【技术实现步骤摘要】
芯片贴装定位方法和扇出型封装工艺
[0001]本专利技术涉及半导体封装
,具体而言,涉及一种芯片贴装定位方法和扇出型封装工艺。
技术介绍
[0002]现有的扇出型封装(eWLB)工艺技术在临时载板上粘附一层热释膜后,应用芯片贴片机将挑选的芯片(KGD)正装或倒装贴在热释膜上,在此贴装工艺中,芯片的偏移精度容易受到诸多因素的影响,包括但不限于贴片机公差、芯片对位图案、芯片尺寸与热释膜贴合时的工艺差异、热释膜材料粘度、热释膜厚度、键合压力及时间等,因此在这个工艺操作中,即使使用高精度的贴片机台,最终也很难获得高度精准的芯片对位效果,即芯片偏移较大,定位精度低。
技术实现思路
[0003]本专利技术的目的包括,例如,提供了一种芯片贴装定位方法和扇出型封装工艺,其能够有效降低芯片位置的偏移,提高贴装精度和效率。
[0004]本专利技术的实施例可以这样实现:
[0005]第一方面,本专利技术提供一种芯片贴装定位方法,包括:
[0006]提供一贴片模具;其中,所述贴片模具设有多个间隔的定位槽 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片贴装定位方法,其特征在于,包括:提供一贴片模具(110);其中,所述贴片模具(110)设有多个间隔的定位槽(111),相邻所述定位槽(111)之间形成凸台(113);所述定位槽(111)用于贴装芯片(101);在所述凸台(113)上形成微纳米槽(115);在所述贴片模具(110)上喷涂粘附溶剂(120),以使所述粘附溶剂(120)充满所述定位槽(111);将芯片(101)贴装至所述定位槽(111)中。2.根据权利要求1所述的芯片贴装定位方法,其特征在于,所述提供一贴片模具(110)的步骤包括:提供第一载板(130);在所述第一载板(130)上形成图案化开口(133);在所述图案化开口(133)内填充填料(135)并固化;其中,所述填料(135)采用高分子有机硅化合物;去除所述第一载板(130),固化后的所述高分子有机硅化合物即为所述贴片模具(110)。3.根据权利要求1所述的芯片贴装定位方法,其特征在于,在所述凸台(113)上形成微纳米槽(115)的步骤中:采用飞秒激光在所述凸台(113)表面形成多个气隙槽(117)。4.根据权利要求1所述的芯片贴装定位方法,其特征在于,在所述贴片模具(110)上喷涂粘附溶剂(120),以使所述粘附溶剂(120)充满所述定位槽(111)的步骤中:采用旋转喷涂方式,所述粘附溶剂(120)的表面凸出于所述凸台(113)的表面。5.根据权利要求1所述的芯片贴装定位方法,其特征在于,在所述贴片模具(110)上喷涂粘附溶剂(120)...
【专利技术属性】
技术研发人员:康志龙,姚大平,
申请(专利权)人:江苏中科智芯集成科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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