，还包括：
[0012]操作杆，连接台通过操作杆连接于第一滑轨，在操作杆两侧设置有操作部。
[0013]可选的，连接台，包括底壁和侧壁；
[0014]底壁和侧壁合围形成有容纳槽，容纳槽用于容纳测试探针；
[0015]在侧壁之间还设置有连接壁，连接壁连接位移块；
[0016]副针用于连接相对应于测试探针的接地探针。
[0017]可选的，在侧壁设置有固定螺钉，固定螺钉穿过侧壁对测试探针进行固定。
[0018]可选的，在容纳槽中还设置有驱动电机和第二滑轨；
[0019]通过驱动电机和第二滑轨驱动位移块在水平方向上移动。
[0020]可选的，主针和副针的底部呈相对设置的斜面。
[0021]可选的，在斜面相对的边缘位置形成有凹槽。
[0022]结合本说明书实施方式的第二方面，本申请提供了一种测试设备，包括上述的辅
助测试臂以及主测试臂，辅助测试臂和主测试臂相连接；
[0023]主测试臂，包括：
[0024]主滑轨，在垂直方向上可移动地设置于主测试臂下端；
[0025]测试台，固定与主滑轨下端，在测试台上设置有测试针；
[0026]其中，主测试臂中设置有与测试针连接的第一测试探针，辅助测试臂中设置有与主针连接的第二测试探针以及与副针连接的接地探针。
[0027]结合本说明书实施方式的第三方面，本申请提供了一种自动测试方法，应用于上述的测试设备，包括：
[0028]获取预设的测试脚本；
[0029]通过主测试臂上的主滑轨控制主测试臂下移到达测试位置，通过辅助测试臂上的第一滑轨控制辅助测试臂上移到达等待位置；
[0030]基于测试脚本，通过主测试臂上的测试探针进行硬件信号质量和信号时序测试；
[0031]通过主测试臂上的主滑轨控制主测试臂上移到达等待位置，通过辅助测试臂上的第一滑轨控制辅助测试臂下移到测试位置；
[0032]基于测试脚本，通过辅助测试臂上的主针和副针进行电源完整性测试。
[0033]本说明书的实施方式提供的技术方案可以包括以下有益效果：
[0034]本说明书实施方式中，通过在辅助测试臂上设置可以在垂直方向和水平方向上相对移动的主针和副针，使得主针和副针之间的距离可以快速调节，从而提升测试设备的测试效率。
[0035]应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本说明书。
附图说明
[0036]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本说明书的实施方式，并与说明书一起用于解释本说明书的原理。
[0037]图1是本申请所涉及的一种辅助测试臂的结构示意图；
[0038]图2是本申请所涉及的一种主测试臂和辅助测试臂的结构示意图；
[0039]图3是本申请所涉及的一种辅助测试臂的侧视图；
[0040]图4是本申请实施方式所涉及的一种辅助测试臂的侧视图；
[0041]图5是本申请所涉及的一种辅助测试臂的俯视图；
[0042]图6是本申请实施方式所涉及的一种辅助测试臂中的主针和副针的结构示意图；
[0043]图7是本申请实施方式所涉及的另一种辅助测试臂中的主针和副针的结构示意图；
[0044]图8是本申请所涉及的一种测试设备的结构示意图；
[0045]图9是本申请所涉及的一种自动测试方法的流程图。
具体实施方式
[0046]这里将详细地对示例性实施方式进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施
方式中所描述的实施方式并不代表与本说明书相一致的所有实施方式。
[0047]本申请提供了一种辅助测试臂100，如图1
‑
3所示，包括：
[0048]腔体101；
[0049]第一滑轨102，在垂直方向上可移动地连接与腔体101下端；
[0050]连接台103，固定连接于第一滑轨102下端，在连接台103上穿设有主针104；
[0051]位移块105，在水平方向上可移动地连接于连接台103；
[0052]调节台106，固定连接于位移块105，在调节台的尾部穿设有副针107，其中，副针107与主针104平行设置。
[0053]腔体101可以呈一柱体，在腔体101形成有一中空结构，其中，可以容纳有第一滑轨102。
[0054]第一滑轨102可以通过手动操作，也可以通过电机驱动在垂直方向Y上移动。
[0055]可选的，辅助测试臂100，如图4所示，还包括：操作杆112，连接台103通过操作杆112连接于第一滑轨102，在操作杆两侧设置有操作部112A。
[0056]在进行连接台103的手动操作时，工作人员可以通过持握操作部112A对连接台103进行垂直方向的移动，使得连接台103的上下移动更加便利。
[0057]在连接台103的一侧设置有位移块105，位移块105在水平方向X上移动，通过位移块105的移动带动调节台106的移动。在连接台103远离位移块105的底壁设置有一通孔，主针104穿过通孔并被夹持在通孔中。
[0058]调节台106在如图5所示的俯视图上呈L形结构，可以包含有第一块106A和第二块106B，第一块106A可以接近于矩形，并与位移块105可相对移动地连接，第二块106B与本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种辅助测试臂，其特征在于，包括：腔体；第一滑轨，在垂直方向上可移动地连接与所述腔体下端；连接台，固定连接于所述第一滑轨下端，在所述连接台上穿设有主针；位移块，在水平方向上可移动地连接于所述连接台；调节台，固定连接于所述位移块，在所述调节台的尾部穿设有副针，其中，所述副针与所述主针平行设置。2.根据权利要求1所述的辅助测试臂，其特征在于，还包括：操作杆，所述连接台通过所述操作杆连接于所述第一滑轨，在所述操作杆两侧设置有操作部。3.根据权利要求1所述的辅助测试臂，其特征在于，所述连接台，包括底壁和侧壁；所述底壁和所述侧壁合围形成有容纳槽，所述容纳槽用于容纳测试探针；在所述侧壁之间还设置有连接壁，所述连接壁连接所述位移块；所述副针用于连接相对应于所述测试探针的接地探针。4.根据权利要求3所述的辅助测试臂，其特征在于，在所述侧壁设置有固定螺钉，所述固定螺钉穿过所述侧壁对所述测试探针进行固定。5.根据权利要求3所述的辅助测试臂，其特征在于，在所述容纳槽中还设置有驱动电机和第二滑轨；通过所述驱动电机和所述第二滑轨驱动所述位移块在水平方向上移动。6.根据权利要求1所述的辅助测试臂，其特征在于，所述主针和所述副...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈永远，
申请(专利权)人：新华三技术有限公司，
类型：发明
国别省市：