相控阵SAR天线阵面形变对方向图影响分析方法和系统技术方案

本发明专利技术提供了一种相控阵SAR天线阵面形变对方向图影响分析方法和系统，包括：获取机、电、热三个维度的阵面数据统一到阵面端口二维排布的坐标系中；分别和阵面通道幅相数据叠加得到天线阵面单TR幅相分布数据；从而得到对应的方向图；进而评估不同因素对方向图的影响。本发明专利技术通过将机、电、热三个维度影响因素对TR通道幅相的统一和叠加的方法，构建了相控阵SAR天线多物理场耦合条件下的天线方向图统一场模型，在天线设计前端可用于指标分配，在天线研制过程中可用于误差影响评估及控制，在天线使用过程中可用于天线方向图模型的修正，该方法适用于所有相控阵SAR天线的阵面形变对方向图影响分析。向图影响分析。向图影响分析。

【技术实现步骤摘要】
相控阵SAR天线阵面形变对方向图影响分析方法和系统


[0001]本专利技术涉及SAR天线阵面形变对方向图影响分析领域，具体地，涉及一种相控阵SAR天线阵面形变对方向图影响分析方法和系统。

技术介绍

[0002]相比于传统抛物面SAR天线高射频功率微放电、高压击穿、高温散热难、集中式馈源冗余度低，以及大天线耦合干扰强，扫描速度慢，扫描精度低等特点，相控阵SAR天线具备可靠性高(分布式供电、降低组件功耗和电压)、冗余度高(组件数量多，允许失效率高)、波束切换快速(毫秒级，可一次航过大范围多目标定点观测)的优势。
[0003]期刊雷达学报，第7卷，第4期，2018年8月公开了一种新颖的星载SAR无线内定标方法研究，提出了定标原理和分析模型以及SAR天线TR通道幅相特性和系统传递函数的标定方法。
[0004]期刊现代雷达，第37卷，第10期，2015年10月公开了一种有源相控阵天线快速检测系统设计，该设计基于远场暗室监测系统，通过天线方向图测量手段定位天线故障区域的位置的检测方法。
[0005]专利文献CN112104431A公本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种相控阵SAR天线阵面形变对方向图影响分析方法，其特征在于，包括：步骤S1：获取相控阵SAR天线在机、电、热三个维度的阵面数据；步骤S2：将所述阵面数据统一到阵面端口二维排布的坐标系中；步骤S3：将所述坐标系中的机、热形变位移数据转化为相位变化数据，分别和阵面通道幅相数据叠加得到天线阵面单TR幅相分布数据；步骤S4：对所述天线阵面单TR幅相分布数据处理后得到对应的方向图；步骤S5：分别对比不同影响因素下所述方向图的形状、指向的变化，进而评估不同因素对方向图的影响。2.根据权利要求1所述的相控阵SAR天线阵面形变对方向图影响分析方法，其特征在于，所述机、电、热的阵面数据分别包括天线阵面平面度数据、天线阵面端口幅相数据、天线阵面热变形数据；所述数据叠加根据波长和位移的比例换算成相位变化，进而与端口相位进行叠加。3.根据权利要求2所述的相控阵SAR天线阵面形变对方向图影响分析方法，其特征在于，所述天线阵面平面度数据拟合得到得平面度数据的二维平面，所述天线阵面热变形数据拟合得到热变形数据的二维平面；将所述平面度数据的二维平面、热变形数据的二维平面按端口二维排布进行投影，进而将机、电、热三个维度的阵面数据统一到阵面端口二维排布坐标系中。4.根据权利要求1所述的相控阵SAR天线阵面形变对方向图影响分析方法，其特征在于，步骤S4包括：步骤S4.1：对所述天线阵面单TR幅相分布数据逐行和逐列的计算复数的平均值，分别得到一维的逐行定标复数据和逐列定标复数据；步骤S4.2：对所述逐行定标复数据拟合后得到距离向方向图，对所述逐列定标复数据拟合后得到方位向方向图。5.根据权利要求1所述的相控阵SAR天线阵面形变对方向图影响分析方法，其特征在于，基于星上天线自带的定标网络获取有线传输链路幅相，对于有线链路无法覆盖到的天线阵面部分，通过机、电、热坐标系统一的方式叠加机械形变、热变形对相位的影响。6.一种相控阵...

【专利技术属性】
技术研发人员：涂尚坦，范季夏，党建成，黄金生，艾韶杰，杨金军，任友良，李彪，徐莹，秦冉冉，
申请(专利权)人：上海卫星工程研究所，
类型：发明
国别省市：